【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种结构简单、可耐高温作业的半导体晶片注胶方法和装置。目前,半导体的晶片在注胶时,在外框顶部采用镀金铜箔,切割时需要去除镀金铜箔的注入口,生产成本较高,制作复杂,并且在高温作业时半导体晶片电路容易发生短路,造成故障。本专利技术的目的在于提供一种半导体晶片注胶方法及装置,其生产成本较低,制造容易,可耐高温作业半导体注胶。本专利技术的目的是这样实现的一种半导体晶片注胶方法,它包括以下步骤a.将晶粒粘着在PCB上并进行打线;b.在晶片边角粘贴防焊胶体;c.沿着防焊胶体注胶后卸载防焊胶体;d.进行盖印、植球、去框。一种半导体晶片注胶方法,它包括以下步骤a.在PCB上粘贴防焊胶体;b.将晶粒粘着在防焊胶体中央并进行打线;c.沿着晶片边角注胶后卸载防焊胶体;d.进行盖印、植球、去框。半导体晶片的PCB板上贴设防焊胶体。防焊胶体在封胶后卸载。本专利技术的两种方法使用的防焊胶体具有防焊耐高压耐高温,浮贴在PCB板上,经由晶片边角注胶后,可取下浮贴的防焊胶体。本专利技术的防焊胶体可代替注入口,容易卸除,因此简化了生产,降低了成本,可耐高温作业,避免或减少发生短路或断路的故障。下面结合附图和具体实施方案对本专利技术做进一步的详细说明。附图说明图1为本专利技术的一种实施例示意图;图2为本专利技术的另一种实施例示意图。参见图1、2,为本专利技术的注胶作业采用注胶方法1及方法2的粘着防焊胶带示意图。本专利技术方法1有4个步骤。1、将晶粒粘着在PCB上并进行打线;2、在晶片边角粘贴防焊胶体;3、沿着防焊胶体注胶后卸载防焊胶体;4、进行盖印、植球、去框。本专利技术方 ...
【技术保护点】
一种半导体晶片注胶方法,其特征在于:它包括以下步骤:a.将晶粒粘着在PCB上并进行打线;b.在晶片边角粘贴防焊胶体;c.沿着防焊胶体注胶后卸载防焊胶体;d.进行盖印、植球、去框。
【技术特征摘要】
US 1997-12-9 08/987,4831.一种半导体晶片注胶方法,其特征在于它包括以下步骤a.将晶粒粘着在PCB上并进行打线;b.在晶片边角粘贴防焊胶体;c.沿着防焊胶体注胶后卸载防焊胶体;d.进行盖印、植球、去框。2.一种半导体晶片注胶方法,其...
【专利技术属性】
技术研发人员:谢文乐,
申请(专利权)人:华泰电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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