【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及制造用于薄膜器件如薄膜绝缘栅场效应晶体管(下文简称“薄膜晶体管”或“TFT”)的晶状半导体工艺;本专利技术还涉及使用上述晶状半导体制造半导体器件的工艺。用于薄膜器件如迄今为止公知的TFT的晶状硅半导体薄膜,利用使非晶硅膜晶体化制造。非晶硅膜通过等离子体CVD(化学蒸镀)或热CVD来形成,使用一种装置如电炉;温度保持不低于600℃,延续12小时或更长。只有在使非晶膜经受持续较长的时间的热处理,才可能得到具有充分高质量(如极好的场效应和高可靠性)的晶状硅半导体的薄膜。然而,为获得晶状硅半导体薄膜,已有技术尚需解决许多问题。问题之一是导致工艺成本增加的低生产率。例如,如果结晶的工序要求24小时的持续时间,那么在同时必须加工720个衬底,理想状态下,每个衬底耗费工时2分钟。可是通常管状炉衬底同时热处理最大数量可限制在50,在实际上处理仅仅使用一个装置(反应管)。发现单个衬底完成处理要花费30分钟。换言之,在2分钟内完成每个衬底的反应至少需要15个反应管。这意味着增加花费成本,因此,由于成本过高,增加了产品价格。热处理温度被认为是另一个问题。通常,用石英 ...
【技术保护点】
一种制造半导体的工艺,包括下列步骤: 用旋转涂敷法在整个衬底上形成一层含选自由镍、铁、钴和铂组成的一组中的一种元素的液层; 在整个所述衬底上形成含硅的半导体膜;和 通过加热所述半导体膜往所述半导体膜中加入所述元素,使所述半导体膜晶化。
【技术特征摘要】
JP 1993-2-3 39499/931.一种制造半导体的工艺,包括下列步骤用旋转涂敷法在整个衬底上形成一层含选自由镍、铁、钴和铂组成的一组中的一种元素的液层;在整个所述衬底上形成含硅的半导体膜;和通过加热所述半导体膜往所述半导体膜中加入所述元素,使所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:高山彻,张宏勇,山崎舜平,竹村保彦,
申请(专利权)人:株式会社半导体能源研究所,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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