半导体存储元件的电容器及其制造方法技术

本发明专利技术提供一种能够减少漏电流的发生、具有介电常数高的电介质膜的半导体元件的电容器。本发明专利技术包括在半导体衬底上形成下部电极；在下部电极表面上进行阻止自然氧化膜发生的表面处理。在下部电极上蒸镀作为电介质的（ＴａＯ）↓［１－ｘ］（ＴｉＯ）Ｎ膜。然后，进行使（ＴａＯ）↓［１－ｘ］（ＴｉＯ）Ｎ膜结晶化的热处理工序。之后在（ＴａＯ）↓［１－ｘ］（ＴｉＯ）Ｎ膜上形成上部电极。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体元件的电容器及其制造方法，特别是涉及能够增大电容量同时防止漏电流的半导体元件的电容器及其制造方法。近来，随着构成DRAM半导体元件的存储单元数量的增加，各存储单元的占有面积日益减少。另一方面，为了正确地读出存储数据，各存储单元内形成的电容器必须有足够的容量。因此，现在的DRAM半导体元件要求存储单元形成具有占据面积既小、容量又大的电容器。电容器的静电容量(capacitance)是通过采用高介电常数的绝缘体、或者扩大下部电极表面积来增大的。目前的高集成化的DRAM半导体元件中，采用介电常数比NO(氮化物-氧化物)膜更高的氧化钽膜(Ta2O5)作为电介质，形成三维的下部电极。附图说明图1是显示已有的半导体存储元件的电容器的剖面图。如图1所示，在预定部位形成场氧化膜11的半导体衬底10上，按公知方式形成下部带有栅绝缘膜12的栅电极13。在栅电极13两侧的半导体衬底10上形成结区14而形成MOS晶体管。在形成了MOS晶体管的半导体衬底10上形成第1层间绝缘膜16和第2层间绝缘膜18。在第1和第2层间绝缘膜16、18内形成存储结点接触孔h，以露出结区14。采用公知方式在存储结点接触孔h内形成圆筒状的下部电极20，用以与露出的结区14接触。为了进一步增大下部电极20的表面积，在下部电极20的表面形成HSG(半球形颗粒)膜21。在HSG膜21表面形成氧化钽膜23。之后，在含HSG膜21的下部电极20上蒸镀氧化钽膜23。此时，采用Ta(OC2H5)5这样的有机金属前驱物蒸镀氧化钽膜23。之后，为使氧化钽膜23结晶化，在预定温度热处理氧化钽膜23。采用掺杂多晶硅膜或者金属层在氧化钽膜23上形成上部电极25。但是，由于一般的氧化钽膜具有不稳定的化学计量比(stoichiometry)，所以Ta和O的组成比例产生差异。因此，在薄膜内产生代位型Ta原子即空位原子(vacancy atom)。这种空位原子是氧空位，所以成为产生漏电流的原因。现在，为了去除氧化钽膜内的代位型Ta原子，对氧化钽膜进行进一步氧化工序。但是，当进行这样的氧化工序时，则氧化钽膜与上部和下部电极发生活跃的氧化反应。因此，在氧化钽膜与下部电极或上部电极的界面上形成介电常数低的氧化层，降低了界面的均匀性。而且，不仅导致有效氧化膜厚度增加，制造工序也增多。而且，由于氧化钽膜是通过含碳成分的有机钽前驱物和氧的反应形成的，所以蒸镀工序后，氧化钽膜内残留碳原子C、碳化合物CH4、C2H4和H2O这样的反应副产物。这样的反应副产物诱发漏电流，极大地降低了氧化钽膜的介电强度(dielectric strength)。为了去除这样的反应副产物，一般蒸镀至少2层以上的氧化钽膜，在各蒸镀工序之后，为了去除氧化钽膜内的反应副产物，再进行等离子体处理或UV-O3工序。但是，所述方法存在工序数量增加的缺点。因此，本专利技术的目的在于提供一种能够减少漏电流的发生、具有介电常数高的电介质膜的半导体元件的电容器。本专利技术的另一目的在于，提供一种制造工序能够简化的半导体元件的电容器的制造方法。为了实现上述目的，本专利技术的半导体存储元件的电容器，包括，下部电极；在所述下部电极上形成的电介质膜；和在所述电介质膜上形成的上部电极，其特征在于，所述电介质膜是(TaO)1-x(TiO)N膜。而且，本专利技术的特征在于，包括在半导体衬底上形成下部电极的工序；在所述下部电极上蒸镀作为电介质膜的(TaO)1-x(TiO)N膜的工序；和在所述(TaO)1-x(TiO)N膜上形成上部电极的工序。再有，本专利技术包括在半导体衬底上形成下部电极的工序；对所述下部电极表面进行用于阻止自然氧化膜的产生的表面处理的工序；在所述下部电极上蒸镀作为电介质的(TaO)1-x(TiO)N膜的工序；在释放所述(TaO)1-x(TiO)N膜内杂质的同时进行结晶化的工序；和在所述(TaO)1-x(TiO)N膜上形成上部电极的工序，其特征在于，在保持300-600℃的LPCVD反应室内，在抑制气相反应的同时，通过Ta化学蒸汽、Ti化学蒸汽、NH3气体和O2气体的晶片表面化学反应，形成所述(TaO)1-x(TiO)N膜。图1是已有的半导体存储元件的电容器的剖面图。图2A-图2D是用于说明本实施例的半导体存储元件的电容器制造方法的各工序剖面图。参见图2A，在具有预定导电性的半导体衬底30的预定部位，按公知方式形成场氧化膜31。在半导体衬底30上的预定部位形成底部具有栅绝缘膜32的栅电极33，在栅电极33的两侧按公知方式形成隔离层34。在栅电极33两侧的半导体衬底30上形成结区35而制成MOS晶体管。在形成了MOS晶体管的半导体衬底30上形成第1层间绝缘膜36和第2层间绝缘膜38。之后，对第2和第1层间绝缘膜38、36进行布图，以便露出结区35之中的任一个，形成存储结点接触孔H。形成圆筒状或层叠状的下部电极40，用以与露出的结区35接触。为了增大下部电极40的表面积，采用公知方法在下部电极40的表面形成HSG膜41。之后，在含有HSG膜41的下部电极40与以后形成的电介质膜(图中无显示)之间的界面上，为了阻止产生低介电常数的自然氧化膜，对含有HSG膜41的下部电极40和第2层间绝缘膜38进行表面处理。可以采用各种方法进行这种表面处理。其中一种方法是在具有NH3气体或N2／H2气体气氛的LPCVD(低压化学汽相淀积)反应室内，就地采用等离子体在300-600℃的温度下进行热处理。而且，表面处理的其他方法是在NH3气体气氛和500-1000℃的温度下进行RTN，或者在同样条件下进行反应室热处理。表面处理的其他方法是采用HF蒸汽(HF vapor)、HF溶液(solution)或者含HF的化合物对下部电极表面进行清洗处理。这时，在清洗处理之前或之后，可以采用NH4OH溶液或H2SO4溶液等进行进一步的界面处理。总之，在N2O或O2气体气氛中进行热处理，可以改善下部电极40表面的由悬空键引起的结构缺陷以及不均匀性，抑制自然氧化膜的产生。这里，在利用NH3气体气氛下的等离子体进行热处理、RTN或反应室内的热处理的情况，在含HSG膜41的下部电极40和第2层间绝缘膜38上自然地形成氮化硅膜42。总之，通过表面处理不能自然地形成氮化硅膜的情况，在表面处理之后，在含HSG膜41的下部电极40和第2层间绝缘膜38上人为地蒸镀抑制自然氧化膜用的氮化硅膜42。参见图2B，在氮化硅膜42上形成作为电介质的(TaO)1-x(TiO)N膜(43∶0．01≤x≤0．09)。在保持300-600℃的LPCVD反应室内，通过Ta化学蒸汽、Ti化学蒸汽、NH3气体和O2气体的化学反应，形成(TaO)1-x(TiO)N膜43。这里，对Ta(OC2H5)5(乙醇钽)、Ta(N(CH3)2)5(戊-二甲基-氨基-钽)这样的前驱物定量化后，用保持140-200℃的温度的蒸发管进行蒸发获得Ta化学蒸汽，对Ti[OCH(CH3)2]4(异丙醇钛)、TiCl4、TDMAT(四-二甲基酰氨基-钛)、TDEAT(四-二乙基酰氨基-钛)等这样的前驱物定量化后，用保持200-300℃的温度的蒸发管进行蒸发获得Ti化学蒸汽。此时，按Ti／Ta为0．01-1的摩尔比供给Ta化学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体存储元件的电容器，包括： 下部电极， 在所述下部电极上形成的电介质膜；和 在所述电介质膜上形成的上部电极， 其特征在于，所述电介质膜是（ＴａＯ）↓［１－ｘ］（ＴｉＯ）Ｎ膜。

【技术特征摘要】
KR 1999-7-1 26386/991．一种半导体存储元件的电容器，包括下部电极，在所述下部电极上形成的电介质膜；和在所述电介质膜上形成的上部电极，其特征在于，所述电介质膜是(TaO)1-x(TiO)N膜。2．根据权利要求1的半导体存储元件的电容器，其特征在于，在所述下部电极与所述电介质膜之间还插入氮化硅膜。3．根据权利要求1的半导体存储元件的电容器，其特征在于，所述下部电极是在表面具有布图的圆柱形结构。4．根据权利要求1的半导体存储元件的电容器，其特征在于，所述下部电极是在表面具有布图的层叠结构。5．根据权利要求1的半导体存储元件的电容器，其特征在于，所述下部电极或所述上部电极是由掺杂多晶硅膜制成的。6．根据权利要求1的半导体存储元件的电容器，其特征在于，所述上部电极是由金属层制成的。7．根据权利要求6的半导体存储元件的电容器，其特征在于，所述金属层是TiN、TaN、W、WN、WSi、Ru、RuO2、Ir、IrO2、Pt中的任意一种。8．一种半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，包括在半导体衬底上形成下部电极的工序；在所述下部电极上蒸镀作为电介质膜的(TaO)1-x(TiO)N膜的工序；和在所述(TaO)1-x(TiO)N膜上形成上部电极的工序。9．根据权利要求8的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，在保持300-600℃的LPCVD反应室内，在抑制气相反应的同时，利用Ta化学蒸汽、Ti化学蒸汽、NH3气体和O2气体的晶片表面化学反应，形成所述(TaO)1-x(TiO)N膜。10．根据权利要求9的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，按Ti／Ta为0．01-1的摩尔比供给所述Ta化学蒸汽和Ti化学蒸汽。11．根据权利要求10的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，在140-220℃的温度蒸发含钽的有机金属前驱物，从而获得所述Ta化学蒸汽。12．根据权利要求11的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，所述含钽的有机金属前驱物是Ta(OC2H5)5或者Ta(N(CH3)2)5。13．根据权利要求10的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，在200-300℃的温度蒸发含钛的有机金属前驱物，从而获得所述Ti化学蒸汽。14．根据权利要求13的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，所述含钛的有机金属前驱物是Ti[OCH(CH3)2]4、TiCl4、TDMAT和TDEAT中的任一种。15．根据权利要求9的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，只按10-1000sccm的范围供给所述NH3气体和O2气体。16．根据权利要求8的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，在所述下部电极的形成工序和所述(TaO)1-x(TiO)N膜蒸镀工序之间，对所述下部电极表面再进行阻止自然氧化膜发生的表面处理。17．根据权利要求16的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，所述表面处理是在采用具有NH3气体或N2／H2气体气氛的等离子体LPCVD(低压化学汽相淀积)反应室内，在300-600℃进行热处理。18．根据权利要求16的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，所述表面处理是在具有NH3气体气氛的反应室内，在500-1000℃进行RTN处理。19．根据权利要求16的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，所述表面处理是在具有NH3气体气氛的电炉内，在500-1000℃进行热处理。20．根据权利要求16的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，所述表面处理是采用HF蒸汽、HF溶液或者含有HF的化合物，清洗下部电极表面。21．根据权利要求20的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，在所述清洗工序之前或之后，利用NH4OH溶液或者H2SO4溶液等再进行界面处理。22．根据权利要求16的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，所述表面处理是在N2O或O2气氛中进行热处理。23．根据权利要求8的半导体存储元件的电容器的制造方法，其特征在于，在所述(TaO)1-x(TiO)N膜...

【专利技术属性】
技术研发人员：李起正，金东俊，
申请(专利权)人：现代电子产业株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]