【技术实现步骤摘要】
一种VB法与VGF法结合快速生长低位错砷化镓单晶的生长装置及方法
[0001]本专利技术属于化合物半导体晶体生长领域,特别是一种VB法与VGF法结合快速生长低位错砷化镓单晶的生长装置及方法。
技术介绍
[0002]在当今人工智能、5G通信和外太空的迅速发展,砷化镓材料发挥着越来越重要的作用,特别是红外/红外光电器件、太阳能器件和微波器件等发挥着越来越重要的作用。随着砷化镓IC集成度的提高和降低成本的需要,砷化镓的总的发展趋势趋于大直径、长尺寸、电学参数均匀性和一致性,所以对产品批次一致性要求更为严格。目前行业存在的问题是晶体长度普遍小于150mm,一旦晶体长度较长时,就会导致位错密度显著提高,边缘位错密集严重。同时双晶影响成品率的占比比较大,影响合格率。
[0003]目前砷化镓单晶放肩普遍采用的是VGF法方式,而我们采用VB法与VGF法结合的放肩,不但能生长超低位错的晶体,而且与传统放肩时间在62~83小时左右相比,本专利放肩时间至少缩短了约20%。传统等径VB走拉速约为1.4~1.7mm/小时,本专利等径拉速为2. ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种VB法与VGF法结合快速生长低位错砷化镓单晶的生长装置,其特征在于,由炉体、石墨底座、PBN坩埚和提升装置组成;所述炉体包括6个加热区域和控制加热区域温度的6个温控装置,从下到上依次为第一区、第二区、第三区、第四区、第五区和第六区;石墨底座通过支撑底座设置于地面上;PBN坩埚设置于石英安瓶内,石英安瓶设置于石墨底座上;提升装置与炉体连接,能够拉动炉体以一定的拉速提升;炉体与PBN坩埚之间设置有石英罩,石英罩与支撑底座连接。2.根据权利要求1所述的VB法与VGF法结合快速生长低位错砷化镓单晶的生长装置,其特征在于,所述第一区、第二区、第三区、第四区、第五区和第六区分别设置测温热偶;PBN坩埚的籽晶的头部和尾部、放肩部分末端和晶体生长尾部也分别设测温热电偶。3.根据权利要求2所述的VB法与VGF法结合快速生长低位错砷化镓单晶的生长装置,其特征在于,所述测温热电偶采用R型热电偶。4.一种VB法与VGF法结合快速生长低位错砷化镓单晶的方法,包括以下步骤:步骤1,装炉和热偶:将籽晶、氧化硼、砷粒和带有硅片的砷化镓回料分别装入PBN坩埚中,放入石英管内抽真空后密封,使该坩埚内的砷化镓回料对应该第三区;步骤2,坩埚和氧化硼的预热:开启加热器升温,经过半个小时加热到300℃,保持4小时;步骤3,化上部料:加热升温到第一区950℃、第二区1030℃、第三区1180℃、第...
【专利技术属性】
技术研发人员:韩家贤,王顺金,韦华,赵兴凯,陈娅君,何永彬,柳廷龙,刘汉保,黄平,陈飞鸿,李国芳,
申请(专利权)人:云南中科鑫圆晶体材料有限公司云南临沧鑫圆锗业股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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