包括运行速度检测装置的系统、运行速度检测装置及其方法制造方法及图纸

一种包括运行速度检测装置的系统、运行速度检测装置及其方法。在范例性的方法中，可以延迟所接收的时钟信号以产生多个被延迟的时钟信号。在所述多个被延迟的时钟信号和所接收的时钟信号的基础上可以产生多个检测信号。可以至少部分地基于所述多个检测信号确定（例如，系统的）运行速度。在例子中，可以使用运行速度检测装置执行该范例性方法。在另一个例子中，可以使用包括所述运行速度检测装置的系统执行该范例性方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的范例性实施例一般涉及一种。
技术介绍
在移动电子设备中，设计过程的要素是低功耗和多功能性。多功能的移动电子设备可以使用实时处理(例如，显示视频图像、接收广播信号等)，这可以增加对设备的硬件的要求(例如，存储器容量、处理器速度等)。可以包括在移动电子设备中的半导体芯片可以根据较高速度的时钟信号而运行(例如，对于同步处理)。因此，半导体芯片的可靠性可以至少部分地基于半导体芯片中内部时钟信号的可靠性。如果提供半导体芯片运行状态信息以指出半导体芯片内的电路是如何响应给出的时钟信号运行的，那么，通过经过调整器调节时钟信号的频率和/或内部电压，可以增加半导体芯片的运行速度(例如，处理器频率)和/或降低半导体芯片的功耗。利用传统的方法，使用具有给定频率或速度的时钟信号的半导体芯片的操作可以利用用于规定系统响应速度和相关功耗之间的关系(例如，表示为等式)的表。在另一个例子中，经过实地测试和/或实验获得的实际数据可以组装成表。例如，由于半导体制造工艺的变化、局部运行温度的差异、芯片运行电压的不同和/或其它结构和/或环境因素，同一系统中具有相同功能的半导体芯片可以运行于不同的速度和/或频率。包括温度传感器的传统半导体存储器可以基于由温度传感器检测的运行温度来控制电源。但是，温度传感器可能增加半导体存储器的制造成本和芯片尺寸。
技术实现思路
本专利技术的范例性实施例提供一种用于检测运行速度的运行速度检测装置，包括延迟块，用于延迟时钟信号以产生多个被延迟的时钟信号；检测块，用于在时钟信号和多个被延迟的时钟信号的基础上输出多个表示运行速度的检测信号。本专利技术的另一个范例性实施例提供了一种系统，包括响应时钟信号而运行的多个功能块，以及用于检测所述多个功能块运行速度的运行速度检测装置。本专利技术的再一个范例性实施例提供一种用于检测运行速度的方法，包括延迟所接收的时钟信号以产生多个被延迟的时钟信号；在所述多个被延迟的时钟信号和所接收的时钟信号的基础上产生多个检测信号并至少部分地基于所述多个检测信号确定运行速度。附图说明包括附图以提供对本专利技术范例性实施例的进一步的理解，并构成说明书的一部分。附图示出了本专利技术的范例性实施例并与说明书一起解释本专利技术的原理。图1的框图示出了根据本专利技术范例性实施例的运行速度检测装置；图2的电路示出了根据本专利技术另一范例性实施例的延迟块；图3的电路示出了根据本专利技术再一范例性实施例的检测块；图4的框图示出了根据本专利技术另一范例性实施例的确定块；和图5的框图示出了根据本专利技术再一范例性实施例的包括图1所示速度检测装置的系统。具体实施例方式这里，详细披露了本专利技术的范例性实施例。但是，这里所详细描述的特定结构和功能只不过是用于描述本专利技术范例性实施例的目的。但是，本专利技术的范例性实施例可以利用多种不同形式实施并且不被作为对这里所描述实施例的限制。因此，在本专利技术的范例性实施例被容许各种修改和不同形式的同时，借助于附图中的举例示出了特定实施例并详细加以描述。但是，应当理解，这并不是试图将本专利技术的范例性实施例限制到所描述的特定形式，相反，本专利技术覆盖落入本专利技术精神和范围以内的所有修改、等效物和替换。应当理解，尽管这里可以使用术语第一、第二等来描述各种元件，但是，这些元件也不受这些术语的限制。这些术语仅仅被用于彼此识别元件。例如，第一元件可以被称之为第二元件，类似的，第二元件也可以被称之为第一元件，这都不脱离本专利技术的范围。如在这里所使用的，术语“和/或”包括一个或多个相关列表项的任一和所有组合。应当理解，当一个元件被称做“连接到”、“安装到”、“在”或者“耦合到”另一个元件上时，它可以是被直接连接/安装/在/耦合到该另一个元件上，也可以是存在中介元件。相反，当一个元件被称做“直接连接”、“直接安装”、“直接在”、“直接耦合到”另一个元件上时，则不存在中介元件。用于描述元件之间关系的其它词汇以类似的方式加以解释(即，“之间”相对“直接之间”、“相邻”相对“直接相邻”等)。这里所使用的术语仅仅是为了描述特定实施例的目的，并不试图对本专利技术的范例性实施例做出限制。如这里所使用的，单数形式“一”、“一个”和“该”试图包括复数形式，除非上下文有明确的相反表示。还应当理解，当在这里使用时，术语“包含”、“包括”、“包含有”和“包括有”规定存在所描述的特性、整数、步骤、操作、元件和/或成分，但不排除存在或附加一个或多个其它特性、整数、步骤、操作、元件和、成分和/或它们的组合。除非其他的规定，这里所使用的所有术语(包括技术和科学术语)都具有本专利技术范例性实施例所属现有
内的普通技术人员通常所理解的相同含义。还应当理解，诸如在通用词典中定义的术语都应当被解释为具有与其相关技术上下文中的含义相一致的含义，并且除非这里另有定义，这些术语不做理想地和过分地解释。下面将结合附图详细描述本专利技术的范例性实施例。在整个附图中，相同的附图标记表示相同的元件。图1的框图示出了根据本专利技术范例性实施例的运行速度检测装置100。在图1的范例性实施例中，运行速度检测装置100可以检测响应时钟信号正在运行系统的运行速度。运行速度检测装置100可以包括延迟块110和用于检测运行速度的检测块120。在另一个例子中，运行速度检测装置100可以包括确定块130。但是，应当理解，其它的范例性实施例也可以提供一种包括延迟块110和检测块120而不包括确定块130的运行速度检测装置。在图1的范例性实施例中，延迟块110可以基于单位时间延迟时钟信号IN以输出第一到第N延迟信号Del 1到Del N。在一个例子中，第一到第N延迟信号Del 1到Del N可以被延迟不同倍数的单位时间。在图1的范例性实施例中，检测块120可以基于第一到第N延迟信号Del1到Del N和时钟信号IN而输出第一到第N检测信号Det 1到Det N。在图1的范例性实施例中，确定块130可以基于第一到第N检测信号Det1到Det N而确定系统的运行速度。确定块130可以输出表示被确定的运行速度的输出信号OUT。图2的电路示出了根据本专利技术另一个范例性实施例的图1中示出的延迟块110。在图2的范例性实施例中，延迟块110可以包括第一到第N延迟电路111到113。第一延迟电路111可以将时钟信号IN延迟所述单位时间，以便产生和输出第一延迟信号Del 1。第二延迟电路112可以将第一延迟信号Del 1延迟所述单位时间以产生和输出第二延迟信号Del 2。第N延迟电路113可以将第(N-1)延迟信号Del(N-1)(未示出)延迟所述单位时间以产生和输出第N延迟信号Del N。这样，第一到第N延迟电路111到113中的每一个都可以输出延迟了单位时间倍数的时钟信号IN(例如，其中所述延迟可以是单位时间的连续倍数，诸如1*单位时间，2*单位时间，...，N*单位时间)。在本专利技术的另一范例性实施例中，参看图2，第一到第N延迟电路中的每一个都可以作为缓冲器来执行。可以基于应用规定标准设置所述单位时间。下面假设所述单位时间是1毫微妙(ns)。应当理解，本专利技术的其它范例性实施例可以对于任何其它单位时间而被构成。图3的电路示出了根据本专利技术另一示例实施例的图1中的检测块120。在图3所示的范例性实施例中，检测块130可以包括第一到第N检测电路1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测运行速度的运行速度检测装置，包括：延迟块，用于延迟时钟信号以产生多个被延迟的时钟信号；和检测块，用于在所述时钟信号和所述多个被延迟的时钟信号的基础上输出表示运行速度的多个检测信号。

【技术特征摘要】
KR 2005-2-12 11735/051.一种用于检测运行速度的运行速度检测装置，包括延迟块，用于延迟时钟信号以产生多个被延迟的时钟信号；和检测块，用于在所述时钟信号和所述多个被延迟的时钟信号的基础上输出表示运行速度的多个检测信号。2.如权利要求1所述的装置，其中，所述多个被延迟的时钟信号包括第一到第N延迟信号和所述多个检测信号包括第一到第N检测信号，N是大于或等于1的整数。3.如权利要求2所述的装置，其中，所述延迟块包括第一延迟电路，用于将所述时钟信号延迟单位时间以产生第一延迟信号；第二延迟电路，用于将第一延迟信号延迟所述单位时间以产生第二延迟信号；和第N延迟电路，用于将所接收的第(N-1)延迟信号延迟所述单位时间以产生第N延迟信号。4.如权利要求3所述的装置，其中，第一到第N延迟电路中的每一个都包括缓冲器。5.如权利要求3所述的装置，其中，所述单位时间是1毫微妙。6.如权利要求3所述的装置，其中，所述检测块包括第一检测电路，用于将第一延迟信号与时钟信号相比较并基于该比较输出第一检测信号；第二检测电路，用于将第二延迟信号与时钟信号相比较并基于该比较输出第二检测信号；和第N检测电路，用于将第N延迟信号与时钟信号相比较并基于该比较输出第N检测信号。7.如权利要求6所述的装置，其中，第一到第N检测电路中的每一个包括至少一个布尔逻辑门。8.如权利要求7所述的装置，其中，所述至少一个布尔逻辑门包括异或门。9.如权利要求1所述的装置，还包括确定块，用于在所述多个检测信号的基础上确定运行速度。10.如权利要求9所述的装置，其中，所述确定块包括多路转换器，用于选择多个检测信号中的至少一个；确定电路，用于在至少一个所选择的检测信号的基础上确定运行速度；和状态寄存器，用于执行存储和/或输出由所述确定电路确定的运行速度中的至少一个。11.一种包括响应时钟信号而运行的多个功能块的系统，包括运行速度检测装置，用于检测所述多个功能块的运行速度。12.如权利要求11所述的系统，其中，在由所述运行速度检测装置检测的运行速度的基础上调节系统的操作电压。13.如权利要求11所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：河炫旭，卢钟镐，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]