本发明专利技术公开了一种温度采样校正电路、温度采样装置和车辆，所述温度采样校正电路包括：分压单元、分压校正单元、放大校正单元和运算放大单元，其中，分压单元包括热敏电阻，分压单元用于对热敏电阻上的电压进行分压，输出分压电压；分压校正单元用于根据热敏电阻感应到的温度变化对分压电压进行校正，输出校正电压；放大校正单元用于根据校正电压确定放大校正单元的输出放大系数；运算放大单元用于根据输出放大系数对校正电压进行放大处理，输出温度采样电压。由此，该校正电路提高了在全温度采样范围内温度检测的精准度，无需控制芯片参与温度采样控制，电路简单，成本较低。成本较低。成本较低。
【技术实现步骤摘要】
温度采样校正电路、温度采样装置和车辆
[0001]本专利技术涉及温度检测
，尤其涉及一种温度采样校正电路、一种温度采样装置和一种车辆。
技术介绍
[0002]在电动车辆上，为了保护电机、电池等部件，防止电机、电池过热失控损坏，通常需要进行温度监测。当电机出现过热时，通过降低电机输出功率、增大冷却流量等手段，防止电机进一步升温对电机造成损坏，避免车辆失去动力，保障车上人员安全。
[0003]相关技术中，采用热敏电阻与电阻串联的方式采样温度或者，采用控制芯片设置可编程运算放大器，对输出电压进行放大的方式采样温度，或者，采用控制芯片设置开关切换电路的方式采样温度。上述多个方式的温度采样电路具有在全温度采样范围内的采样精准度不高、控制难度大和电路成本高的问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的第一个目的在于提出一种温度采样校正电路，根据热敏电阻感应到的温度变化对热敏电阻的分压电压进行校正，以获得校正电压，并对校正电压进行放大处理，提高了在全温度采样范围内温度检测的精准度，无需控制芯片参与温度采样控制，电路简单，成本较低。
[0005]本专利技术的第二个目的在于提出一种温度采样装置。
[0006]本专利技术的第三个目的在于提出一种车辆。
[0007]为达上述目的，本专利技术第一方面实施例提出了一种温度采样校正电路，该电路包括：分压单元、分压校正单元、放大校正单元和运算放大单元，其中，分压单元包括热敏电阻，分压单元用于对热敏电阻上的电压进行分压，输出分压电压；分压校正单元用于根据热敏电阻感应到的温度变化对分压电压进行校正，输出校正电压；放大校正单元用于根据校正电压确定放大校正单元的输出放大系数；运算放大单元用于根据输出放大系数对校正电压进行放大处理，输出温度采样电压；其中，分压校正单元包括：第一二极管和第一电阻，第一二极管的阳极与热敏电阻的一端相连且具有第一节点，第一二极管的阴极与第一电阻的一端相连，第一电阻的另一端与热敏电阻的另一端相连后接地；放大校正单元包括：第二电阻，第二电阻的一端与第一节点相连；第二二极管，第二二极管的阳极与第一节点相连；第三电阻，第三电阻的一端与第二二极管的阴极相连，第三电阻的另一端与第二电阻的另一端相连且具有第二节点，第二节点与运算放大单元的反相输入端相连；第四电阻，第四电阻的一端与第二节点相连，第四电阻的另一端与运算放大单元的输出端相连。
[0008]根据本专利技术实施例的温度采样校正电路，分压单元对热敏电阻上的电压进行分压，并输出分压电压至放大校正单元，放大校正单元根据热敏电阻感应到的温度变化对分压电压进行校正，并输出校正电压至放大校正单元，放大校正单元根据校正电压确定放大校正单元的输出放大系数，使得运算放大单元根据输出放大系数对校正电压进行放大处
理，并输出温度采样电压。由此，该校正电路提高了在全温度采样范围内温度检测的精准度，无需控制芯片参与温度采样控制，电路简单，成本较低。
[0009]另外，根据本专利技术上述实施例的温度采样校正电路，还可以具有如下附加特征：根据本专利技术的一个实施例，分压单元还包括分压电阻，分压电阻的一端连接到第一参考电源，分压电阻的另一端与热敏电阻的一端相连。
[0010]根据本专利技术的一个实施例，运算放大单元包括：第五电阻，第五电阻的一端连接到第二参考电源；第六电阻，第六电阻的一端与第五电阻的另一端相连且具有第三节点，第六电阻的另一端接地；第一运算放大器，第一运算放大器的反相输入端与第二节点相连，第一运算放大器的同相输入端与第三节点相连，第一运算放大器的输出端作为运算放大单元的输出端。
[0011]根据本专利技术的一个实施例，热敏电阻为NTC（Negative Temperature Coefficient，负温度系数）热敏电阻。
[0012]为达上述目的，本专利技术第二方面实施例提出了一种温度采样装置，该装置包括：上述实施例描述的温度采样校正电路；A/D（Analog to Digital Converter，模电/数电转换）采样转换单元，A/D采样转换单元用于对温度采样校正电路输出的温度采样电压进行A/D采样，以获得热敏电阻感应到的温度。
[0013]根据本专利技术实施例的温度采样装置，通过温度采样校正电路获得温度采样电压，A/D采样转换单元对温度采样电压进行A/D采样，获得热敏电阻感应到的温度。由此，提高了在全温度采样范围内的温度检测的精准度，降低了控制难度和电路成本。
[0014]根据本专利技术的一个实施例，温度采样装置还包括设置在温度采样校正电路与A/D采样转换单元之间的差分放大单元，差分放大单元用于对温度采样校正电路输出的温度采样电压进行差分放大，以便A/D采样转换单元对差分放大后的温度采样电压进行A/D采样。
[0015]根据本专利技术的一个实施例，差分放大单元包括：第七电阻，第七电阻的一端与温度采样校正电路的输出端相连；第八电阻，第八电阻的一端与第七电阻的另一端相连且具有第四节点，第八电阻的另一端连接到第三参考电源；第九电阻，第九电阻的一端连接到第四参考电源；第十电阻，第十电阻的一端与第九电阻的另一端相连且具有第五节点；第二运算放大器，第二运算放大器的同相输入端与第四节点相连，第二运算放大器的反相输入端与第五节点相连，第二运算放大器的输出端与第十电阻的另一端相连。
[0016]为达上述目的，本专利技术第三方面实施例提出了一种车辆，该车辆包括上述实施例描述的温度采样装置。
[0017]根据本专利技术实施例的车辆，通过上述实施例描述的温度采样装置，提高了在全温度采样范围内的温度检测的精准度，降低了控制难度和电路成本。
[0018]本专利技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0019]图1为根据本专利技术一个实施例的温度采样校正电路的方框示意图；图2为根据本专利技术一个实施例的温度采样校正电路的电路图；图3为根据本专利技术一个实施例的温度采样装置的方框示意图；
图4为根据本专利技术一个实施例的温度采样装置的电路图；图5为根据本专利技术一个具体实施例的温度电压曲线图；图6为根据本专利技术实施例的车辆的方框示意图。
具体实施方式
[0020]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0021]下面参考附图描述本专利技术实施例的温度采样校正电路。
[0022]图1为根据本专利技术一个实施例的温度采样校正电路的方框示意图。参考图1所示，该温度采样校正电路包括：分压单元110、分压校正单元120、放大校正单元130和运算放大单元140。
[0023]其中，分压单元110可包括热敏电阻，分压单元110用于对热敏电阻上的电压进行分压，输出分压电压；分压校正单元120本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种温度采样校正电路，其特征在于，包括：分压单元、分压校正单元、放大校正单元和运算放大单元，其中，所述分压单元包括热敏电阻，所述分压单元用于对所述热敏电阻上的电压进行分压，输出分压电压；所述分压校正单元用于根据所述热敏电阻感应到的温度变化对所述分压电压进行校正，输出校正电压；所述放大校正单元用于根据所述校正电压确定所述放大校正单元的输出放大系数；所述运算放大单元用于根据所述输出放大系数对所述校正电压进行放大处理，输出温度采样电压；其中，所述分压校正单元包括：第一二极管和第一电阻，所述第一二极管的阳极与所述热敏电阻的一端相连且具有第一节点，所述第一二极管的阴极与所述第一电阻的一端相连，所述第一电阻的另一端与所述热敏电阻的另一端相连后接地；所述放大校正单元包括：第二电阻，所述第二电阻的一端与所述第一节点相连；第二二极管，所述第二二极管的阳极与所述第一节点相连；第三电阻，所述第三电阻的一端与所述第二二极管的阴极相连，所述第三电阻的另一端与所述第二电阻的另一端相连且具有第二节点，所述第二节点与所述运算放大单元的反相输入端相连；第四电阻，所述第四电阻的一端与所述第二节点相连，所述第四电阻的另一端与所述运算放大单元的输出端相连。2.如权利要求1所述的温度采样校正电路，其特征在于，所述分压单元还包括分压电阻，所述分压电阻的一端连接到第一参考电源，所述分压电阻的另一端与所述热敏电阻的一端相连。3.如权利要求1所述的温度采样校正电路，其特征在于，所述运算放大单元包括：第五电阻，所述第五电阻的一端连接到第二参考电源；第六电阻，所述第六电阻的一端与所述第五电阻的另一端相连且具有第三节点，所述第六电阻的另一端接地；第一运算放大器，所述第一运算...
【专利技术属性】
技术研发人员：林广镇，陈小江，唐子威，
申请(专利权)人：如果科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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