一种多通道扫描式温度测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种多通道扫描式温度测量装置，包括：通过双ADC交叉采样测量方法，引入两个ADC同时对标准电阻和热敏电阻两端的电压进行采集，以消除分时采集带来的误差，但是引入两个ADC同时也会引入由两个ADC性能不同带来的误差，因此采用交叉采样法，首先第一ADC采集标准电阻两端电压，同时第二ADC采集热敏电阻两端电压；之后第一ADC采集热敏电阻两端电压，同时第二ADC采集标准电阻两端电压，减少引入两个ADC带来的误差。同时结合使用了引入标准电阻进行对比测量、恒流源倒向法、平滑滤波法、设置隔离等技术手段。本发明专利技术消除了单ADC分时对标准电阻和热敏电阻进行对比测量过程中由恒流源输出电流不稳定带来的误差，同时简化了恒流源的设计。恒流源的设计。恒流源的设计。

【技术实现步骤摘要】
一种多通道扫描式温度测量装置


[0001]本专利技术属于温度测量
，更具体地，涉及一种多通道扫描式温度测量装置。

技术介绍

[0002]现有技术使用热敏电阻进行温度测量的电路设计，采用的基本原理是欧姆定律，通过测量热敏电阻两端的电压得到电阻的阻值，随后根据热敏电阻随温度变化阻值变化的特性实现温度的测量。但是实现方式并不完全相同，现有技术中为得到高精度的温度测量值，采用引入标准电阻进行对比测量、恒流源倒向法以及算法上优化等消除测量误差的方法，但是这些技术手段消除的误差有限，无法达到mK甚至更高等级的温度测量精度。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的缺陷，本专利技术的目的在于提供一种多通道扫描式温度测量装置，旨在解决mK甚至更高等级精度的温度测量的问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供一种多通道扫描式温度测量装置，包括：控制模块、采集模块以及N个测温模块；其中，所述采集模块连接N个测温模块，每个测温模块放置于待测温度的空间内，不同的测温模块可以放置于不同的待测温度空间内；N为大于1的整数；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多通道扫描式温度测量装置，其特征在于，包括：控制模块、采集模块以及N个测温模块；其中，所述采集模块连接N个测温模块，每个测温模块放置于待测温度的空间内，不同的测温模块可以放置于不同的待测温度空间内；N为大于1的整数；采集模块包括：第一ADC、第二ADC以及标准电阻；每个测温模块包括：热敏电阻；所述标准电阻分别和各个测温模块的热敏电阻串联，组成N个串联支路；所述标准电阻的阻值不会随着温度而变化，热敏电阻的阻值随着温度的变化而变化；所述控制模块控制N个串联支路扫描式循环导通，采集模块扫描式循环采集各个串联支路中的标准电阻和热敏电阻两端的电压数据；采集模块采集其中一个串联支路中的标准电阻和热敏电阻两端的电压数据，具体为：首先对标准电阻和热敏电阻两端通入正向电流，使用第一ADC采集标准电阻两端的电压，同时使用第二ADC采集热敏电阻两端的电压；然后对标准电阻和热敏电阻两端通入反向电流，使用第一ADC采集标准电阻两端的电压，同时使用第二ADC采集热敏电阻两端的电压；之后依然对标准电阻和热敏电阻两端通入反向电流，使用第一ADC采集热敏电阻两端的电压，同时使用第二ADC采集标准电阻两端的电压；然后对标准电阻和热敏电阻两端通入正向电流，使用第一ADC采集热敏电阻两端的电压，同时使用第二ADC采集标准电阻两端的电压；所述控制模块分别基于各个串联支路对应的八个电压数据和所述标准电阻的阻值确定各个串联支路中的热敏电阻阻值，并基于各个热敏电阻阻值和热敏电阻的类型确定对应的测温模块所在空间点的温度。2.根据权利要求1所述的多通道扫描式温度测量装置，其特征在于，控制模块基于采集模块采集到一个串联支路的八个电压数据和所述标准电阻的阻值确定热敏电阻的阻值，具体为：其中，RL为热敏电阻的阻值，RS为标准电阻的阻值，U
RL1
为通入正向电流时第二ADC采集的热敏电阻两端的电压值，U
RL2
为通入反向电流时第二ADC采集的热敏电阻两端的电压值，U
RL3
为通入反向电流时第一ADC采集的热敏电阻两端的电压值，U
RL4
为通入正向电流时第一ADC采集的热敏电阻两端的电压值，U
RS1
为通入正向电流时第一ADC采集的标准电阻两端的电压值，U
RS2
为通入反向电流时第一ADC采集的标准电阻两端的电压值，U
RS3
为通入反向电流时第二ADC采集的标准电阻两端的电压值，U
RS4<...

【专利技术属性】
技术研发人员：李小平，徐毅之，贾留鹏，王锦春，
申请(专利权)人：武汉智能装备工业技术研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：