【技术实现步骤摘要】
一种双层铜片氧化治具及氧化方法
[0001]本专利技术涉及覆铜陶瓷基板制备
,具体是一种双层铜片氧化治具及氧化方法。
技术介绍
[0002]覆铜陶瓷基板是利用DCB技术将铜片烧结在陶瓷表面而制成的一种电子基础材料;DBC工艺过程中利用了氧化亚铜共晶液,因此烧结前必须对铜片表面进行氧化处理,使铜片表面形成一层均匀致密的氧化层;目前常用的铜片氧化方式存在的问题:
[0003]铜片烧结面要求具有均匀的氧化层,需要在一定温度下通入定量的氧气,但氧气过多的从会影响铜片非烧结面边缘处表面状态,会引起疙瘩、皱皮等缺陷,影响产品外观品质及后工序;通过降低氧气通入量,可以改善铜片非烧结面表面状态,但由于氧气减少,铜片烧结面的氧化层不均匀且厚度变簿,会增加烧结气泡;
[0004]目前铜片的氧化大多采用底部氧化或者顶部氧化的单次单面的方式,只能氧化一面,在设备产能受限的情况下不能满足增产的需求,影响效率。
[0005]DBC工艺过程中接触层铜和氧化亚铜会形成液相,而陶瓷基片氧化形成的表面不致密的氧化铝薄膜,液相从疏松的氧化膜渗透与氮化铝接触,反应并产生氮气,无法排出气体,在陶瓷层和铜片之间会产生小气泡和鼓包,降低铜片和陶瓷层的结合强度。
技术实现思路
[0006]本专利技术的目的在于提供一种双层铜片氧化治具及氧化方法,以解决现有技术中的问题。
[0007]为了解决上述技术问题,本专利技术提供如下技术方案:
[0008]一种双层铜片氧化治具,包括上矩形框架和下矩形框架,所述上矩形 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种双层铜片氧化治具,其特征在于:包括上矩形框架(1)和下矩形框架(2),所述上矩形框架(1)和下矩形框架(2)通过两个侧板(3)连接,两个所述侧板(3)相对设置,两个所述侧板(3)上均开设有若干通气孔(4)。2.一种采用权利要求1公开的氧化治具氧化铜片的氧化方法,其特征在于:所述氧化方法包括如下步骤:将两个待氧化铜片(5)分别放置在双层铜片氧化治具的上矩形框架(1)和下矩形框架(2)上,通过传送带进入氧化炉中,所述双层铜片氧化治具的底部和顶部同时通入氧气、氮气,对双层铜片氧化治具上的上下两层待氧化铜片(5)同时氧化,得到双层氧化后铜片。3.根据权利要求2所述的氧化方法,其特征在于:所述双层铜片氧化治具经由传送带依次通过氧化炉的进口、升温区、冷却区、出口,所述升温区包括十一个温区,各区温度设置如下:一区540
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560℃、二区690
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710℃、三区790
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810℃、四区790
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810℃、五区740
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760℃、六区695
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715℃、七区666
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686℃、八区645
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665℃、九区600
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620℃、十区560
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580℃、后区519
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539℃。4.根据权利要求2所述的氧化方法,其特征在于:所述升温区中一区、二区、三区通入氧气,所述氧气的流量设定如下:其中一区、二区氧气流量均为3
‑
7mL/min,三区氧气流量为100
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120mL/min;氧化过程中持续通入氮气,其中进口处氮气流量为55
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65L/min,所述升温区中一区、二区、三区、四区、五区、六区、七区、八区、九区、十区顶部氮气流量为30
‑
50L/min,所述升温区中一区、二区、三区、四区、五区、六区、七区、八区、九区、十区底部氮气流量为20
‑
40L/min,后区氮气流量为80
‑
1...
【专利技术属性】
技术研发人员:李炎,贺贤汉,马敬伟,蔡俊,董明锋,
申请(专利权)人:江苏富乐德半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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