测试装置与测试方法制造方法及图纸

技术编号:3082620 阅读:142 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种测试装置,其用来对多个被测试装置进行测试且具备:共同图样产生部,其在多个被测试装置中产生共同的测试信号的图样的共同图样;逻辑比较部,其设置于多个被测试装置中,对以共同图样为基准的测试信号起反应,以判定“由被测试装置所输出的结果信号和基准电压的比较结果是否与期待值一致”;付加图样储存部,在该比较结果和期待值相一致或不一致的个别情况下,预先储存着应付加至共同图样中的付加图样;以及个别图样付加部,其设置在每个被测试装置中,依据该被测试装置的相关的比较结果是否与期待值一致,以便由付加图样储存部读出该被测试装置中个别的付加图样,以付加至共同图样中以及施加至被测试装置中。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种测试装置,其特征在于其用来对多个被测试装置进行测试且具备:共同图样产生部,其在多个被测试装置中产生共同的测试信号的图样的共同图样;逻辑比较部,其分别对应于多个被测试装置之一而设置,对以共同图样为基准的测试信号起反应,以判 定“由被测试装置所输出的结果信号和基准电压的比较结果是否与期待值一致”;付加图样储存部,在该比较结果和期待值相一致或不一致的各别情况下,预先储存着应付加至共同图样中的付加图样;以及个别图样付加部,其分别对应于多个被测试装置之 一而设置,依据该被测试装置的相关的比较结果是否与期待值一致,以便由付加图样储存部读出该被测试装置中个别的付加图样,以付加至共同图样中以及施加至被测试装置中。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:土井优
申请(专利权)人:爱德万测试株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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