本发明专利技术公开了一种具测试架构的液晶显示装置，主要包含多条数据线、多条栅极线、多条共享电极线及多列像素单元。多条奇数共享电极线是用以馈送第一共享电压，多条偶数共享电极线是用以馈送第二共享电压。奇数列像素单元及偶数列像素单元分别耦合于对应奇数共享电极线及对应偶数共享电极线。另揭露一种检测液晶显示装置的缺陷的测试方法，包含：于第一时段致能所有栅极线及馈入第一测试电压至对应数据线；于第二时段除能偶数栅极线及馈入第二测试电压至对应数据线；及于第三时段将第二共享电压从第一共享测试电压切换为第二共享测试电压。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术是有关于一种，尤指一 种可提供精确缺陷检测的。
技术介绍
液晶显示装置(Liquid Crystal Display; LCD)是目前广泛使用的一种平面显 示器，其具有外型轻薄、省电以及无辐射等特征。液晶显示装置的工作原理是 利用改变液晶层两端的电压差来改变液晶层内的液晶分子的排列状态，藉以改 变液晶层的透光性，再配合背光模块所提供的光源以显示影像。在目前高分辨率显示设计的要求下，液晶显示装置中的组件尺寸不断地缩 小，期能提高组件积集度，所以微小缺陷或微粒对液晶显示装置的质量影响也 日趋严重，使得液晶显示装置的工艺越来越不容易达到高生产合格率的目标。 因此，为维持产品质量的稳定，通常在液晶显示装置的生产过程中，亦须针对 所生产的液晶显示装置进行缺陷检测， 一方面可淘汰不良品，另一方面可根据 检测结果来分析造成缺陷的原因，之后才能进一步地藉由工艺参数的调整或生 产环境的改善来避免或减少缺陷的产生。换句话说，能实时地对生产过程所产 生的缺陷做出分析，找出缺陷发生的原因，并加以排除，不但已成为品保技术 的核心能力之一，更是快速开发高质量液晶显示装置工艺的关键。一般而言，为使液晶显示装置具有广视角的特性，在一个像素单元内会设 计两个子像素单元，相对应于两子像素单元的两条伽玛曲线(Gamma Curve, 亦称为灰阶曲线)，经由灰阶平均效应，可在不同视角产生最佳视觉效果，即 具有高质量广视角特性。通常液晶显示装置的短路缺陷发生在相邻子像素单元 之间，所以如何精确地检测出相邻子像素单元之间的短路缺陷实为生产过程的 重要关键技术之一。然而在习知的检测短路缺陷测试方法中，只能检测部分相 邻子像素单元之间的短路缺陷，因此无法提供完整的缺陷检测信息以及时淘汰 所有不良品，而缺陷检测结果的分析也难以提供足够信息以改良工艺提高合格率。
技术实现思路
依据本专利技术的实施例，其揭露一种液晶显示装置，包含多条数据线、多条 栅极线、多条共享电极线及多列像素单元。每一条数据线用以接收对应数据信 号。每一条栅极线用以接收对应栅极信号。多条奇数共享电极线用以接收第一 共享电压，多条偶数共享电极线用以接收第二共享电压。每一列像素单元包含 多个像素单元，奇数列像素单元的多个像素单元耦合于对应奇数共享电极线， 偶数列像素单元的多个像素单元耦合于对应偶数共享电极线。依据本专利技术的实施例，其另揭露一种用以测试液晶显示装置的测试方法， 被测试的液晶显示装置包含多条第一栅极线、多条第二栅极线、多条数据线、 多条第一共享电极线、及多条第二共享电极线，此测试方法包含于第一时段， 供应栅极致能信号至该些第一栅极线及该些第二栅极线，供应第一测试电压至 该些数据线的一数据线，供应第一共享测试电压至该些第一共享电极线，供应 第二共享测试电压至该些第二共享电极线；于第二时段，供应栅极致能信号至 该些第一栅极线，供应栅极除能信号至该些第二栅极线，供应第二测试电压至 该数据线，供应第一共享测试电压至该些第一共享电极线，供应第二共享测试 电压至该些第二共享电极线；以及于第三时段，供应栅极除能信号至该些第一 栅极线及该些第二栅极线，供应第三共享测试电压至该些第二共享电极线。附图说明图1为本专利技术第一实施例液晶显示装置的示意图2为依图1的液晶显示装置执行本专利技术第一测试方法的工作相关信号测 试波形示意图，其中横轴为时间轴；图3为根据图2所示的相关信号以检测图1的液晶显示装置的第一测试方 法流程图4为图1的液晶显示装置在无缺陷状况下，经图2的波形测试后的子像 素电压示意表列；图5为依图1的液晶显示装置执行本专利技术第二测试方法的工作相关信号测 试波形示意图，其中横轴为时间轴；图6为报据图5所示的相关信号以检测图1的液晶显小装置的第二测试方 法流程图7为图1的液晶显示装置在无缺陷状况下，经图5的波形测试后的子像 素电压示意表列；图8为本专利技术第二实施例液晶显示装置的示意图。主要组件符号说明400、 800 液晶显示装置 410、 810 栅极线 420、 820 430、 830440、 840441、 841 443、 843 445、 845 447、 847 460470 480 600 812 832890891 893 895 897899900Cll、 C21、 C31、 C41 C12、 C22、 C32、 C42共享电极线 像素单元 第一开关 第二开关 第一像素电容 第二像素电容 电压产生器 栅极驱动电路 源极驱动电路 第一测试方法 辅助栅极线 辅助共享电极线 前置辅助像素单元 第一辅助开关 第一辅助电容 后置辅助像素单元 第二辅助开关 第二辅助电容 第二测试方法 第一像素电容 第二像素电容CU 、CUastl 、 CXn-CXn+3 CLA1 CLA2DLm、 DLm+lGLn画GLn+3Plm、 P2m、Pn—m-Pn+3—mPA1PA2S605-S635、 S905-S935 SDm、 SDm+l SGeven SGn-SGn+3 SGodd Ta、 Td Tb、 Te Tc、 TfVI、 V2、 V3、 V4VcomlVcom2VctlVct2VtslVts2Vpii画Vp42共享电极线第一辅助共享电极线第二辅助共享电极线数据线栅极线像素单元前置辅助像素单元 后置辅助像素单元 步骤数据信号偶数栅极信号栅极信号奇数栅极信号第一时段第二时段第三时段电压第一共享电压第二共享电压第一共享测试电压第二共享测试电压第一测试电压第二测试电压子像素电压具体实施例方式为让本专利技术更显而易懂，下文依本专利技术，特举实施例配合所附图式作详细说明，但所提供的实施例并非用以 限制本专利技术所涵盖的范围，而方法流程步骤编号更非用以限制其执行先后次 序，任何由方法步骤重新组合的执行流程所产生具有均等功效的方法，皆为本 专利技术所涵盖的范围。图1为本专利技术第一实施例液晶显示装置的示意图。如图1所示，液晶显示装置400包含多条栅极线410、多条数据线420、多条共享电极线430、多列 像素单元、电压产生器460、栅极驱动电路470及源极驱动电路480。每一列 像素单元包含多个像素单元440。每一个像素单元440包含第一开关441、第 二开关443、第一像素电容445及第二像素电容447，其中第一开关441及第 一像素电容445组合为一子像素单元，第二开关443及第二像素电容447组合 为另一子像素单元。第一开关441及第二开关443可为金属氧化物半导体场效 晶体管(Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor)或薄膜晶体管(Thin Film Transistor)。第一像素电容445包含第一端及第二端，其中第一端耦合于对应共享电极 线430。第二像素电容447包含第一端及第二端，其中第一端耦合于对应共享 电极线430。第一开关441包含第一端、第二端与门极端，其中第一端耦合于 对应第一像素电容445的第二端，第二端耦合于对应数据线420，栅极端耦合 于对应栅极线410。第二开关443包含第一端、第二端与门极端，其中第一端 耦合于对应第二像素电容447的第二端，栅极端耦合于对应栅极线410，第二 端耦合于相异像素单元440的第一开关441的第一端本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种具测试架构的液晶显示装置，其特征在于，包含：多条数据线，每一条数据线接收一对应数据信号；多条栅极线，每一条栅极线接收一对应栅极信号；多条共享电极线，该些共享电极线的多条奇数共享电极线用以接收一第一共享电压，该些共 享电极线的多条偶数共享电极线用以接收一第二共享电压；以及多列像素单元，每一列像素单元包含多个像素单元，其中该些列像素单元的一奇数列像素单元的多个像素单元耦合于该些共享电极线的一对应奇数共享电极线，该些列像素单元的一偶数列像素单元的多 个像素单元耦合于该些共享电极线的一对应偶数共享电极线。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄韦凯，李斳伦，林家强，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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