差分相位检测装置和使用该装置的跟踪误差信号检测设备制造方法及图纸

一种差分相位检测装置和使用所述差分相位检测装置的跟踪误差信号检测设备。所述检测装置包括：限幅器，对第一到第四信号相对于参考电平进行限幅和数字化；第一合成器，合成第一和第三信号，产生并输出第一合成信号；第二合成器，合成第二信号和第四信号，产生并输出第二合成信号；相位差检测器，比较第一合成信号的相位和第二合成信号的相位，产生并输出第一相位差信号和第二相位差信号；以及矩阵电路，对从相位差检测器接收的第一和第二相位差信号进行减法运算，输出差分相位信号。和常规检测设备相比，该检测设备可以检测相当小地受径向倾斜、切向倾斜、散焦、光盘厚度变化、在光盘上记录的坑深度变化和／或物镜偏移的影响的跟踪误差信号。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及具有改进的结构的差分相位检测装置(differential phasedetection device))和使用该装置的跟踪误差信号检测设备。
技术介绍
一般地说，如图1和图2所示，使用差分相位检测(DPD)的跟踪误差信号检测设备包括四部分光检测器10，用于接收由记录介质反射的光，以及差分相位检测装置20和30，用于接收从四部分光检测器10输出的4个检测信号a、b、c、d，产生多个相位差信号，并对多个相位差信号进行运算，以便检测跟踪误差信号TES′和TES″。四部分光检测器10沿着相应于记录介质的径向的方向(R′方向)被分成两部分，沿着相应于记录介质的切线方向的方向(T′方向)被分成两部分。四部分光检测器10的第一到第四部分片(division plate)A、B、C、D按照反时针排列，并分别产生第一到第四检测信号a、b、c、d。参见图1，作为常规的差分相位检测装置20的一个例子包括4个电容器21，4个均衡器22，4个限幅器23，4个移相器24，两个相位差检测器25和27，以及矩阵电路29。电容器21对第一到第四各个检测信号a、b、c、d实行交流耦合，借以除去直流分量。每个均衡器22放大该通过电容器21输入的信号的高频分量。每个限幅器23将由均衡器22放大的信号数字化。每个移相器24将数字信号移相，从而控制最终输出的偏移或均衡。相位差检测器25检测从相应的两个移相器24输入的第一和第二检测信号a、b的数字化信号之间的相位差，并输出第一和第二相位差信号p1、p2。另一个相位差检测器27检测从相应的两个移相器24输入的第三和第四检测信号c、d的数字化信号之间的相位差，并输出第三和第四相位差信号p3、p4。矩阵电路接收第一到第四相位差信号p1、p2、p3、p4，并对它们进行处理，借以输出跟踪误差信号TES′。跟踪误差信号TES′是一个在第一和第三相位差信号p1，p3的和p1+p3及第二与第四相位差信号p2，p4的和p2+p4之间的差分信号。因为常规的差分相位检测装置20包括用于检测相位差信号的两个相位差检测器25和27，所以差分相位检测装置20的总的体积大，并且其输出信号可能由于两个相位差检测器25和27的增益特性之间的差而变劣。参见图2，作为另一个例子，示出了差分相位检测装置30，其结构克服了图1所示的差分相位检测装置20的问题。差分相位检测装置30包括4个电容器31，4个延迟单元32，两个均衡器33a、33b，两个限幅器34a、34b，两个移相器35a、35b，相位差检测器37以及矩阵电路39。在图1和图2中，相同的标号表示具有相同功能的相同的元件。电容器31对从四部分光检测器10接收的第一到第四检测信号a，b，c，d实行交流耦合，借以除去直流分量。延迟单元32将从各个电容器31接收的信号进行时间延迟。提供延迟单元32用于补偿最后输出即跟踪误差信号TES″的偏移，所述偏移是当光学拾取器的物镜发生移动时，或者当在光盘上记录的坑的深度偏离规定的值时发生的。延迟单元32将从前面的第一和第二分片A、B沿T′方向输出的第一和第二检测信号a、b，或者从后面的第三和第四分片C、D输出的第三和第四检测信号c，d相对地延迟。延迟单元32适当地延迟第一检测信号a和/或第三检测信号c，使得施加于第一检测信号a的延迟值相对于第三检测信号c是正的或者是负的。类似地，延迟单元32适当地延迟第二检测信号b和/或第四检测信号d，使得施加于第二检测信号b的延迟值相对于第四检测信号d是正的或者是负的。从延迟单元32输出的第一和第三检测信号a和c由均衡器33a相加并均衡。从延迟单元32输出的第二和第四检测信号b和d由均衡器33b相加并均衡。限幅器34a、34b分别数字化来自均衡器33a、33b的放大的和信号。移相器35a、35b移动各个数字化的和信号的相位，以便控制最后的输出的偏移或均衡。相位差检测器37检测从各个移相器35a、35b接收的和信号之间的相位差，并输出两个相位差信号p5、p6。矩阵电路39对从相位差检测器37接收的两个相位差信号p5、p6进行差分运算，从而输出跟踪误差信号TES″。因为图2的差分相位检测装置30包括一个相位差检测器37，所以不会发生在图1的装置中发生的在两个相位差检测器25和27之间的增益误差问题。然而，为了实现利用一个相位差检测器37的结构，图2的差分相位检测装置30使用4个延迟单元32，用于补偿第一和第三检测信号a，c以及第二和第四信号b，d之间的相位差。因而，由于延迟器32部分的大的体积，差分相位检测装置30的总的体积大，并且操作延迟器32需要大量的功率。此外，因为延迟单元32的延迟值和再现信号的频率有关，需要一个用于选择对于适合于再现光盘上的数据的倍速的延迟值的装置。因而，图2的差分相位检测装置30比图1的差分相位检测装置20的体积大，并消耗大量的功率。为了解决上述问题，本专利技术的目的在于，提供一种具有改进的结构的差分相位检测装置，其中使用一个相位差检测器而不使用延迟单元，并提供一种使用所述差分相位检测装置的跟踪误差信号检测设备。因而，为了实现本专利技术的上述目的，提供一种差分相位检测装置，用于检测从第一到第四信号的差分相位。所述差分相位检测装置包括限幅器，用于对第一到第四信号相对于参考电平进行限幅和数字化；第一合成器，用于合成第一和第三信号，从而产生并输出第一合成信号；第二合成器，用于合成第二信号和第四信号，从而产生并输出第二合成信号；相位差检测器，用于比较第一合成信号的相位和第二合成信号的相位，从而产生并输出第一相位差信号和第二相位差信号；以及矩阵电路，用于对从相位差检测器接收的第一和第二相位差信号进行减法运算，从而输出差分相位信号。其中，第一和第二合成器对第一和第三信号以及第二和第四信号分别进行时间平均、“与”运算或“或”运算，从而产生第一和第二合成信号。最好，所述差分相位检测装置还包括交流耦合器，用于除去第一到第四信号中的直流分量；和/或均衡器，用于放大第一到第四信号，所述交流耦合器和/或均衡器被提供在所述限幅器之前。最好，所述差分相位检测装置还包括移相器，用于移动在限幅器和第一、第二合成器之间或者在第一、第二合成器和相位差检测器之间输入信号的相位。本专利技术还提供一种跟踪误差信号检测设备，其包括光检测器，用于接收从记录介质反射的光；以及差分相位检测装置，用于检测光检测器输出的检测信号中的跟踪误差信号，所述光检测器包括第一到第四分片，它们沿着相应于记录介质的径向和切向被反时针或顺时针地设置，所述第一到第四分片接收光，并分别输出第一到第四检测信号，所述差分相位检测装置包括限幅器，用于对第一到第四信号相对于参考电平进行限幅和数字化；第一合成器，用于合成从位于光检测器的一个对角线方向上的第一和第三分片输出并被数字化的第一和第三信号，从而产生并输出第一合成信号；第二合成器，用于合成从位于光检测器的另一个对角线方向上的第二和第四分片输出并被数字化的的第二信号和第四信号，从而产生并输出第二合成信号；相位差检测器，用于比较第一合成信号的相位和第二合成信号的相位，从而产生并输出第一相位差信号和第二相位差信号；以及矩阵电路，用于对从相位差检测器接收的第一和第二相位差信号进行减法运算，从而输出本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种差分相位检测装置，用于检测从第一到第四信号的差分相位，其特征在于，所述差分相位检测装置包括： 限幅器，用于对第一到第四信号相对于参考电平进行限幅和数字化； 第一合成器，用于合成第一信号和第三信号，从而产生并输出第一合成信号； 第二合成器，用于合成第二信号和第四信号，从而产生并输出第二合成信号； 相位差检测器，用于比较第一合成信号的相位和第二合成信号的相位，从而产生并输出第一相位差信号和第二相位差信号；以及 矩阵电路，用于对从相位差检测器接收的第一和第二相位差信号进行减法运算，从而输出差分相位信号。

【技术特征摘要】
KR 2000-12-26 82052/001.一种差分相位检测装置，用于检测从第一到第四信号的差分相位，其特征在于，所述差分相位检测装置包括限幅器，用于对第一到第四信号相对于参考电平进行限幅和数字化；第一合成器，用于合成第一信号和第三信号，从而产生并输出第一合成信号；第二合成器，用于合成第二信号和第四信号，从而产生并输出第二合成信号；相位差检测器，用于比较第一合成信号的相位和第二合成信号的相位，从而产生并输出第一相位差信号和第二相位差信号；以及矩阵电路，用于对从相位差检测器接收的第一和第二相位差信号进行减法运算，从而输出差分相位信号。2.如权利要求1所述的差分相位检测装置，其中第一和第二合成器对第一和第三信号以及第二和第四信号分别进行时间平均、“与”运算或“或”运算，从而产生第一和第二合成信号。3.如权利要求1或2所述的差分相位检测装置，还包括交流耦合器，用于除去第一到第四信号中的直流分量；和/或均衡器，用于放大第一到第四信号，所述交流耦合器和/或均衡器被提供在所述限幅器之前。4.如权利要求3所述的差分相位检测装置，还包括移相器，用于移动在限幅器和第一、第二合成器之间或者在第一、第二合成器和相位差检测器之间输入信号的相位。5.如权利要求1或2所述的差分相位检测装置，还包括移相器，用于移动在限幅器和第一、第二合成器之间或者在第一、第二合成器和相位差检测器之间输入信号的相位。6.一种跟踪误差信号检测设备，其包括光检测器，用于接收从记录介质反射的光；以及差分相位检测装置，用于检测光检测器输出的检测信号中的跟踪误差信号，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：马炳寅，朴仁植，徐仲彦，高成鲁，郑守烈，杨苍镇，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]