半导体设备制造技术

技术编号:14561159 阅读:90 留言:0更新日期:2017-02-05 17:16
一种半导体设备,包括:PLL,响应于经由天线从读取器接收的第一时钟而提供不同相位的候选时钟;相位差检测器,检测第一时钟和来自候选时钟的时钟之间的相位差;相位差控制器,从候选时钟中选择另一个时钟;以及驱动器,与另一个时钟同步地将传输数据提供给读取器。

【技术实现步骤摘要】
对相关申请的交叉引用本申请要求于2014年10月10日提交的韩国专利申请No.10-2014-0136784的优先权,其主题通过引用合并于此。
本专利技术概念一般地涉及半导体设备。更具体地,本专利技术概念涉及能够在无源模式和有源模式中独立地操作的近场通信(NFC)卡(例如智能卡、芯片卡、集成电路或IC卡等)以及操作其的方法。
技术介绍
NFC卡被配置为与在下文中被称为“读取器”的各种终端设备进行操作,尽管大多数相应读取器能够向NFC卡发送数据以及从NFC卡接收数据。当在无源模式中或在有源模式中操作时,重要的是,由NFC卡传达到读取器的数据是连贯的并且能被读取器理解。也就是说,由NFC卡传达到读取器的数据必须以允许对数据准确辨别的方式被读取器接收。
技术实现思路
本专利技术概念的实施例提供能够可靠地向读取器传达数据的半导体设备。根据本专利技术概念的方面,提供了一种半导体设备,包括:天线,被配置为从读取器接收第一时钟;锁相环(PLL),被配置为接收所接收的第一时钟并且输出与所述第一时钟具有不同的相位差的m个第二时钟,其中m是自然数;相位差检测器,被配置为接收所述第一时钟和作为所述m个第二时钟中的一个的第三时钟并且检测所述第一时钟和所述第三时钟之间的相位差;相位差控制器,被配置为从所述相位差检测器接收所检测的相位差并在所述m个第二时钟中选择第四时钟;以及驱动器,被配置为接收由所述相位差控制器选择的第四时钟和要输出到所述读取器的传输数据,并且与所述第四时钟同步地将所述传输数据输出到所述读取器。根据本专利技术的方面,提供了一种半导体设备,包括:天线,被配置为从读取器接收第一时钟;锁相环(PLL),被配置为接收所接收的第一时钟并且输出与所述第一时钟具有不同的预定相位差的第二时钟;驱动器,被配置为接收从所述PLL输出的第二时钟和要输出到所述读取器的传输数据,并且向所述读取器输出与所述第二时钟同步的所述传输数据;以及输出控制器,被配置为改变所述读取器的输出的幅度。根据本专利技术概念的方面,提供了一种半导体设备,包括:天线,被配置为从读取器接收第一时钟;锁相环(PLL),被配置为接收所接收的第一时钟并且输出与所述第一时钟具有不同的预定相位差的第二时钟;驱动器,被配置为接收从所述PLL输出的第二时钟和要输出到所述读取器的传输数据,并且向所述读取器输出与所述第二时钟同步的所述传输数据;以及占空比控制器,被配置为改变提供给所述驱动器的传输数据的占空比。根据本专利技术概念的方面,提供了一种半导体设备,包括:天线,被配置为从读取器接收第一时钟;时钟生成器,被配置为接收所述第一时钟,并且在满足第一条件时通过允许旁路所述第一时钟来生成第二时钟,以及在满足第二条件时生成与所述第一时钟具有不同的预定相位差的第二时钟;以及驱动器,被配置为接收由所述时钟生成器生成的第二时钟和要输出到所述读取器的传输数据,并且向所述读取器输出与所述第二时钟同步的所述传输数据。附图说明在参考附图考虑本专利技术概念的某些实施例时,本专利技术概念的上述和其它特征和优点将变得更明显,其中:图1是图示根据本专利技术概念的实施例的半导体设备的框图;图2是进一步图示图1的压控振荡器(VCO)54的一个示例的电路图;图3、图4、图5和图6是图示根据本专利技术概念的各个实施例的半导体设备的相应框图;图7、图8和图9是图示由图4、图5和图6中任一个所示的半导体设备执行的各种动作的相应波形图;图10和图11是图示根据本专利技术概念的附加实施例的半导体设备的相应框图;图12是图示由图11的半导体识别执行的各种操作的波形图;图13是图示可以合并根据本专利技术概念的实施例的半导体设备的片上系统(SoC)的框图;图14是图示可以合并根据本专利技术概念的实施例的半导体设备的电子系统的框图;以及图15、图16和图17分别图示了可以合并根据本专利技术概念的实施例的半导体系统或半导体设备的电子设备。具体实施方式下文中将参考附图来描述本专利技术概念的某些实施例。然而,本专利技术概念可以被具体化在许多不同的形式中,并且不应被认为仅限于所图示的实施例。相反,提供这些实施例以使得本公开是全面的和完备的,并且将充分向本领域技术人员传递本专利技术的概念,并且本专利技术概念将仅由所附的权利要求限定。在整个附图和所写的描述中,类似的数字用于表示类似的元件。将理解,当将一元件或层称为在另一元件或层上或“连接至”另一元件或层时,其可以直接在该另一元件或层上或连接或该另一元件或层,或可以存在中间元件或层。相比而言,当将一元件称为直接在另一元件或层上或“直接连接至”另一元件或层时,不存在中间元件或层。如在此使用的,术语“和/或”包括相关联列出的项中的一个或多个的任何和所有组合。术语“一”、“一个”和“该”以及在描述本专利技术概念的上下文中(特别是在所附的权利要求的上下文中)的类似引用的使用旨在被认为包括单数和复数两者,除非在此明确指示并非如此或通过上下文是明确矛盾的。术语“包括”和/或“包含”应被认为是开放式术语(即意味着“包括但不限于”),除非另外指出。将理解,尽管在此可能使用术语第一、第二等来描述各种元件,但是这些元件不应被这些术语限制。这些术语仅用于将一个元件与另一个元件进行区分。因此,例如可以将下面讨论的第一元件、第一组件或第一部分术语化为第二元件、第二组件或第二部分。除非另外定义,否则在此使用的所有技术和科学术语具有与本专利技术概念所属的
的普通技术人员共同理解的相同的含义。在此提供的任何和所有示例、或示范性术语的使用旨在仅较好地说明本专利技术概念,并且不是对本专利技术概念的范围的限制,除非另外指定。此外,除非另外指定,否则在通常使用的词典中定义的所有术语应不可以被过度解释。在下文中,将参考图1和图2描述根据本专利技术概念的实施例的半导体设备。图1是图示半导体设备的框图,以及图2是进一步图示图1的压控振荡器(VCO)的一个示例的电路图。参考图1,半导体设备(例如近场通信(NFC)卡)通常包括天线10、时钟生成器20和驱动器30。术语“单元”或“模块”可互换使用,以表示能够执行某些任务或提供某个功能的软件和/或硬件组件,诸如现场可编程门阵列(FPGA)或专用集成电路(ASIC)。在某些实施例中,单元或模块可以有利地被配置为驻留在可寻址存储介质中和/或被配置为由一个或多个处理器执行。因此,单元或模块可以例如包括诸如软件组件、面向对象的软件本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种半导体设备,包括:天线,从读取器接收第一时钟;锁相环(PLL),接收所接收的第一时钟并且提供根据所述第一时钟导出的具有不同相位的m个候选时钟,其中“m”是自然数;相位差检测器,接收所述第一时钟和从所述m个候选时钟中选择的所选择的时钟,并且检测所述第一时钟和所选择的时钟之间的相位差;相位差控制器,从所述相位差检测器接收所检测的相位差,并从所述m个候选时钟中选择另一个所选择的时钟;以及驱动器,从所述相位差控制器接收所述另一个所选择的时钟和要输出到所述读取器的传输数据,并且与所述另一个所选择的时钟同步地将所述传输数据提供到所述读取器。

【技术特征摘要】
2014.10.10 KR 10-2014-01367841.一种半导体设备,包括:
天线,从读取器接收第一时钟;
锁相环(PLL),接收所接收的第一时钟并且提供根据所述第一时钟导出
的具有不同相位的m个候选时钟,其中“m”是自然数;
相位差检测器,接收所述第一时钟和从所述m个候选时钟中选择的所选
择的时钟,并且检测所述第一时钟和所选择的时钟之间的相位差;
相位差控制器,从所述相位差检测器接收所检测的相位差,并从所述m
个候选时钟中选择另一个所选择的时钟;以及
驱动器,从所述相位差控制器接收所述另一个所选择的时钟和要输出到
所述读取器的传输数据,并且与所述另一个所选择的时钟同步地将所述传输
数据提供到所述读取器。
2.根据权利要求1所述的半导体设备,其中,所述PLL包括提供所述
m个候选时钟的压控振荡器(VCO)。
3.根据权利要求1所述的半导体设备,进一步包括:
复用器,响应于所接收的初始值而提供所选择的时钟,并且响应于所述
相位差控制器的输出而提供另一个所选择的时钟。
4.根据权利要求3所述的半导体设备,进一步包括:
存储器,存储预定相位差,其中,所述另一个所选择的时钟是所述m个
候选时钟中相对于所述第一时钟具有最接近所述预定相位差的相位差的时
钟。
5.根据权利要求4所述的半导体设备,进一步包括:
可变延迟线,接收所述另一个所选择的时钟并且执行微调,以调整所述
另一个所选择的时钟和所述第一时钟之间的相位差接近所述预定相位差。
6.根据权利要求1所述的半导体设备,其中,所述相位差控制器响应于
从所述读取器接收所述第一时钟的第一时间段和将所述驱动器的输出提供给
读取器的第二时间段而从所述m个候选时钟中选择所述另一个所选择的时
钟。
7.根据权利要求1所述的半导体设备,其中,所述半导体设备被配置为
近场通信(NFC)卡。
8.根据权利要求1所述的半导体设备,进一步包括:
场电平检测器,检测在所述读取器和所述天线之间生成的场的电平,其
中所述相位差控制器响应于所述场电平检测器的输出而从所述m个候选时钟
中选择所述另一个所选择的时钟。
9.根据权利要求8所述的半导体设备,进一步包括:
存储器,存储预定相位差,其中所述预定相位差是响应于所述场电平检
测器的输出而确定的。
10.根据权利要求9所述的半导体设备,其中,所述预定相位差随着在
所述读取器和所述天线之间生成的场的电平增加而降低。
11.一种半导体设备,包括:
天线,从读取器...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵钟弼李泳周
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:韩国;KR

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