本实用新型专利技术属于存储芯片制作应用技术领域，具体公开了SOP多SITE存储芯片测试插座，由插座组件，及与插座组件相配合使用的插座底板组件，及与插座组件、插座底板组件相配合使用的存储芯片接触组件组成。本实用新型专利技术的SOP多SITE存储芯片测试插座的有益效果在于：其设计合理，便于装配与拆卸，能满足多个SOP多SITE存储芯片同时测试，解决了芯片同时测试时，机台限制了测试插座大小的问题，提高了测试效率，实用性强。实用性强。实用性强。
【技术实现步骤摘要】
SOP多SITE存储芯片测试插座
[0001]本技术属于存储芯片制作应用
，具体涉及SOP多SITE存储芯片测试插座。
技术介绍
[0002]现有技术中的半导体SOP芯片测试插座，也是由测试探针，芯片测试插座基体，探针支撑板，芯片浮动板等主要部件组成。然而，随着半导体芯片测试效率要求越来越高，空间要求越来越小，现有技术中的芯片测试插座，无法满足这一需求等，而这是当前所亟待解决的。
[0003]基于上述问题，本技术提供SOP多SITE存储芯片测试插座。
技术实现思路
[0004]技术目的：本技术的目的是针对现有技术的不足，提供SOP多SITE 存储芯片测试插座，解决了芯片同时测试时，机台限制了测试插座大小的问题，提高了测试效率，实用性强。
[0005]技术方案：本技术提供SOP多SITE存储芯片测试插座，由插座组件，及与插座组件相配合使用的插座底板组件，及与插座组件、插座底板组件相配合使用的存储芯片接触组件组成；所述插座组件，包括插座本体，及设置在插座本体内的若干个十字形芯片槽，及设置在插座本体一面对称中心线的限位凸起，及设置在插座本体一面且位于限位凸起两侧的一组底板限位卡槽，及设置在插座本体内的若干个插座本体连接孔，及分别设置在插座本体一面内且位于十字形芯片槽两端的插座本体销钉孔；所述插座底板组件，包括设置在插座本体一面且位于一组底板限位卡槽内的插座底板，及分别设置在插座底板内的若干个探针安装孔，及分别设置在插座底板端部内的若干个插座底板连接孔，及通过若干个插座本体连接孔、若干个插座底板连接孔将插座本体、插座底板紧固连接的内六角螺钉，及分别设置在插座底板对称中心线内的若干组插座底板销钉孔；所述存储芯片接触组件，包括分别设置在若干个十字形芯片槽内的接触块，及分别设置在接触块两侧内的接触块探针安装孔，及分别设置在接触块两端内的销钉孔，及通过插座本体销钉孔、销钉孔、插座底板销钉孔将插座本体、插座底板、接触块紧固的销钉，及分别设置在插座底板一面且与接触块接触的若干个C型弹簧，及分别设置在接触块探针安装孔、探针安装孔内的探针。
[0006]本技术方案的，所述SOP多SITE存储芯片测试插座，还包括设置在插座本体两端内的插座本体辅助固定孔。
[0007]本技术方案的，所述SOP多SITE存储芯片测试插座，还包括设置在插座本体两端内且位于插座本体连接孔一侧的插座本体平头螺丝孔，及分别设置在插座底板内的插座底板平头螺丝孔，及通过插座本体平头螺丝孔、插座底板平头螺丝孔将插座本体、插座底板紧固的平头螺丝。
[0008]本技术方案的，所述SOP多SITE存储芯片测试插座，还包括设置在插座底板两侧内
的若干组插座底板辅助固定孔，及通过若干组插座底板辅助固定孔、插座本体辅助固定孔将插座底板、插座本体紧固的螺栓。
[0009]与现有技术相比，本技术的SOP多SITE存储芯片测试插座的有益效果在于：其设计合理，便于装配与拆卸，能满足多个SOP多SITE存储芯片同时测试，解决了芯片同时测试时，机台限制了测试插座大小的问题，提高了测试效率，实用性强。
附图说明
[0010]图1是本技术的SOP多SITE存储芯片测试插座的爆炸部分结构示意图；
[0011]图2是本技术的SOP多SITE存储芯片测试插座的俯视结构示意图；
[0012]图3是本技术的SOP多SITE存储芯片测试插座的十字形芯片槽等的俯视结构示意图；
[0013]图4是本技术的SOP多SITE存储芯片测试插座的主视剖视结构示意图；
[0014]图5是本技术的SOP多SITE存储芯片测试插座的探针的结构示意图。
具体实施方式
[0015]下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本技术。
[0016]实施例
[0017]如图1、图2、图3、图4和图5所示的SOP多SITE存储芯片测试插座，由插座组件，及与插座组件相配合使用的插座底板组件，及与插座组件、插座底板组件相配合使用的存储芯片接触组件组成；所述插座组件，包括插座本体2，及设置在插座本体2内的若干个十字形芯片槽12，及设置在插座本体2一面对称中心线的限位凸起6，及设置在插座本体2一面且位于限位凸起6两侧的一组底板限位卡槽23，及设置在插座本体2内的若干个插座本体连接孔10，及分别设置在插座本体2一面内且位于十字形芯片槽12两端的插座本体销钉孔21；所述插座底板组件，包括设置在插座本体2一面且位于一组底板限位卡槽23内的插座底板4，及分别设置在插座底板4内的若干个探针安装孔16，及分别设置在插座底板4端部内的若干个插座底板连接孔11，及通过若干个插座本体连接孔10、若干个插座底板连接孔11将插座本体2、插座底板4紧固连接的内六角螺钉5，及分别设置在插座底板4对称中心线内的若干组插座底板销钉孔7；所述存储芯片接触组件，包括分别设置在若干个十字形芯片槽12内的接触块13，及分别设置在接触块13两侧内的接触块探针安装孔15，及分别设置在接触块13两端内的销钉孔14，及通过插座本体销钉孔21、销钉孔14、插座底板销钉孔7将插座本体2、插座底板4、接触块13紧固的销钉3，及分别设置在插座底板4一面且与接触块13接触的若干个C型弹簧20，及分别设置在接触块探针安装孔15、探针安装孔16内的探针1。
[0018]实施例二
[0019]如图1、图2、图3、图4和图5所示的SOP多SITE存储芯片测试插座，由插座组件，及与插座组件相配合使用的插座底板组件，及与插座组件、插座底板组件相配合使用的存储芯片接触组件组成；所述插座组件，包括插座本体2，及设置在插座本体2内的若干个十字形芯片槽12，及设置在插座本体2一面对称中心线的限位凸起6，及设置在插座本体2一面且位于限位凸起6两侧的一组底板限位卡槽23，及设置在插座本体2内的若干个插座本体连接孔10，及分别设置在插座本体2一面内且位于十字形芯片槽12两端的插座本体销钉孔21；所述
插座底板组件，包括设置在插座本体2一面且位于一组底板限位卡槽23内的插座底板4，及分别设置在插座底板4内的若干个探针安装孔16，及分别设置在插座底板4端部内的若干个插座底板连接孔11，及通过若干个插座本体连接孔10、若干个插座底板连接孔11将插座本体2、插座底板4紧固连接的内六角螺钉5，及分别设置在插座底板4对称中心线内的若干组插座底板销钉孔7；所述存储芯片接触组件，包括分别设置在若干个十字形芯片槽12内的接触块13，及分别设置在接触块13两侧内的接触块探针安装孔15，及分别设置在接触块13两端内的销钉孔14，及通过插座本体销钉孔21、销钉孔14、插座底板销钉孔7将插座本体2、插座底板4、接触块13紧固的销钉3，及分别设置在插座底板4一面且与接触块13接触的若干个C型弹簧20，及分别设置在接触块探针安装孔15、探针安装孔16内的探针1，及设置在插座本体2两端内的插座本体辅助固定孔22。
[0020]实施例三
[0021]如图1、本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.SOP多SITE存储芯片测试插座，其特征在于：由插座组件，及与插座组件相配合使用的插座底板组件，及与插座组件、插座底板组件相配合使用的存储芯片接触组件组成；所述插座组件，包括插座本体(2)，及设置在插座本体(2)内的若干个十字形芯片槽(12)，及设置在插座本体(2)一面对称中心线的限位凸起(6)，及设置在插座本体(2)一面且位于限位凸起(6)两侧的一组底板限位卡槽(23)，及设置在插座本体(2)内的若干个插座本体连接孔(10)，及分别设置在插座本体(2)一面内且位于十字形芯片槽(12)两端的插座本体销钉孔(21)；所述插座底板组件，包括设置在插座本体(2)一面且位于一组底板限位卡槽(23)内的插座底板(4)，及分别设置在插座底板(4)内的若干个探针安装孔(16)，及分别设置在插座底板(4)端部内的若干个插座底板连接孔(11)，及通过若干个插座本体连接孔(10)、若干个插座底板连接孔(11)将插座本体(2)、插座底板(4)紧固连接的内六角螺钉(5)，及分别设置在插座底板(4)对称中心线内的若干组插座底板销钉孔(7)；所述存储芯片接触组件，包括分别设置在若干个十字形芯片槽(12)内的接触块(13)，及分别设置在接触块(13)两侧内的接触块探针安装孔(15)，及分别设置在接触块(13)两端内的销钉孔(14)，及...
【专利技术属性】
技术研发人员：仇中燕，周勇华，周庆飞，
申请(专利权)人：苏州擎星骐骥科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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