一种带散热片的低成本老化测试插座制造技术

本实用新型专利技术属于芯片制作老化测试应用技术领域，具体公开了一种带散热片的低成本老化测试插座，包括老化插座下针模、老化插座上针模、被测试芯片、下固定座、下固定座通槽、中间散热片座、若干个竖式散热片、上罩和上罩壳通槽等。本实用新型专利技术的有益效果在于：即能满足老化插座低成本的要求，又自带散热片提供比较优良的散热功能；整体结构设计合理，便于组装使用，同时下固定座、下固定座通槽、下固定座限位板和下固定座竖耳板为一体成型的注塑结构，上罩壳、上罩壳通槽、限位卡槽和上罩壳限位板为一体成型的注塑结构，圆弧形过渡部、斜L形限位板和竖L形定位板为一体成型的注塑结构，三部分结构均为塑料制得，应用注塑开模的方式降低成本。成本。成本。

【技术实现步骤摘要】
一种带散热片的低成本老化测试插座


[0001]本技术属于芯片制作老化测试应用
，具体涉及一种带散热片的低成本老化测试插座，适用于芯片模拟测试时环境温度散热。

技术介绍

[0002]芯片的使用寿命分为三个阶段，由于制造、设计等原因，第一阶段是初始故障：故障率高；第二阶段是故障：设备故障机制产生的故障率很低；第三阶段：突破故障，故障效率高。
[0003]随着芯片进入汽车、云计算和工业物联网市场，随着时间的推移，芯片想要实现目标的功能将变得越来越难以实现，这也成为开发人员关注的焦点。芯片自始至终都在运行，IC内部模块也一直在加热，导致老化和加热速度，也许会带来各种未知的问题，因此芯片设计公司会在芯片出厂前进行芯片加速老化测试（HAST）从而筛选和测试更好的良片。
[0004]老化测试插座因为数量多而使用寿命短，需要严格控制成本，但是当老化测试的芯片本身功率比较大时需要测试插座自带散热片来提供比较优良的散热功能。
[0005]基于上述问题，本技术提供一种带散热片的低成本老化测试插座。

技术实现思路

[0006]技术目的：本技术的目的是针对现有技术的不足，提供一种带散热片的低成本老化测试插座，解决
技术介绍
中芯片制造时老化测试插座因为数量多而使用寿命短、成本高的问题。
[0007]技术方案：本技术提供的一种带散热片的低成本老化测试插座，包括老化插座下针模、老化插座上针模和被测试芯片，所述老化插座上针模上部设置有下固定座，所述下固定座内设置有下固定座通槽，所述下固定座的上部端面设置有中间散热片座，所述中间散热片座上设置有若干个竖式散热片，所述中间散热片座上设置有上罩壳，所述上罩壳内设置有上罩壳通槽；其中，若干个竖式散热片贯穿上罩壳通槽，被测试芯片老化测试时所产生的温度由中间散热片座、若干个竖式散热片通过热传导的方式散热。
[0008]本技术方案的，所述带散热片的低成本老化测试插座，还包括设置中间散热片座、若干个竖式散热片对称中心线内的散热通槽；其中，中间散热片座、若干个竖式散热片、散热通槽包括但不限于一体成型的铝制得，中间散热片座设置为长方形结构。
[0009]本技术方案的，所述带散热片的低成本老化测试插座，还包括设置在下固定座一端上部外壁的下固定座限位板，及设置在下固定座另一端端面的下固定座竖耳板，及设置在上罩壳一端下部外壁的上罩壳限位板，及设置在上罩壳另一端外壁的限位卡槽；其中，下固定座、上罩壳对位装配时下固定座竖耳板位于限位卡槽内，并通过螺栓固定，下固定座限位板位于上罩壳限位板的垂直向上方。
[0010]本技术方案的，所述带散热片的低成本老化测试插座，还包括将下固定座、上罩壳通过下固定座限位板、上罩壳限位板固定的定位部，所述定位部包括竖L形定位板，及设置
在竖L形定位板一端的圆弧形过渡部，及设置在圆弧形过渡部一面的斜L形限位板；其中，竖L形定位板一端卡入下固定座的一侧底面，斜L形限位板的一端底面与上罩壳限位板上表面接触，L形定位板与下固定座限位板下表面接触卡紧，圆弧形过渡部与上罩壳之间通过螺栓紧固。
[0011]本技术方案的，所述下固定座、下固定座通槽、下固定座限位板和下固定座竖耳板为一体成型的注塑结构，所述上罩壳、上罩壳通槽、限位卡槽和上罩壳限位板为一体成型的注塑结构，所述圆弧形过渡部、斜L形限位板和竖L形定位板为一体成型的注塑结构。
[0012]与现有技术相比，本技术的一种带散热片的低成本老化测试插座的有益效果在于：1、即能满足老化插座低成本的要求，又自带散热片提供比较优良的散热功能；2、整体结构设计合理，便于组装使用，同时下固定座、下固定座通槽、下固定座限位板和下固定座竖耳板为一体成型的注塑结构，上罩壳、上罩壳通槽、限位卡槽和上罩壳限位板为一体成型的注塑结构，圆弧形过渡部、斜L形限位板和竖L形定位板为一体成型的注塑结构，三部分结构均为塑料制得，应用注塑开模的方式降低成本。
附图说明
[0013]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实
[0014]施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0015]图1是本技术的一种带散热片的低成本老化测试插座的主视结构示意图；
[0016]其中，图中序号如下：10
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老化插座下针模、11
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老化插座上针模、12
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被测试芯片、13
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下固定座、14
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中间散热片座、15
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上罩壳、16
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圆弧形过渡部、17
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限位卡槽、18
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上罩壳通槽、19
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上罩壳限位板、20
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竖式散热片、21
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散热通槽、22
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下固定座通槽、23
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下固定座限位板、24
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下固定座竖耳板、25
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斜L形限位板、26
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竖L形定位板。
具体实施方式
[0017]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0018]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“顶部”、“底部”、“一侧”[0019]、“另一侧”、“前面”、“后面”、“中间部位”、“内部”、“顶端”、“底端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用
新型中的具体含义。
[0020]实施例一
[0021]如图1所示的一种带散热片的低成本老化测试插座，包括老化插座下针模10、老化插座上针模11和被测试芯片12，
[0022]老化插座上针模11上部设置有下固定座13，
[0023]下固定座13内设置有下固定座通槽22，
[0024]下固定座13的上部端面设置有中间散热片座14，
[0025]中间散热片本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种带散热片的低成本老化测试插座，包括老化插座下针模（10）、老化插座上针模（11）和被测试芯片（12），其特征在于：所述老化插座上针模（11）上部设置有下固定座（13），所述下固定座（13）内设置有下固定座通槽（22），所述下固定座（13）的上部端面设置有中间散热片座（14），所述中间散热片座（14）上设置有若干个竖式散热片（20），所述中间散热片座（14）上设置有上罩壳（15），所述上罩壳（15）内设置有上罩壳通槽（18）；其中，若干个竖式散热片（20）贯穿上罩壳通槽（18），被测试芯片（12）老化测试时所产生的温度由中间散热片座（14）、若干个竖式散热片（20）通过热传导的方式散热。2.根据权利要求1所述的一种带散热片的低成本老化测试插座，其特征在于：所述带散热片的低成本老化测试插座，还包括设置中间散热片座（14）、若干个竖式散热片（20）对称中心线内的散热通槽（21）；其中，中间散热片座（14）、若干个竖式散热片（20）、散热通槽（21）包括但不限于一体成型的铝制得，中间散热片座（14）设置为长方形结构。3.根据权利要求1或2所述的一种带散热片的低成本老化测试插座，其特征在于：所述带散热片的低成本老化测试插座，还包括设置在下固定座（13）一端上部外壁的下固定座限位板（23），及设置在下固定座（13）另一端端面的下固定座竖耳板（24），及设置在上罩壳（15）一端下部外壁的上罩壳限位...

【专利技术属性】
技术研发人员：周勇华，仇中燕，
申请(专利权)人：苏州擎星骐骥科技有限公司，
类型：新型
国别省市：