图像传感器芯片手动测试插座制造技术

本实用新型专利技术属于芯片制作应用技术领域，具体公开了图像传感器芯片手动测试插座，包括激光发射器、衰减片、云母片、压块和弹簧探针测试插座；所述激光发射器、衰减片云母片、压块、弹簧探针测试插座从上至下依次层状堆叠设置，其中，待测芯片放置在弹簧探针测试插座一面内。本实用新型专利技术的图像传感器芯片手动测试插座的有益效果在于：(1)其设计合理，搭建激光器测试环境，把多种物料集成到夹具内，模拟图像传感器芯片的工作环境，实现图像传感器芯片的测试；(2)选用弹簧探针接触待测产品，确保接触稳定性。定性。定性。

【技术实现步骤摘要】
图像传感器芯片手动测试插座


[0001]本技术属于芯片制作应用
，具体涉及图像传感器芯片手动测试插座，用于图像传感器芯片的测试。

技术介绍

[0002]近年来半导体制程技术突飞猛进，超前摩尔定律预估法则好几年，现阶段已向7纳米以下挺进，产品讲求轻薄短小，IC体积越来越小、功能越来越强、脚数越来越多，为了降低芯片封装所占的面积与改善IC效能，现阶段覆晶 (Flip Chip)方式封装普遍被应用于绘图芯片、芯片组、存储器及CPU等。上述高阶封装方式单价高昂，如果能在封装前进行芯片测试，发现有不良品存在晶圆当中，即进行标记，直到后段封装制程前将这些标记的不良品舍弃，可省下不必要的封装成本。
[0003]而图像传感器芯片属于新兴产品，行业没有成熟测试方案。
[0004]基于上述问题，本技术提供图像传感器芯片手动测试插座。

技术实现思路

[0005]技术目的：本技术的目的是针对现有技术的不足，提供图像传感器芯片手动测试插座，解决了图像传感器芯片的测试问题。
[0006]技术方案：本技术提供的图像传感器芯片手动测试插座，包括激光发射器、衰减片、云母片、压块和弹簧探针测试插座；所述激光发射器、衰减片云母片、压块、弹簧探针测试插座从上至下依次层状堆叠设置，其中，待测芯片放置在弹簧探针测试插座一面内。
[0007]本技术方案的，所述图像传感器芯片手动测试插座，还包括上激光发射器固定座、中衰减片固定座、下压块固定座。
[0008]本技术方案的，所述衰减片堆叠设置至少两块以上。r/>[0009]本技术方案的，所述图像传感器芯片手动测试插座，上激光发射器固定座、中衰减片固定座、下压块固定座内分别设置有与激光发射器、衰减片、压块相配合使用的与激光发射器安装空腔、衰减片安装空腔、压块安装空腔。
[0010]本技术方案的，所述激光发射器安装空腔、衰减片安装空腔、压块安装空腔的尺寸依次递增。
[0011]本技术方案的，所述图像传感器芯片手动测试插座，还包括设置在弹簧探针测试插座一面内的定位型腔。
[0012]本技术方案的，所述上激光发射器固定座、下压块固定座、弹簧探针测试插座的尺寸相同。
[0013]与现有技术相比，本技术的图像传感器芯片手动测试插座的有益效果在于：(1)其设计合理，搭建激光器测试环境，把多种物料集成到夹具内，模拟图像传感器芯片的工作环境，实现图像传感器芯片的测试；(2)选用弹簧探针接触待测产品，确保接触稳定性。
附图说明
[0014]图1是本技术的图像传感器芯片手动测试插座的总装剖视结构示意图；
[0015]其中，图中序号如下：1
‑
激光发射器、2
‑
衰减片、3
‑
云母片、4
‑
压块、5
‑ꢀ
弹簧探针测试插座、1
‑1‑
上激光发射器固定座、1
‑2‑
激光发射器安装空腔、2
‑ꢀ1‑
中衰减片固定座、2
‑2‑
衰减片安装空腔、4
‑1‑
下压块固定座、4
‑2‑
压块安装空腔、5
‑1‑
定位型腔。
具体实施方式
[0016]下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本技术。
[0017]实施例一
[0018]如图1所示的图像传感器芯片手动测试插座，包括激光发射器1、衰减片 2、云母片3、压块4和弹簧探针测试插座5；
[0019]激光发射器1、衰减片2、云母片3、压块4、弹簧探针测试插座5从上至下依次层状堆叠设置，其中，待测芯片放置在弹簧探针测试插座5一面内。
[0020]实施例二
[0021]如图1所示的图像传感器芯片手动测试插座，包括激光发射器1、衰减片 2、云母片3、压块4和弹簧探针测试插座5；
[0022]激光发射器1、衰减片2、云母片3、压块4、弹簧探针测试插座5从上至下依次层状堆叠设置，其中，待测芯片放置在弹簧探针测试插座5一面内，及上激光发射器固定座1
‑
1、中衰减片固定座2
‑
1、下压块固定座4
‑
1，其中，上激光发射器固定座1
‑
1、中衰减片固定座2
‑
1、下压块固定座4
‑
1内分别设置有与激光发射器1、衰减片2、压块4相配合使用的与激光发射器安装空腔1
‑
2、衰减片安装空腔2
‑
2、压块安装空腔4
‑
2。
[0023]本结构实施例一或实施例二的图像传感器芯片手动测试插座优选的，衰减片2堆叠设置至少两块以上，如三块。
[0024]本结构实施例一或实施例二的图像传感器芯片手动测试插座优选的，衰减片2尺寸小于云母片3的尺寸。
[0025]本技术的应用，一种图像传感器芯片测试装置或系统，装配安装有所述的图像传感器芯片手动测试插座。
[0026]本结构的图像传感器芯片手动测试插座的工作原理或结构原理：使用时将待测产品手动放置于弹簧探针测试插座5的定位型腔5
‑
1内，待测芯片产品通过弹簧探针和测试板卡实现电气连接，即可进行测试作业(弹簧探针和测试板卡图中未标出)。
[0027]以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以作出若干改进，这些改进也应视为本技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.图像传感器芯片手动测试插座，其特征在于：包括激光发射器(1)、衰减片(2)、云母片(3)、压块(4)和弹簧探针测试插座(5)；所述激光发射器(1)、衰减片(2)、云母片(3)、压块(4)、弹簧探针测试插座(5)从上至下依次层状堆叠设置，其中，待测芯片放置在弹簧探针测试插座(5)一面内。2.根据权利要求1所述的图像传感器芯片手动测试插座，其特征在于：所述图像传感器芯片手动测试插座，还包括上激光发射器固定座(1
‑
1)、中衰减片固定座(2
‑
1)、下压块固定座(4
‑
1)。3.根据权利要求1或2所述的图像传感器芯片手动测试插座，其特征在于：所述衰减片(2)堆叠设置至少两块以上。4.根据权利要求2所述的图像传感器芯片手动测试插座，其特征在于：所述图像传感器芯片手动测试插座，上激光发射器固定座(1
‑
1)、中衰减片固定座(2
‑
1)、下压块固定座(4
‑

【专利技术属性】
技术研发人员：周勇华，王永，仇中燕，
申请(专利权)人：苏州擎星骐骥科技有限公司，
类型：新型
国别省市：