一种用于固态硬盘测试的控制结构制造技术

本发明专利技术涉及一种用于固态硬盘测试的控制结构，包含壳体、X86主板、散热器、散热风扇；所述壳体的一侧设置有多个外部对接插槽；所述壳体的一端设置有散热口；所述X86主板竖直设置在壳体内；所述X86主板的一侧设置有X86处理器和内存条，另一侧设置有多个与外部对接插槽对应放置的板对板连接器；所述散热器设置在X86主板上，且与X86处理器贴合；所述散热风扇设置在壳体内，且位于散热口处；本发明专利技术通过采用板对板连接器，不仅使得X86主板结构紧凑，除去了多余的固态硬盘测试领域不需要的接口，同时最大化扩展了固态硬盘测试所需要的接口，从而可以实现一个x86主板对多块固态硬盘同时进行测试的能力。试的能力。试的能力。

【技术实现步骤摘要】
一种用于固态硬盘测试的控制结构


[0001]本专利技术涉及固态硬盘测试领域，特指一种用于固态硬盘测试的控制结构。

技术介绍

[0002]高温老化测试设备是一种针对高性能电子产品仿真出的高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。
[0003]目前固态硬盘测试采用的是标准ATX或MiniATX等主板结构，虽然ATX或MiniATX等主板设置有很多接口，可以满足大部分需要，但导致主板尺寸大，并且有很多接口设计在固态硬盘测试上用不到，从而造成体积以及空间的浪费。

技术实现思路

[0004]本专利技术目的是为了克服现有技术的不足而提供一种用于固态硬盘测试的控制结构。
[0005]为达到上述目的，本专利技术采用的技术方案是：一种用于固态硬盘测试的控制结构，包含壳体、X86主板、散热器、散热风扇；
[0006]所述壳体的一侧设置有多个外部对接插槽；所述壳体的一端设置有散热口；
[0007本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于固态硬盘测试的控制结构，其特征在于：包含壳体、X86主板、散热器、散热风扇；所述壳体的一侧设置有多个外部对接插槽；所述壳体的一端设置有散热口；所述X86主板竖直设置在壳体内；所述X86主板的一侧设置有X86处理器和内存条，另一侧设置有多个与外部对接插槽对应放置的板对板连接器；所述散热器设置在X86主板上，且与X86处理器贴合；所述散热风扇设置在壳体内，且位于散热口处。2.根据权利要求1所述的用于固态硬盘测试的控制结构，其特征在于：所述X86主板上螺纹连接有四根连接柱；所述散热器的四个角分别滑动设置在四根连接柱上；四根所述连接柱上均套设有使散热器与X86处理器紧密贴合的弹簧。3.根据权利要求2所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王骁，
申请(专利权)人：苏州欧康利信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：