可消除相位偏移的轨迹误差检测器件及相位偏移消除方法技术

一种消除相位偏移的轨迹误差检测器件及其相位偏移消除方法，用于消除由器件电路差错产生的误差信号。所述器件包括：均衡单元，用于将所输入的信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ均衡到一个电平；比较单元，用于量化被均衡的信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ；相移单元，用于按照控制信号来消除在量化的信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ中的相位偏移。一种系统控制单元向相移单元提供控制信号。所述轨迹误差检测器件可以消除在轨迹误差检测器件中发生的所有类型的相位偏移。因此改善了所检测的轨迹误差信号的精度和可靠性。通过在消除相位偏移的处理中调整量化的信号的相位，可以降低功耗和硬件的大小。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种通过DPD(Differential Phase Detector，差分相位检测器)方法产生轨迹误差信号的轨迹误差检测器件，具体涉及消除相位偏移的轨迹误差检测器件及其相位偏移消除方法，它们可以消除由于器件本身的电流差错而产生的误差信号。
技术介绍
图1图解了现有技术的光学拾取器(Pickup Device)。从用于记录/再现信息信号的光源1输出的激光束被光束分离器5反射，并且入射到物镜7。入射到物镜7的激光束在盘10的记录表面上形成一个光点。从盘10的记录表面反射的光束入射到物镜7，并且随后在透过光束分离器5后在光接收元件3被接收。光接收元件3将所述光点划分为部分A、B、C和D，并且测量光量。用于光接收元件3的部分A、B、C和D的光量被检测，并且根据所检测的用于部分A、B、C和D的光量来检测轨迹误差信号。同时，从光源1输出的激光束在透过光束分离器5之后向FPD(FrontPickup Device，前拾取器)9入射。FPD 9检测输入的激光束的功率，并且控制光源1，以便将输入的激光束的功率保持恒定。图2A和2B图解了按照现有技术的DPD方法的轨迹误差信号产生。图2A示出了在FPD 9的光接收元件3的部分A、B、C和D中接收在盘10上记录的凹坑的图像的示例。在图2A中，(a2)示出了凹坑的图像精确地匹配光接收元件3的中心的状态，并且(a1)和(a3)示出了凹坑的图像相对于光接收元件3的中心分别左右倾斜的状态。图2B是说明相对于在部分A和B中接收的光量的信号的相位偏移的波形图，其中(a1’)、(a2’)、(a3’)示出了与图2A的(a1)、(a2)、(a3)的对应的相位偏移。结果，DPD方法是使用由光量引起的相位偏移来检测轨迹误差信号(track error signal)的方法。轨迹误差(TE)信号可以由下面的方程表达。TE＝k(ΔΦAB+ΔΦCD) [方程1]在此，ΔΦAB是在A和B之间的相位偏移，ΔΦCD是在C和D之间的相位偏移。图3是用于检测轨迹误差(Track error，TE)信号的现有技术的轨迹误差检测器件20的方框图，图4A到4E是图3的轨迹误差检测器件的相应的构成元件的输入/输出信号的波形图。以下说明对于与在光学拾取器10的光接收元件3的部分A和B中接收的光量对应的信号的波形检测轨迹误差(TE)信号的现有技术处理。轨迹误差检测器件20包括均衡器11、比较器13、鉴相器15、加法器17和减法器/低通滤波器(SUB/LPF)19。均衡器11均衡与光学拾取器10的光接收元件3的部分A和B中接收的光量对应的信号A和B，并且输出被均衡的信号A1和B1，如图4A所示。比较器13量化如图4A所示的被均衡信号A1和B1，并且输出如图4B所示的数字形式的信号A2和B2。然后，鉴相器(Phase Detector，PD)15如方程1所表达的那样，检测在光接收元件3的部分A和B和在部分C和D之间的相位偏移，以便检测相位偏移(TE)信号。即，PD 15检测相对于图4B所示的比较器13的输出信号A2和B2的相位偏移检测相对于图4B所示的比较器13的输出信号A2和B2的相位偏移，并且输出与图4C所示的相位偏移对应的上信号ABU和下信号ABD。加法器17之一将作为在信号A2和B2中间的相位偏移信号的上信号ABU加到作为在信号C2和D2中间的相位偏移的上信号CDU上。加法器17的另一个将作为在信号A2和B2之间的相位偏移信号的下信号ABD加到作为在信号C2和D2之间的相位偏移信号的下信号CDD。由加法器17相加的信号如图4D所示，并且SUB/LPF 19减去和低通滤波相加的信号，并且输出如图4E所示的轨迹误差(TE)信号。但是，上述的现有技术具有各种问题和缺点。按照如上所述的现有技术轨迹误差检测器件，在与在光接收元件3的部分A、B、C和D中接收的光量对应的信号A、B、C和D中的相位偏移可以由于电路差错而发生，所述电路差错诸如光学象差、非理想凹坑结构、透镜移动、信道不匹配。图5是图解不同类型的相位偏移的图。在图5中，(a)示出了未发生相位偏移的理想情况，(b)示出了在部分A和D(或B和C)之间发生相位偏移的情况，(c)示出了在部分A和B(或C和D)之间发生相位偏移的情况，(d)示出了在部分A、B、C和D之间发生的相位偏移。按照图3所示的现有技术轨迹误差检测器件，针对对应于在部分A和B和在部分C和D中接收的光量的信号检测相位偏移，并且将所检测的相位偏移相加。因此，由于如图5中的(b)所示的电路差错而导致的在部分A和D(或B和C)之间发生的相位偏移不引起任何问题，但是不能消除图5中的(c)和(d)中所示发生的相位偏移。但是，现有技术具有不同的问题和缺点。结果，现有技术的轨迹误差检测器件不能消除由于电路差错而导致发生的各种类型的相位偏移，因此不能检测精确的相位偏移(TE)信号。
技术实现思路
本专利技术的一个目的是解决至少上述的问题和/或缺点，并且提供至少下述的优点。本专利技术的另一个目的是提供一种轨迹误差检测器件及其相位偏移消除方法，所述方法能够通过消除由于轨迹误差检测器件的电路差错而发生的相位偏移来检测准确的轨迹误差信号。为了实现本专利技术的上述方面和/或特点，提供了一种轨迹误差检测器件。所述器件包括用于接收从记录介质的数据记录表面反射的光的元件、在切线方向和径向上在所述元件中接收的被分割的光点，使用对应于在相应的被分割部分中接收的光量的信号A、B、C、D而检测的轨迹误差信号。更具体而言，所述器件包括均衡单元，用于将所输入的信号A、B、C、D均衡到一个电平；比较单元，用于量化被均衡的信号A、B、C、D；相移单元，用于按照控制信号来消除在量化的信号A、B、C、D中的相位偏移。优选的是，所述轨迹误差检测器件还包括系统控制单元，用于产生和输出控制信号到相移单元，所述控制信号用于消除在量化的信号A、B、C、D中的相位偏移。控制信号包括第一控制信号，用于将量化的信号A和C移相到相移单元；第二控制信号，用于将量化的信号B和D移相到相移单元，其中相移单元根据第一和第二控制信号来消除在量化信号A和B之间的相位偏移和在量化信号C和D之间的相位偏移。相移单元包括第一移相器，用于按照第一控制信号来将量化信号A移相；第二移相器，用于按照第二控制信号来将量化的信号B移相；第三移相器，用于按照第一控制信号来将量化信号C移相；第四移相器，用于按照第二控制信号来将量化信号D移相。第一到第四移相器是VCPS(压控移相器)电路，它们按照控制电压来移相。VCPS电路包括第一脉冲产生单元，用于将对应于输入信号的脉冲与控制电压相比较，并且选择对应于输入信号的脉冲的范围；第二脉冲产生单元，用于将对应于反相的输入信号的脉冲和控制电压相比较，并且选择对应于被反相的输入信号的脉冲的范围；触发器，用于接收第一和第二脉冲产生单元的每个的输出信号来分别作为复位信号和置位信号。第一脉冲产生单元包括第一NMOS晶体管，其栅极接收输入信号，其源极接地，其漏极形成第一输出端；第一电容器，连接在第一NMOS晶体管的第一输出端和源极之间；第一电流控制单元，用于控制被提供到第一电容器的电流，所述第一电容器连接到第一NMOS晶体管的第一输出端；第一比较单元，用于将在第一电容器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种轨迹误差检测器件，包括用于接收从记录介质的数据记录表面反射的光的元件、在切线方向和径向上在所述元件中接收的被分割的光点，使用对应于在相应的被分割部分中接收的光量的信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ而检测的轨迹误差信号，所述器件包括：均衡单元，用于将所输入的信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ均衡到一个电平；比较单元，用于量化被均衡的信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ；相移单元，用于按照控制信号来消除在量化的信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ中的相位偏移。

【技术特征摘要】
KR 2003-1-13 2217/031.一种轨迹误差检测器件，包括用于接收从记录介质的数据记录表面反射的光的元件、在切线方向和径向上在所述元件中接收的被分割的光点，使用对应于在相应的被分割部分中接收的光量的信号A、B、C、D而检测的轨迹误差信号，所述器件包括均衡单元，用于将所输入的信号A、B、C、D均衡到一个电平；比较单元，用于量化被均衡的信号A、B、C、D；相移单元，用于按照控制信号来消除在量化的信号A、B、C、D中的相位偏移。2.按照权利要求1的器件，还包括系统控制单元，用于产生并输出控制信号到相移单元，所述控制信号用于消除在量化的信号A、B、C、D中的相位偏移。3.按照权利要求2的器件，所述控制信号包括第一控制信号，用于将量化的信号A和C移相；第二控制信号，用于将量化的信号B和D移相到相移单元，其中相移单元根据第一和第二控制信号来消除在量化信号A和B之间的相位偏移和在量化信号C和D之间的相位偏移。4.按照权利要求3的器件，其中相移单元包括第一移相器，用于按照第一控制信号来将量化信号A移相；第二移相器，用于按照第二控制信号来将量化的信号B移相；第三移相器，用于按照第一控制信号来将量化信号C移相；第四移相器，用于按照第二控制信号来将量化信号D移相。5.按照权利要求4的器件，其中第一到第四移相器是VCPS(压控移相器)电路，它们按照控制电压来移相。6.按照权利要求5的器件，其中VCPS电路包括第一脉冲产生单元，用于将对应于输入信号的脉冲与控制电压相比较，并且选择对应于输入信号的脉冲的范围；第二脉冲产生单元，用于将对应于反相的输入信号的脉冲和控制电压相比较，并且选择对应于被反相的输入信号的脉冲的范围；触发器，用于接收第一和第二脉冲产生单元的每个的输出信号来分别作为复位信号和置位信号。7.按照权利要求6的器件，其中第一脉冲产生单元包括第一NMOS晶体管，其栅极接收输入信号，其源极接地，其漏极形成第一输出端；第一电容器，连接在第一NMOS晶体管的第一输出端和源极之间；第一电流控制单元，用于控制被提供到第一电容器的电流，所述第一电容器连接到第一NMOS晶体管的第一输出端；第一比较单元，用于将在第一电容器中充电的电压与控制电压相比较，并且选择对应于被充电电压的脉冲的特定范围。8.按照权利要求6的器件，其中第二脉冲产生单元包括第二NMOS晶体管，其栅极接收输入信号，其源极接地，其漏极形成第二输出端；第二电容器，连接在第二NMOS晶体管的第二输出端和源极之间；第二电流控制单元，用于控制被提供到第二电容器的电流，所述第二电容器连接到第二NMOS晶体管的第二输出端；第二比较单元，用于将在第二电容器中充电的电压与控制电压相比较，并且选择对应于被充电电压的脉冲的特定范围。9.按照权利要求8的器件，其中，第一电流控制单元和第二电流控制单元控制被提供到相应的第一电容器和第二电容器的电流，以便第一和第二电容器具有用于从地电压电平向电源电压电平充电的恒定的电压降速率。10.一种用于轨迹误差检测器件的相位偏移消除方法，所述轨迹误差检测器件包括用于接收从记录介质的数据记录表面反射光的元件、在切线方向和径向上在所述元件中接收的被分割的光点，使用对应于在相应的被分割部分中接收的光量的信号A、B、C、D而检测的轨迹误...

【专利技术属性】
技术研发人员：李政垠，李正源，张水晶，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]