检测光存储装置的预制槽地址同步的装置和方法制造方法及图纸

一种检测预制槽地址（ＡＤＩＰ）同步的装置和方法，其允许一光存储装置把数据写到光盘的准确位置，其包括：位同步检测单元和字同步检测单元。当在具有第一预定周期的位同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始位同步时，该位同步检测单元将ＡＤＩＰ位的同步确定为处于位同步锁定状态；当在具有第二预定周期的字同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始字同步时，字同步检测单元将ＡＤＩＰ字的同步确定为处于字同步锁定状态。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及能在盘上记录数据的光存储装置，该盘诸如CD-可记录盘(CD-R)、CD-可重写盘(CD-RW)、数字通用盘+可记录盘(DVD+R)和数字通用盘+可重写盘(DVD+RW)，尤其涉及一种检测预制槽地址(ADIP)同步的装置和方法，通过其光存储设备能把数据写到盘的准确位置。
技术介绍
随着光盘需求的增加，随着时间大尺寸和不方便的激光盘(LD)已得到改进，并且已开发了DVD来提高LD的视频特性。近来，DVD已发展为可读和可记录的光盘，如DVD-可记录盘(DVD-R)、DVD-随机存储器(DVD-RAM)、DVD-可重写盘(DVD-RW)、DVD+R、和DVD+RW，这些改进已用于实际应用。通常，在光盘上记录数据的光存储装置的结构特性随着光存储装置使用的光盘类型而变化。然而，对光存储装置来说通常实际上是检测在光盘制造期间已事先记录在光盘上的ADIP，以便在光盘的准确位置写数据和从光盘的准确位置读数据。因此，急需准确检测ADIP，以便允许光存储装置把数据写到光盘的准确位置和从光盘的准确位置读数据。
技术实现思路
本专利技术提供一种检测预制槽地址(ADIP)同步的装置和方法，其允许光存储装置通过有效检测ADIP同步把数据写到光盘的准确位置。按照本专利技术的一个方面，提供一种检测预制槽地址(ADIP)同步的装置，该装置包括一个位同步检测单元和一个字同步检测单元。当在具有第一预定周期的位同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始位同步时，位同步检测单元将ADIP的位同步确定为处于位同步锁定状态。当在具有第二预定周期的字同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始字同步时，字同步检测单元将ADIP的字同步确定为处于字同步锁定状态。将在下面的描述中部分提出本专利技术的其他方面和/或优点，部分地，从其描述中可看得很明显，或从本专利技术中实施中也可了解。按照本专利技术的另一个方面，提供一种检测预制槽地址(ADIP)同步的方法，该方法包括步骤当在具有第一预定周期的位同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始位同步时，将ADIP位的同步确定为处于位同步锁定状态；和如果ADIP位的同步是处于位同步开锁状态，当在具有第二预定周期的字同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始字同步时，就将ADIP字的同步确定为是处于字同步锁定状态。按照本专利技术的另一个方面，提供一种检测预制槽地址(ADIP)同步的方法。该方法包括步骤检测原始位同步；在原始位同步检测期间设置第一计数器的计数值为一预定值，该计数器控制位同步窗的位置；当在位同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始位同步时，将ADIP位的同步确定为处于位同步锁定状态；当在位同步锁定状态下以第二预定数目的连续次数检测到非原始位同步时，就改变位同步锁定状态为位同步开锁状态；在位同步锁定状态下检测原始字同步；在检测原始字同步期间，设置第一计数器的计数值和第二计数器的一个计数值为预定值，它们是用来控制字同步窗的位置的；当处于位同步锁定状态下在字同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始字同步时，将ADIP位的同步确定为处于位同步锁定状态和将ADIP字的同步确定为处于字同步锁定状态；当在字同步锁定状态下以第二预定数目的连续次数检测到非原始字同步时，把ADIP字同步的状态从字同步锁定状态改变为字同步开锁状态和把ADIP位同步的状态从位同步锁定状态改变为位同步开锁状态。附图说明从下面描述的实施例并结合其中相关的附图来看，本专利技术的这些和/或其它方面和优点将更明显，也更容易被理解。图1是按照本专利技术一实施例的一种光存储装置的方框图；图2是图1的数据处理器的方框图； 图3是图2的ADIP同步检测器的方框图；图4是一示例性ADIP信号的时序图；图5是当ADIP字同步和ADIP位同步开锁时在正常模式下检测ADIP同步的时序图；图6是当ADIP字同步和ADIP位同步开锁时在边缘模式下检测ADIP同步的时序图；图7是当ADIP字同步锁定时在正常模式下检测ADIP同步的时序图；图8是当ADIP字同步锁定时在边缘模式下检测ADIP同步的时序图；图9A和图9B是按照本专利技术一实施例说明一种检测光存储装置的ADIP同步的方法的流程图。具体实施例方式下面将详细参照本专利技术的实施例及附图中所示的例子，其中同样的附图标记表示相同的元件。下面参照附图描述实施例来解释本专利技术。图1是按照本专利技术一实施例的光存储装置1000的方框图。参照图1，光存储装置1000包括光拾取器110、自动激光功率控制器(ALPC)120、射频放大器(RF-AMP)130、数据处理器140、主机接口150、电机与驱动器180、伺服处理器170和微处理器190。光拾取器110基于从光盘10反射的光束读出信号。ALPC120控制从光拾取器110的激光器辐射出的光总量。RF-AMP130放大从光拾取器110输出的信号。电机与驱动器180包括一根据电机驱动器转动光盘10的电机。伺服处理器170同电机与驱动器180连接并执行与驱动光盘10相联系的电机控制、跟踪和聚焦控制。数据处理器140包括ADIP同步检测器100，因此检测ADIP信号的同步，并插入和保护同步信号。并且，数据处理器140产生用于解调/调制、错误纠正和RF-AMP130的控制信号。主机接口150是作为光存储装置1000和主机2000之间的接口。微处理器190控制光存储装置1000的全部操作。图2是图1的数据处理器140的方框图。参照图2，数据处理器140包括摆动锁相环(PLL)与ADIP检测器141、摆动相位补偿器142、ADIP同步检测器100、ADIP数据鉴别器147、ADIP纠错码(ECC)解码器148和记录定时脉冲发生器149。摆动PLL与ADIP检测器141包括一摆动PLL和一ADIP检测器。在完成重设或初始化之后摆动PLL与ADIP检测器141从RF-AMP130输出的摆动信号WOBBLE中去除抖动分量和缺陷，然后产生一摆动同步信号PWB、一摆动时钟信号WBCLK和包含ADIP信息的ADIP信号。这里摆动同步信号PWB是锁相而具有与摆动信号WOBBLE的自然频率相同的频率。摆动时钟信号WBCLK用于数据写操作，并且其频率是摆动信号WOBBLE的自然频率的32倍。摆动相位补偿器142按在光盘10上的一实际块的开始位置、摆动同步信号PWB和ADIP信号之间建立一预定关系的方式来操作。摆动相位补偿器142的这个操作补偿由于在摆动检测中使用滤波器而产生的信号延迟。ADIP同步检测器100包括ADIP位同步检测单元50和ADIP字同步检测单元60。ADIP位同步检测单元50检测对对应于1个摆动的位的ADIP同步(ADIP位同步)。更具体为，ADIP位同步检测单元50从93个摆动中检测ADIP信号的准确位置，并防止把在不正确位置检测的位同步图样检测为实际ADIP位同步。并且，当由于光盘10的缺陷或其它原因不能从正确位置检测到位同步，ADIP位同步检测单元50恢复正确的ADIP位同步。ADIP字同步检测单元60检测并恢复字的ADIP同步(ADIP字同步)，其中此ADIP字同步在ADIP位同步每出现52次出现一次。这里，在处理ADIP位同步期间处理ADIP字同步。参见图3描述了ADIP同步检测器100的详细结构。AD本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测预制槽地址（ＡＤＩＰ）同步的装置，该装置包括：位同步检测单元，当在具有第一预定周期的位同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始位同步时，该位同步检测单元将ＡＤＩＰ位的同步确定为处于位同步锁定状态；和字同步检测单元， 当在具有第二预定周期的字同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始字同步，该字同步检测单元将ＡＤＩＰ字的同步确定为处于字同步锁定状态。

【技术特征摘要】
KR 2003-2-5 7114/031.一种检测预制槽地址(ADIP)同步的装置，该装置包括位同步检测单元，当在具有第一预定周期的位同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始位同步时，该位同步检测单元将ADIP位的同步确定为处于位同步锁定状态；和字同步检测单元，当在具有第二预定周期的字同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始字同步，该字同步检测单元将ADIP字的同步确定为处于字同步锁定状态。2.根据权利要求1所述的装置，进一步包括检测模式设置单元，其将位同步检测单元和字同步检测单元的ADIP检测模式分别设置为正常模式和边缘模式的其中之一。3.根据权利要求2所述的装置，其中所述边缘模式具有比正常模式更具灵活性的检测图样，以增加检测ADIP同步的可能性。4.根据权利要求1所述的装置，其中所述位同步检测单元包括原始位同步检测单元，其检测原始位同步；位同步连续判断单元，其判断是否在位同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始位同步，和是否在位同步锁定状态下以第二预定数目的连续次数检测到非原始位同步；和第一计数器，其控制所述位同步窗的位置。5.根据权利要求4所述的装置，其中当在所述位同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始位同步时，所述位同步检测单元将ADIP位的同步确定为处于位同步锁定状态。6.根据权利要求5所述的装置，其中当在字同步锁定状态下以第二预定数目的连续次数检测到非原始字同步时，所述位同步连续判断单元把ADIP位同步的状态从位同步锁定状态改变为位同步开锁状态。7.根据权利要求4所述的装置，进一步包括位同步锁定设置单元，其将一个表示第一预定数目的连续次数的信号输出到所述位同步连续判断单元，其中该第一预定数目的连续次数在该位同步连续判断单元使用，以判断ADIP位的同步是否处于位同步锁定状态。8.根据权利要求4所述的装置，进一步包括位同步开锁设置单元，其将一个表示第二预定数目的连续次数的信号输出到所述位同步连续判断单元，其中该第二预定数目的连续次数在该位同步连续判断单元使用，以判断ADIP位的同步是否处于位同步开锁状态。9.根据权利要求4所述的装置，其中在检测原始位同步期间，将所述第一计数器的一个计数值设置为用于在所述位同步窗中检测ADIP位的同步的一个最佳值。10.根据权利要求1所述的装置，其中该字同步检测单元包括原始字同步检测单元，其检测原始字同步；字同步连续判断单元，其判断是否在字同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始字同步，和是否在字同步锁定状态下以第二预定数目的连续次数检测到非原始字同步；和第二计数器，其控制所述字同步窗的位置。11.根据权利要求10所述的装置，其中当在所述字同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始字同步时，所述字同步检测单元将ADIP字的同步确定为处于字同步锁定状态。12.根据权利要求11所述的装置，其中当在字同步锁定状态下以第二预定数目的连续次数检测到非原始字同步时，所述字同步连续判断单元把ADIP字同步的状态从字同步锁定状态改变为字同步开锁状态。13.根据权利要求10所述的装置，进一步包括位同步锁定设置单元，其将一个表示第一预定数目的连续次数的信号输出到所述位同步连续判断单元，其中该第一预定数目的连续次数在该位同步连续判断单元使用，以判断ADIP位的同步是否处于位同步锁定状态。14.根据权利要求10所述的装置，进一步包括位同步开锁设置单元，其将一个表示第二预定数目的连续次数的信号输出到所述字同步连续判断单元，其中该第二预定数目的连续次数在该字同步连续判断单元使用，以判断ADIP字的同步是否处于字同步开锁状态。15.根据权利要求10所述的装置，其中在检测原始字同步期间，将第一计数器的一个计数值设置为用于在所述字同步窗中检测ADIP字的同步的一个最佳值。16.根据权利要求10所述的装置，其中在检测原始字同步期间，将第二计数器的一个计数值设置为用于在所述字同步窗中检测ADIP字的同步的一个最佳值。17.一种检测预制槽地址(ADIP)同步的方法，该方法包括当在具有第一预定周期的位同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始位同步时，将ADIP位的同步确定为处于位同步锁定状态；和当ADIP位的同步处于位同步锁定状态时，当在具有第二预定周期的字同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始字同步时，将ADIP字的同步确定为处于字同步锁定状态。18.根据权利要求17所述的方法，其中确定ADIP位的同步的步骤包括检测原始位同步；在原始位同步检测期间，将控制位同步窗位置的第一计数器的一个计数值设置为一个预定值；当在位同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始位同步时，将ADIP位的同步确定为处于位同步锁定状态；和当在位同步锁定状态下以第二预定数目的连续次数检测到非原始位同步时，就将ADIP位的同步状态从位同步锁定状态改变为位同步开锁状态。19.根据权利要求18所述的方法，其中在检测原始位同步期间，将所述第一计数器的计数值设置为用于在所述位同步窗中检测ADIP位的同步的一个最佳值。20.根据权利要求17所述的方法，其中确定ADIP字的同步的步骤包括检测原始字同步；在检测原始字同步期间，将控制字同步窗位置的第二计数器的一个计数值设置为一个预定值；当在字同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始字同步时，将ADIP字的同步确定为处于字同步锁定状态；和当在字同步锁定状态下以第二预定数目的连续次数检测到非原始字同步时，把ADIP字同步的状态从字同步锁定状态改变为字同步开锁状态。21.根据权利要求20所述的方法，其中在检测原始字同步期间，将第一计数器的计数值设置为用于在所述字同步窗中检测ADIP字的同步的一个最佳值。22....

【专利技术属性】
技术研发人员：严佑植，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]