电性测试装置制造方法及图纸

本申请适用于电工设备技术领域，提供了一种电性测试装置，包括第一驱动件、第二驱动件、转盘、卫星盘、吸嘴座、下压机构和检测座，第一驱动件驱动转盘旋转；第二驱动件驱动卫星盘旋转；吸嘴座设于卫星盘上，沿吸嘴座的周向设有多个吸嘴；下压机构用于下压吸嘴吸取待测件和下压吸嘴上的待测件进行电性测试；检测座用于对吸嘴上的待测件进行电性测试。本申请提供的电性测试装置，通过分别驱动转盘和卫星盘转动，下压机构可以分别对卫星盘上的吸嘴进行吸取待测件和下压待测件到检测座上进行电性测试，对检测完的吸嘴下的待测件，卫星盘转动，使未检测的吸嘴下的待测件被下压机构下压进行电性测试，避免其他吸嘴在吸取待测件等待时间，提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
电性测试装置


[0001]本申请涉及电工设备
，更具体地说，是涉及一种电性测试装置。

技术介绍

[0002]目前，随着半导体分立器件产业在国际市场占有举足轻重的地位提升，并保持着持续、快速、稳定的发展，同时电子整机、消费类电子产品等市场的发展，使半导体分立器件的需求量的增长。因此，现代的生产工厂需要一种高速，高性能的测试分选设备以满足其生产需要，市场上材料测试的方式有并测和串测两种方式。机台上一般是有4个测试站，站与站之间都是挨着分布在主转盘的一侧，材料从主转盘进入测试站，一个转盘与下压机构连接，另一个转盘与吸嘴座连接，其旋转电机分别与两个转盘连接，并带动两个转盘同步转动，其串测的检测方式是材料通过主转盘的旋转和上下运动逐一通过4个测试站的检测完成测试；并测的检测方式是主转盘旋转运送4颗材料陆续到四个测试站上方(4个吸嘴对应4个测试站)，此时吸嘴同时下压到测试座接触测试片进行检测，检测完成之后吸嘴同时取料完成电性测试。无论是串测还是并测，两个转盘都是在一个旋转电机的驱动下同步转动，使下压机构与吸嘴座只能对应设置，导致用户使用时适用性差、效率低的问题。

技术实现思路

[0003]本申请实施例的目的在于提供一种电性测试装置，旨在解决现有技术中测试设备的两个转盘由同一个旋转电机驱动导致其用户使用时适用性差、效率低的技术问题。
[0004]为实现上述目的，本申请采用的技术方案是：提供一种电性测试装置，包括：
[0005]第一驱动件；
[0006]第二驱动件，所述第二驱动件与所述第一驱动件同轴设置；
[0007]转盘，所述转盘与所述第一驱动件连接，所述第一驱动件驱动所述转盘旋转；
[0008]卫星盘，所述卫星盘与所述第二驱动件连接，所述第二驱动件驱动所述卫星盘旋转；
[0009]吸嘴座，所述吸嘴座设置于所述卫星盘上，沿所述吸嘴座的周向设置有多个吸嘴；
[0010]下压机构，所述下压机构设置于所述转盘上，用于下压所述吸嘴吸取待测件和下压所述吸嘴上的待测件进行电性测试；
[0011]检测座，所述检测座设置于所述卫星盘的下方，用于对所述吸嘴上的待测件进行电性测试。
[0012]进一步地，所述第二驱动件包括第二驱动电机和第二输出轴，所述第二驱动电机和所述第二输出轴设置有中空结构，所述第二输出轴与所述卫星盘连接；
[0013]所述第一驱动件包括第一驱动电机和第一输出轴，所述第一驱动电机与所述第一输出轴连接，所述第一输出轴依次穿过所述第二驱动电机的中空结构、所述第二输出轴的中空结构和所述卫星盘与所述转盘连接。
[0014]进一步地，所述吸嘴座设置有两个，且两个所述吸嘴座沿所述卫星盘周向设置，且
每个所述吸嘴座上设置吸嘴数量与所述检测座的数量相等。
[0015]进一步地，所述吸嘴座呈扇形，多个所述吸嘴沿所述吸嘴座的边缘设置。
[0016]进一步地，所述下压机构包括驱动部和顶杆组件，所述驱动部与所述顶杆组件连接，所述驱动件驱动所述顶杆组件向所述卫星盘的方向往返运动。
[0017]进一步地，所述下压机构还包括支座，所述驱动部与所述支座固定连接，且所述驱动部的输出轴穿过所述支座与所述顶杆组件传动连接。
[0018]进一步地，所述支座呈L型支座，所述L型支座上设置有通孔；
[0019]所述顶杆组件包括移动杆、球形头和弹性件，所述球形头设置于所述移动杆的顶端，所述弹性件套设于所述移动杆上，并设置于所述通孔内，所述驱动部带动所述球形头移动，所述球形头带动所述移动杆沿所述通孔的轴向移动抵靠在所述吸嘴上。
[0020]进一步地，所述顶杆组件还包括限位杆，所述限位杆通过支架与所述球形头连接，所述L型支座上设置有限位孔，所述限位孔内设置有阻挡部，所述限位杆位于所述限位孔内，所述移动杆移动时，所述限位杆可抵靠在所述阻挡部上。
[0021]进一步地，所述下压机构包括第一下压机构和第二下压机构，所述第一下压机构用于下压所述吸嘴吸取待测件；
[0022]所述第二下压机构与所述所述第一下压机构沿所述转盘的周向间隔设置，用于下压所述吸嘴上的待测件至所述检测座进行电性测试。
[0023]进一步地，所述第二下压机构的数量与所述检测座的数量相等。
[0024]本申请提供的电性测试装置的有益效果在于：与现有技术相比，本申请的电性测试装置，通过第一驱动件驱动转盘转动，第二驱动件驱动卫星盘转动，下压机构可以分别对卫星盘上的吸嘴进行吸取待测件和下压待测件到检测座上进行电性测试，对检测完的吸嘴下的待测件，可以通过第二驱动件驱动卫星盘转动，使未检测的吸嘴下的待测件移动至检测座的上方，再通过下压机构进行下压进行电性测试，这样避免了待测件检测完转盘与卫星盘同时转动再吸取待测件进行转动测试的繁琐操作，提高了测试效率。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1是本申请的一个实施例提供的电性测试装置的一视角结构示意图；
[0027]图2是本申请的一个实施例提供的电性测试装置的另一视角结构示意图；
[0028]图3是本申请的一个实施例提供的电性测试装置的又一视角结构示意图
[0029]图4是图3中的电性测试装置沿A
‑
A方向的剖面示意图；
[0030]图5是本申请的一个实施例提供的电性测试装置的下压机构的结构示意图。
[0031]上述附图所涉及的标号明细如下：
[0032]1‑
第一驱动件；2
‑
第二驱动件；3
‑
转盘；4
‑
卫星盘；5
‑
下压机构；6
‑
吸嘴座；7
‑
吸嘴；8
‑
检测座；9
‑
支架；
[0033]11
‑
第一驱动电机；12
‑
第一输出轴；
[0034]21
‑
第二驱动电机；22
‑
第二输出轴；
[0035]51
‑
第一下压机构；52
‑
第二下压机构；53
‑
驱动部；54
‑
支座；55
‑
移动杆；56
‑
球形头；57
‑
弹性件；58
‑
限位杆；59
‑
阻挡部。
具体实施方式
[0036]为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电性测试装置，其特征在于，包括：第一驱动件；第二驱动件，所述第二驱动件与所述第一驱动件同轴设置；转盘，所述转盘与所述第一驱动件连接，所述第一驱动件驱动所述转盘旋转；卫星盘，所述卫星盘与所述第二驱动件连接，所述第二驱动件驱动所述卫星盘旋转；吸嘴座，所述吸嘴座设置于所述卫星盘上，沿所述吸嘴座的周向设置有多个吸嘴；下压机构，所述下压机构设置于所述转盘上，用于下压所述吸嘴吸取待测件和下压所述吸嘴上的待测件进行电性测试；检测座，所述检测座设置于所述卫星盘的下方，用于对所述吸嘴上的待测件进行电性测试。2.如权利要求1所述的电性测试装置，其特征在于，所述第二驱动件包括第二驱动电机和第二输出轴，所述第二驱动电机和所述第二输出轴设置有中空结构，所述第二输出轴与所述卫星盘连接；所述第一驱动件包括第一驱动电机和第一输出轴，所述第一驱动电机与所述第一输出轴连接，所述第一输出轴依次穿过所述第二驱动电机的中空结构、所述第二输出轴的中空结构和所述卫星盘与所述转盘连接。3.如权利要求1所述的电性测试装置，其特征在于，所述吸嘴座设置有两个，且两个所述吸嘴座沿所述卫星盘周向设置，且每个所述吸嘴座上设置吸嘴数量与所述检测座的数量相等。4.如权利要求3所述的电性测试装置，其特征在于，所述吸嘴座呈扇形，多个所述吸嘴沿所述吸嘴座的边缘设置。5.如权利要求1所述的电性测试装置，其特征在于，所述下压机构包...

【专利技术属性】
技术研发人员：林广满，陈林山，范聚吉，王建勇，
申请(专利权)人：深圳市深科达半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：