一种熔样机试样的快速冷却装置制造方法及图纸

技术编号:30587509 阅读:21 留言:0更新日期:2021-11-03 22:51
本实用新型专利技术属于熔样机试样的冷却技术领域,本实用新型专利技术公开了一种熔样机试样的快速冷却装置,冷却托板固定设置在支架上,冷却托板为中间设置有方形凹槽;堇青石垫板固定设置在所述冷却托板方形凹槽的前端位置,堇青石垫板用于试样坩埚中液体试样的预冷却成型;放置孔等阵列设置在冷却托板方形凹槽的后半部上,所述放置孔用于放置坩埚垫;试样坩埚放置在坩埚垫的上部,试样坩埚用于放置试样;冷却箱为四方体结构,风机安装孔固定设置在所述冷却箱的左侧中间位置,风机固定安装在风机安装孔上。该实用新型专利技术利用预冷却垫板进行预冷却成型,防止了X荧光分析试样的炸裂,利用冷却箱实现了对X荧光分析试样快速冷却,提高了X荧光分析试样的冷却效率。样的冷却效率。样的冷却效率。

【技术实现步骤摘要】
一种熔样机试样的快速冷却装置


[0001]本技术属于熔样机试样的冷却
,具体涉及一种熔样机试样的快速冷却装置。

技术介绍

[0002]X荧光分析法,是对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据;谱线的强度是定量分析的依据。X荧光分析法的分析试样,需要经过熔样机重熔制备试样。X荧光分析试样的制备,是将试样放置在坩埚中,并将坩埚放置在熔样机中进行重熔形成高温的液体状,然后从熔样机中取出,经过冷却形成X荧光分析试样。熔样机主要用于AAS、ICP、X0荧光分析的样品制备,具有操作简便、性能稳定、使用 安全可靠等优点,被广泛用于水泥、矿砂、石灰、窑砖等领域中。
[0003]现有技术中,从熔样机中取出的坩埚中的液体试样,一般是采用自然冷却的方式,但是由于坩埚中液体试样自然冷却的过程较长,是造成整个X荧光分析过程慢的重要因素,不能满足分析结果及时高效的要求。专利技术人基于现有技术中的缺陷研发了一种熔样机试样的快速冷却装置,能够很好地解决现有技术中存在的上述缺陷。

技术实现思路

[0004]本技术为了解决上述技术问题,提供一种熔样机试样的快速冷却装置,其设计结构简单、科学合理、操作方便;本技术根据X荧光分析试样冷却过程中特性(试样的冷却一般分为两个阶段,一个阶段为试样的预冷却,其主要目的是在自然冷却的条件下使液体试样冷却成型,防止试样因快速冷却而炸裂;另一阶段是试样的快速冷却,提高了试样的冷却效率),设置预冷却垫板(堇青石垫板)进行预冷却成型,然后通过设置风机对所设置的冷却箱中强制吹风,对坩埚中的试样进行快速冷却降温。
[0005]本技术所采用的技术方案是:一种熔样机试样的快速冷却装置,包括冷却托板、堇青石垫板、放置孔、试样坩埚;冷却托板固定设置在支架上,所述冷却托板为中间设置有方形凹槽;堇青石垫板固定设置在所述冷却托板方形凹槽的前端位置,所述堇青石垫板用于试样坩埚中液体试样的预冷却成型;放置孔等阵列设置在冷却托板方形凹槽的后半部上,所述放置孔用于放置坩埚垫;试样坩埚放置在坩埚垫的上部,所述试样坩埚用于放置试样;所述坩埚垫包括坩埚垫本体,坩埚垫本体的内部为直径逐渐变小的渐变状,中心孔设置在坩埚垫本体底部的中心位置,通风槽围绕所述中心孔的周向等间距等分设置,所述中心孔和通风槽用于对试样坩埚底部的通风冷却;冷却箱为四方体结构,风机安装孔固定设置在所述冷却箱的左侧中间位置,风机固定安装在风机安装孔上。
[0006]所述坩埚垫本体的内部为直径逐渐变小的锥形面,中心孔的直径小于坩埚垫本体的上部直径。
[0007]所述通风槽为U型状,通风槽接近中心孔位置为开口状,远离中心孔位置为弧形光
滑面。
[0008]所述风机安装孔在冷却箱的左侧面上水平设置有两个,每一个风机安装孔上固定安装一个风机。
[0009]这种熔样机试样的快速冷却装置的使用过程为:操作人员用坩埚夹取工具将试样坩埚从熔样机中取出,首先放置在堇青石垫板上进行自然预冷却,当液态的X荧光分析试样冷却成型后,同样操作人员用坩埚夹取工具将冷却成型的试样坩埚放置在坩埚垫上,然后操作人员开启风机的控制开关,将风机启动,利用两个分风机往冷却箱中强制通风,冷却风在冷却箱中形成涡流状,最后通过坩埚垫的中心孔和通风槽,将冷却风对准试样坩埚的底部进行快速冷却降温。上述这样就完成了X荧光分析试样的快速冷却。
[0010]所述堇青石垫板固定设置在所述冷却托板方形凹槽的前端位置,所述堇青石垫板用于试样坩埚中液体试样的预冷却成型;这样设置的主要目的是:利用堇青石垫板高耐热性能,防止了高温的试样坩埚对冷却托板的损伤,起到保护冷却托板的作用。
[0011]所述坩埚垫包括坩埚垫本体,坩埚垫本体的内部为直径逐渐变小的渐变状。这样设置的主要目的是:通过坩埚垫本体的内部设置为直径逐渐变小的锥形面,一方面可以提高试样坩埚的放置的稳定性;另一方面提高了冷却风与试样坩埚的冷却接触面积。
[0012]所述中心孔设置在坩埚垫本体底部的中心位置,通风槽围绕所述中心孔的周向等间距等分设置。这样设置的主要目的是:利用两个分风机往冷却箱中强制通风,使冷却风在冷却箱中形成涡流状,提高了热交换效率,提高试样坩埚中X荧光分析试样冷却速度。
[0013]本技术的有益效果:本技术提供一种熔样机试样的快速冷却装置,其设计结构简单、科学合理、操作方便;利用预冷却垫板(堇青石垫板)进行预冷却成型,防止了X荧光分析试样的炸裂,利用冷却箱实现了对X荧光分析试样快速冷却,提高了X荧光分析试样的冷却效率。
附图说明
[0014]图1为本技术的结构示意图;
[0015]图2为本技术坩埚垫的结构示意图;
[0016]图中标记:1、冷却托板,2、堇青石垫板,3、放置孔,4、试样坩埚,5、坩埚垫,51、坩埚垫本体,52、中心孔,53、通风槽,6、冷却箱,7、风机安装孔,8、风机。
具体实施方式
[0017]以下结合附图对本技术的具体实施方式做进一步的详细说明。
[0018]如图所示,一种熔样机试样的快速冷却装置,包括冷却托板1、堇青石垫板2、放置孔3、试样坩埚4;冷却托板1固定设置在支架上,所述冷却托板1为中间设置有方形凹槽;堇青石垫板2固定设置在所述冷却托板1方形凹槽的前端位置,所述堇青石垫板2用于试样坩埚4中液体试样的预冷却成型;放置孔3等阵列设置在冷却托板1方形凹槽的后半部上,所述放置孔3用于放置坩埚垫5;试样坩埚4放置在坩埚垫5的上部,所述试样坩埚4用于放置试样;所述坩埚垫5包括坩埚垫本体51,坩埚垫本体51的内部为直径逐渐变小的渐变状,中心孔52设置在坩埚垫本体51底部的中心位置,通风槽53围绕所述中心孔52的周向等间距等分设置,所述中心孔52和通风槽53用于对试样坩埚4底部的通风冷却;冷却箱6为四方体结构,
风机安装孔7固定设置在所述冷却箱6的左侧中间位置,风机8固定安装在风机安装孔7上。
[0019]所述坩埚垫本体51的内部为直径逐渐变小的锥形面,中心孔52的直径小于坩埚垫本体51的上部直径。
[0020]所述通风槽53为U型状,通风槽53接近中心孔52位置为开口状,远离中心孔52位置为弧形光滑面。
[0021]所述风机安装孔7在冷却箱6的左侧面上水平设置有两个,每一个风机安装孔7上固定安装一个风机8。
[0022]这种熔样机试样的快速冷却装置的使用过程为:操作人员用坩埚夹取工具将试样坩埚4从熔样机中取出,首先放置在堇青石垫板2上进行自然预冷却,当液态的X荧光分析试样冷却成型后,同样操作人员用坩埚夹取工具将冷却成型的试样坩埚4放置在坩埚垫5上,然后操作人员开启风机8的控制开关,将风机8启动,利用两个分风机8往冷却箱6中强制通风,冷却风在冷却箱6中形成涡流状,最后通过坩埚垫5的中心孔52和通风槽53,将冷却风对准试样坩埚4的本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种熔样机试样的快速冷却装置,包括冷却托板、堇青石垫板、放置孔、试样坩埚;冷却托板固定设置在支架上,所述冷却托板为中间设置有方形凹槽;其特征在于:堇青石垫板固定设置在所述冷却托板方形凹槽的前端位置,所述堇青石垫板用于试样坩埚中液体试样的预冷却成型;放置孔等阵列设置在冷却托板方形凹槽的后半部上,所述放置孔用于放置坩埚垫;试样坩埚放置在坩埚垫的上部,所述试样坩埚用于放置试样;所述坩埚垫包括坩埚垫本体,坩埚垫本体的内部为直径逐渐变小的渐变状,中心孔设置在坩埚垫本体底部的中心位置,通风槽围绕所述中心孔的周向等间距等分设置,所述中心孔和通风槽用于对试样坩埚底部...

【专利技术属性】
技术研发人员:华冰罗宇坤王遂海薛心信
申请(专利权)人:洛阳泰纳克高温仪器设备有限公司
类型:新型
国别省市:

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