光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路。对于驱动器来说，即使是未知的介质，也能得到更接近最佳的记录条件。特别地，提供一种即使在难以进行测试记录的高速记录中，也能得到合适的记录条件的方法。在该方法中，根据记录速度的变化或内外周的记录位置，以预定的时刻同时校正记录脉冲的功率和相位。例如，通过２倍速的从内周至外周的持续记录而产生的相移（△Ｐｈａｓｅ），在从２倍速到４倍速的速度转换时刻与功率偏移一起进行校正，以后，同样地，按每个记录速度的转换时刻同时校正功率和相移。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路，尤其涉及能够进行依照驱动器和介质的匹配性的记录条件最优化的光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路。
技术介绍
在以CD-R和DVD-R等为代表的光信息记录介质(以下称作“介质”)的记录中，作为记录对象的介质与记录所使用的记录装置(以下称作“驱动器”)的匹配性因各个组合的不同而不同。作为其原因，考虑有以下情况，即由于构成介质的记录材料的种类的不同或制造时的成膜差异而使最佳的记录条件发生变化的介质一方的主要原因；和由于构成驱动器的拾取器、半导体激光器的种类的不同或制造时的组装差异而使最佳的条件发生变化的驱动器一方的主要原因。实际上，作为它们的复合原因，存在适合于各组合的记录条件。因此，以往使用以下的方法，即预先在介质一方存储可从驱动器一方识别该介质的种类的ID信息，并且预先在驱动器一方按介质的种类存储预先准备的记录条件，在进行实际的记录时，从放入在驱动器中的介质读入该介质的ID信息，使用与该ID信息相关联的记录条件(称作“光策略(light strategy)”)。可是，在以往的方法中，对于预先验证过的已知的介质，能选择在某种程度上适合的某个记录条件，但是对于未验证的未知的介质，就存在无法用所准备的记录条件应对的情况，此外，即使是已知的介质，因为记录环境的变化，例如记录速度、干扰、时间的变化，存在无法用所准备的记录条件应对的情况。作为应对这样的未知介质的方法，已知有以下文献所记载的方法。日本特开2003-30837号公报[专利文献2]日本特开2004-110995号公报在上述专利文献1的段落0020中，有“...对各记录图案(pattern)检测与道时钟(channel clock)的相位误差。记录补偿参数调整部12根据相位误差检测部11的检测结果，使发光波形规则最优化...”这样的记载，公开了通过与道时钟的比较来检测、校正相位误差的方法。此外，在上述文献1的段落0024中有“接着，记录用于确定发光波形规则的测试图案。然后，再现已记录该测试图案的区域，研究预先准备的发光波形规则与相位误差量的关系。即，测量各种标记的长度与紧接在该标记之前的各种间隔的长度的各组合中的相位误差量。从测量出的相位误差量预测相位误差量变为零的发光波形规则，确定所需的发光波形规则...”这样的记载，公开了按标记(mark)和间隔(space)的各组合来测量相位误差量，预测相位误差量变为零的方法(参照图8和图12)。根据该专利文献1中记载的方法，能进行基于记录图案的相位误差的校正，因此该方法是对策略的最优化有效的方法。但是，在上述专利文献1的方法中，与以往相同，是对预先存储在驱动器中的策略进行微调整，所以对于不适合预先存储的策略的介质，就难以满足良好的记录品质。此外，在上述专利文献2的段落0045中，有“...一体地(连续地)生成相当于3T期间的起始脉冲和相当于8T期间的单脉冲...”这样的记载，在上述专利文献2的段落0046中，有“...光脉冲以2级来调整激光功率，当激光功率(起始脉冲的峰值)Ph与激光功率(非多脉冲的峰值)Pm的比处于最佳时，得到最佳功率...”这样的记载，暗示了对Ph/Pm的比率进行最优化的有用性。但是，在上述专利文献2的方法中，如该文献的段落0067中所记载的那样，根据存储在驱动器或介质中的值，临时设定Ph和Pm的初始值，然后求出Ph/Pm的比率，因此与专利文献1的情况一样，对于不适合临时设定的值的介质，就难以满足良好的记录品质。而在光信息记录系统中，在对预定的记录介质进行数据记录时，一般来说，通过在进行实际的数据记录之前，进行使用设置在该记录介质内的测试记录区域的测试记录，能够求出适于该记录介质的记录条件。但是，在高速记录要求高的光信息记录系统中，难以根据该测试记录区域与实际的记录区域的位置关系、和使该记录介质转动的主轴电动机的转速的关系，以与实际记录时相同的速度进行测试记录。因此，在现有技术中，一般采用以下的方法，即在进行数据记录的记录器中预先按记录介质的每个种类存储适于各记录速度的记录条件，在实际的高速记录时读出该记录条件并进行设定，进行数据的记录。在该现有技术中，还具有以下的方法，即使用可进行测试记录的记录速度进行测试记录时的最佳记录条件与存储于该记录器的最佳条件的差，对高速记录时的记录条件进行微调整。但是，在这种现有技术中，存在以下的问题，即不能够充分地应对记录介质和记录系统所具有的特性差异，而且也不能够充分地应对未预先在该记录器中进行了上述存储的记录介质、或在该记录器制造后所开发出的记录介质等“未知介质”。正在寻求一种按照要进行数据记录的介质和记录器的特性来求出对每种记录速度的最佳记录条件的技术。作为解决上述问题的方法，公知有下述专利文献所记载的方法读出预先记录在记录介质上的2种或2种以上的记录速度下的振幅信息与记录功率之间的关系，计算要进行记录的记录速度的记录功率。日本特开2004-234698号公报但是，在上述方法中，存在以下3个问题第1，该方法以预先将用于计算记录功率的信息记录在记录介质中为前提，对于未记录上述信息的介质则无法应对；第2，因为是在记录介质的生产阶段记录上述信息的，所以由于生产工序增加而导致效率降低和成本上升；第3，对于在系统方面难以以计算出的记录功率进行记录的情况，应对是不充分的。另外，在从内周向外周记录速度发生变化的CAV、CLV等记录系统中，除了记录速度的变化所引起的最佳记录条件的变化外，还由于记录过程中的驱动器的温度变化或介质的内外特性差等各种原因而产生与最佳记录条件的偏移。作为解决这样的偏移的方法，公知有下述专利文件所记载的方法。日本特开2002-208139号公报在上述专利文献4中，公开了以下的方法将光盘介质沿半径方向分成多个，再现对每个该分割后的记录区域进行了记录的终端部分，利用再现后所得到的再现信号的特性进行功率校正。但是，在该专利文献4中，虽然对校正功率的方法进行了详细的说明，但是对于校正脉冲宽度的方法，并没有公开具体的方法，即便将公知的脉冲宽度校正方法适用于该专利文献4的方法中，也难以进行脉冲宽度的准确的校正。
技术实现思路
因此，本专利技术提供一种与驱动器和介质的匹配性相应的记录条件最优化方法，特别是提供一种即使在难以进行测试记录的高速记录中也得到合适的记录条件的有效的方法，进而提供一种对从内周到外周记录速度变化的CAV、CLV记录中的最佳记录条件的设定有效的方法。为达到上述目的，本专利技术的第1方案提供一种光信息记录装置，通过进行基于记录脉冲的激光照射，在光记录介质上形成由坑和岸构成的记录图案，该光信息记录装置的特征在于，包括通过对上述介质的测试记录，设定上述记录脉冲的功率和相位的最佳条件的装置；检测通过对上述介质的真正记录所形成的坑和岸的记录状态的装置；从上述检测出的记录状态导出上述记录脉冲的设定功率和设定相位的校正量的装置；以及基于上述所导出的校正量，校正上述记录脉冲的功率和相位的装置。这样，通过在真正记录时校正由测试记录所得到的功率和相位这两者的最佳条件，能够消除驱动器的温度变化、介质的内外特性差等各种变动的原因，因此，能够谋求应对更高速更高密度的、苛刻的记录环境。优选的是，使用设置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光信息记录装置，通过进行基于记录脉冲的激光照射，在光记录介质上形成由坑和岸构成的记录图案，该光信息记录装置的特征在于，包括：通过对上述介质的测试记录，设定上述记录脉冲的功率和相位的最佳条件的装置；检测通过对上述介质的真正 记录所形成的坑和岸的记录状态的装置；从上述检测出的记录状态导出上述记录脉冲的设定功率和设定相位的校正量的装置；以及基于上述所导出的校正量，校正上述记录脉冲的功率和相位的装置。

【技术特征摘要】
JP 2005-3-29 095241/20051.一种光信息记录装置，通过进行基于记录脉冲的激光照射，在光记录介质上形成由坑和岸构成的记录图案，该光信息记录装置的特征在于，包括通过对上述介质的测试记录，设定上述记录脉冲的功率和相位的最佳条件的装置；检测通过对上述介质的真正记录所形成的坑和岸的记录状态的装置；从上述检测出的记录状态导出上述记录脉冲的设定功率和设定相位的校正量的装置；以及基于上述所导出的校正量，校正上述记录脉冲的功率和相位的装置。2.根据权利要求1所述的光信息记录装置，其特征在于上述记录状态的检测，是使对上述介质的记录动作暂时停止来进行的，并且在该暂时停止的期间，同时进行上述功率的校正和上述相位的校正。3.根据权利要求2所述的光信息记录装置，其特征在于上述暂时停止，是在使对上述介质的记录速度变化的时刻进行的。4.根据权利要求1所述的光信息记录装置，其特征在于，包括根据上述检测出的记录状态，检测与上述最佳条件的功率偏移量的装置；根据上述检测出的记录状态，检测上述坑和岸的相移量的装置；从上述检测出的相移量除去上述功率偏移量影响的量的装置；基于除去上述功率偏移量影响的量后的相移量，校正上述相位的最佳条件的装置；以及基于上述检测出的功率偏移量，校正上述功率的最佳条件的装置。5.根据权利要求1所示的光信息记录装置，其特征在于，包括通过对上述介质的测试记录，求出上述记录脉冲的功率条件评价指标和相位条件评价指标的相关性的装置；通过基于上述各评价指标的、对介质的测试记录，设定上述记录脉冲的功率和相位的最佳条件的装置；检测通过对上述介质的真正记录所形成的坑和岸的记录状态的装置；根据上述检测出的记录状态，检测与上述最佳条件的功率偏移量的装置；根据上述检测出的记录状态，检测上述坑和岸的相移量的装置；利用上述相关性，从上述检测出的相移量除去上述功率偏移量影响的量的装置；基于除去上述功率偏移量影响的量后的相移量，校正上述相位的最佳条件的装置；以及基于上述检测出的功率偏移量，校正上述功率的最佳条件的装置。6.一种光信息记录装置，通过进行基于记录脉冲的激光照射，在光记录介质上进行信息的记录，该光信息记录装置的特征在于，包括在设置于上述介质的内周侧的测试区域进行测试记录的装置；基于上述测试记录的结果，确定在设置于比上述测试区域更靠外周的外周侧的记录区域上的上述记录脉冲的条件的装置；使用上述所确定的条件，在上述记录区域上进行记录的装置；再现上述所记录的结果的装置；以及基于上述再现而得到的结果，校正上述记录区域的记录脉冲的功率和相位的装置。7.一种光信息记录装置，通过进行基于记录脉冲的激光照射，以多种速度在光记录介质上进行信息的记录，该光信息记录装置的特征在于，包括在设置于上述介质的内周侧的测试区域，以第1速度进行测试记录的装置；基于上述测试记录的结果，确定上述第1速度下的上述记录脉冲的条件的装置；使用上述第1速度下的条件，确定比该第1速度快的第2速度下的上述记录脉冲的条件的装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：关口慎生，垣本博哉，松田勋，佐藤祯一，
申请(专利权)人：太阳诱电株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]