光信息记录介质及其制造方法技术

技术编号:3054329 阅读:138 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种光信息记录介质,在信号记录层(102)上,形成由树脂薄膜(100)、界面层(104)、粘合剂层(103)构成的厚100微米的透明保护层(106)。此处,分别将树脂薄膜(100)、界面层(104)、粘合剂层(103)的折射率设定为nf、ni、na,则满足na<ni≤nf、na>ni≥nf、na<nf≤ni、na>nf≥ni中的任何一个,并且是|nf-ni|<|nf-na|。此时,突起(111)或划伤(110)被界面层(104)在光学上埋没,由此能够降低在该部分产生的激光的散射或波阵面的变形,能够降低误差率。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及从用于进行记录及再生的光入射的一侧,按透明保护层、信号记录层、支持基板的顺序构成的,透明保护层的厚度为10~200微米的。
技术介绍
作为高密度光信息记录介质,提出了采用青紫色激光源(波长400nm前后)和高NA的透镜,具有厚0.1mm的薄型记录再生侧透明保护层的光信息记录介质。该高密度光信息记录介质的结构是,在厚的信号基板的表面上形成信号的导向槽或凹坑,在其上成膜可改写的记录多层膜或金属膜,另外在其上形成透明保护层。作为制作该结构的光信息记录介质的透明保护层的方法,可列举以下两种方法。(A)在信号的导向槽或凹坑上成膜记录多层膜或金属膜的信号基板的表面上,粘合剂粘接透明的薄膜,通过透明薄膜和粘合剂形成合计厚0.1mm的透明保护层(例如,参照专利文献1。)。(B)在信号的导向槽或凹坑上成膜记录多层膜或金属膜的信号基板的表面上,在涂布厚0.1mm的液体状的紫外线硬化树脂后,用紫外线硬化,得到透明保护层(例如,参照专利文献2。)。在上述两种方法中,在(B)的方法中,厚度精度大大依赖于紫外线硬化树脂的涂布精度,但如果采用(A)的方法,由于能够在要求3微米以下的高厚度精度的透本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光信息记录介质,从用于进行记录及再生的光入射的一侧,按透明保护层、信号记录层、支持基板的顺序构成,所述透明保护层的厚度为10~200微米,其特征是:所述透明保护层,从进行记录及再生的光入射的一侧,依次至少由树脂薄膜、和粘接所述树 脂薄膜和信号记录层的粘合剂层构成,在所述树脂薄膜和所述粘合剂层的之间具有界面层。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2004-4-8 113788/20041.一种光信息记录介质,从用于进行记录及再生的光入射的一侧,按透明保护层、信号记录层、支持基板的顺序构成,所述透明保护层的厚度为10~200微米,其特征是所述透明保护层,从进行记录及再生的光入射的一侧,依次至少由树脂薄膜、和粘接所述树脂薄膜和信号记录层的粘合剂层构成,在所述树脂薄膜和所述粘合剂层的之间具有界面层。2.如权利要求1所述的光信息记录介质,其特征是所述树脂薄膜在与所述界面层侧接触的面上具有凹凸,在将所述凹凸设为凹凸A时,将通过所述凹凸A形成的所述界面层的所述粘合剂层侧的凹凸设为凹凸B,所述凹凸B的高度或深度,与所述凹凸A的高度或深度大致相同,并且,在将波长405nm附近的所述树脂薄膜的折射率、所述粘合剂层的折射率、所述界面层的折射率,分别设为nf、na、ni时,具有na<ni<nf、或na>ni>nf的关系。3.如权利要求1所述的光信息记录介质,其特征是所述树脂薄膜在与所述界面层侧接触的面上具有凹凸,在将所述凹凸设为凹凸A时,将通过所述凹凸A形成的所述界面层的所述粘合剂层侧的凹凸设为凹凸B,所述凹凸B的高度或深度,小于所述凹凸A的高度或深度,并且,在将波长405nm附近的所述树脂薄膜的折射率、所述粘合剂层的折射率、所述界面层的折射率,分别设为nf、na、ni时,具有na<ni≤nf、或na>ni≥nf的关系。4.如权利要求1所述的光信息记录介质,其特征是所述树脂薄膜在与所述界面层侧接触的面上具有凹凸,在将所述凹凸设为凹凸A时,在所述界面层的与所述粘合剂层侧接触的面上没有通过所述凹凸A形成的凹凸,并且,在将波长405nm附近的所述树脂薄膜的折射率、所述粘合剂层的折射率、所述界面层的折射率,分别设为nf、na、ni时,具有na<ni≤nf、na>ni≥nf、na<nf≤ni且ni-nf<nf-na、na>nf≥ni且nf-ni<na-nf中的任何一个关系。5.如权利要求2所述的光信息记录介质,其特征是在所述nf、所述na、所述ni的之间,具有ni=(nf+na)/2的关系。6.如权利要求2~5中任何一项所述的光信息记录介质,其特征是所述nf和所述na的之间,具有|nf-na|>0.08的关系。7.如权利要求6所述的光信息记录介质,其特征是所述nf和所述ni的之间,具有|nf-ni|≤0.08的关系。8.如权利要求1~7中任何一项所述的光信息记录介质,其特征是所述nf为1.45≤nf≤1.65。9.如权利要求8所述的光信息记录介质,其特征是所述树脂薄膜是含有聚碳酸酯、丙烯酸系树脂、聚烯烃树脂、降冰片烯系树脂、环氧树脂中的任何一个的材料。10.如权利要求1~9中任何一项所述的光信息记录介质,其特征是所述粘合剂层,是以放射线硬化材料、压敏性粘合剂中的任何一个作为主成分的材料。11.如权利要求1~10中任何一项所述的光信息记录介质,其特征是所述界面层以无机材料为主成分。12.如权利要求11所述的光信息记录介质,其特征是所述无机材料,是含有氧化合物、氮化合物、硫化合物、氟化合物、氯化合物、溴化合物、碘素化合物的任何一个中的至少一种的材料。13.如权利要求1~10中任何一项所述的光信息记录介质,其特征是所述界面层以有机材料为主成分。14.如权利要求13所述的光信息记录介质,其特征是所述界面层,是含有丙烯酸系树脂、环氧系树脂的任何一个中的至少一种的材料。15.一种光信息记录介质,从用于进行记录及再生的光入射的一侧,按透明保护层、信号记录层、支持基板的顺序构成,所述透明保护层的厚度为10~200微米...

【专利技术属性】
技术研发人员:林一英锦织圭史宫田壮
申请(专利权)人:松下电器产业株式会社琳得科股份有限公司
类型:发明
国别省市:JP[日本]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1