光盘、记录装置、读取装置及方法制造方法及图纸

一种包括临时缺陷管理区的一次写入式光盘，其中：　　　　在该临时缺陷管理区中记录多个缺陷区列表和结构信息，　　　　所述多个缺陷区列表表明该光盘中的至少一个缺陷区，　　　　该结构信息包括表明该临时缺陷管理区中所述缺陷区列表位置的多条位置信息，所述多条位置信息一对一地对应于所述缺陷区列表，以及　　　　按照读取与所述多条位置信息对应的缺陷区列表的顺序来排列所述多条位置信息。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及包含用于临时记录缺陷项的技术的

技术介绍
缺陷项是使缺陷簇的位置与用于代替缺陷簇的替换扇区的位置相关联的信息。缺陷项的临时记录是这样一个过程，其中在将数据记录到一次写入式光盘期间检测到缺陷区时，将关于缺陷区的缺陷项记录到临时区中。需要临时写入缺陷项的原因如下。在光盘中，预先提供称为缺陷管理区(DMA)的区域，用于在其中写入缺陷项。但是，在一次写入式光盘里，在执行结束处理之前，不允许将缺陷项写入DMA中。这是因为一旦数据被写入一次写入式光盘中，以后就不能重写这些数据。也就是说，一旦将关于缺陷区的缺陷项写入DMA，就不能添加或者更新DMA中的数据，即使随后检测到其它缺陷区。为此，当在记录处理期间检测到缺陷区时，需要将关于缺陷区的缺陷项写入临时缺陷管理区或者临时盘管理结构(TDMS)中。作为现有技术，下述文献公开了一种用于写入临时缺陷区列表或者临时缺陷列表(下文中称为TDFL)的技术，该临时缺陷列表包括多个关于缺陷区的缺陷项。文献1日本专利No.2671656(图3～6)本专利技术要解决的问题在DMA中设置多个缺陷区列表，使得由缺陷区列表所表明的缺陷区的地址按照本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种包括临时缺陷管理区的一次写入式光盘，其中：在该临时缺陷管理区中记录多个缺陷区列表和结构信息，所述多个缺陷区列表表明该光盘中的至少一个缺陷区，该结构信息包括表明该临时缺陷管理区中所述缺陷区列表位置的多条位置信息，所述多条位置信息一对一地对应于所述缺陷区列表，以及按照读取与所述多条位置信息对应的缺陷区列表的顺序来排列所述多条位置信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种包括临时缺陷管理区的一次写入式光盘，其中在该临时缺陷管理区中记录多个缺陷区列表和结构信息，所述多个缺陷区列表表明该光盘中的至少一个缺陷区，该结构信息包括表明该临时缺陷管理区中所述缺陷区列表位置的多条位置信息，所述多条位置信息一对一地对应于所述缺陷区列表，以及按照读取与所述多条位置信息对应的缺陷区列表的顺序来排列所述多条位置信息。2.如权利要求1所述的光盘，其中该临时缺陷管理区由包括缺陷簇的多个簇构成，将所述多个缺陷区列表写入所述簇中，使得所述缺陷区列表分成位于该缺陷簇之前的多个簇的第一区域和位于该缺陷簇之后的多个簇的第二区域，以及在该结构信息中，表明该第一区域中最后一个簇的第一条位置信息相邻于表明该第二区域中起始簇的第二条位置信息。3.如权利要求1所述的光盘，其中该临时缺陷管理区具有按照如下顺序排列缺陷区列表的部分(1)在初始写入中已成功写入的缺陷区列表；(2)作为重试已成功写入的缺陷区列表；以及(3)最后一个缺陷区列表。4.一种记录装置，用于向一次写入式光盘写入一个或多个缺陷区列表，所述缺陷区列表表明该光盘中的至少一个缺陷区，该记录装置包括生成单元，用于生成包括一条或多条位置信息的结构信息，所述位置信息表明要写入所述一个或多个缺陷区列表的位置，所述一条或多条位置信息一对一地对应于所述缺陷区列表；以及写入单元，用于将该生成的结构信息与所述一个或多个缺陷区列表一起写入该一次写入式光盘的临时缺陷管理区中，其中如果存在多个缺陷区列表要写入，则该生成单元按照读取对应于所述多条位置信息的所述多个缺陷区列表的顺序排列所述多条位置信息，所述位置信息表明该临时缺陷管理区中的所述多个缺陷区列表的位置，以及该写入单元将结构信息写入该临时缺陷管理区中，该结构信息包括按照所述顺序排列的所述多条位置信息。5.如权利要求4所述的记录装置，还包括验证单元，用于验证写入有缺陷区列表的簇A是不是缺陷簇，其中如果该簇A被验证为是缺陷簇，则该写入单元进行重试，以将该缺陷区列表写入该簇A位置之后的簇B中，在该重试中，将所述多个缺陷区列表写入簇中，使得所述缺陷区列表分成位于该缺陷簇之前的多个簇的第一区域和位于该缺陷簇之后的多个簇的第二区域，以及该生成单元在该结构信息中排列表明该第一区域中最后一个簇的第一条位置信息以及表明该第二区域中起始簇的第二条位置信息，使得该第一条位置信息相邻于该第二条位置信息。6.如权利要求4所述的记录装置，还包括验证单元，用于在所有缺陷区列表都已写入时，对每个缺陷区列表进行验证，其中如果写入有缺陷区列表的簇A被验证为是缺陷簇，则该写入单元进行重试，以将该缺陷区列表写入簇B中，以及该临时缺陷管理区具有按照如下顺序排列缺陷区列表的部分(1)在初始写入中已成功写入的缺陷区列表；(2)作为重试已成功写入的缺陷区列表；以及(3)最后一个缺陷区列表。7.如权利要求4所述的记录装置，还包括验证单元，用于在除最后一个缺陷区列表外所有的缺陷区列表都已写入时，对每个缺陷区列表进行验证，其中如果写入有缺陷区列表的簇A被验证为是缺陷簇，则该写入单元进行重试，以将该缺陷区列表写入簇B中，以及该临时缺陷管理区具有按照如下顺序排列缺陷区列表的部分(1)在初始写入中已成功写入的缺陷区列表；(2)作为重试已成功写入的缺陷区列表；以及(3)最后一个缺陷区列表。8.一种读取装置，用于从一次写入式光盘中读取多个缺陷区列表以及结构信息，其中所述多个缺陷区列表...

【专利技术属性】
技术研发人员：甲斐田优，伊藤基志，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP