光信息记录再现装置和光信息记录处理方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光信息记录再现装置和光信息记录处理方法，其目的在于，导入新评价指标使对介质的记录条件最优化。该光信息记录再现装置包括：测量单元，对光信息记录介质记录包括特定码的码，并且，从光信息记录介质进行上述码的再现，根据上述码的再现信号，对涉及特定码的再现信号的振幅，测量作为极大值或极小值的任意一个的峰值；统计量计算单元，使用由测量单元所得到的、相同或不同的记录位置的多个上述峰值，计算预先规定的统计量；以及条件确定单元，使用上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。作为新评价指标的上述峰值及其统计量，对于光信息记录再现装置的评价和记录条件的设定等是有用的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及对光信息记录介质的记录条件的最优化技术。
技术介绍
光信息记录系统中的记录品质，取决于光信息记录再现装置(以下，称为驱动器)的特性、光信息记录介质(以下，称为介质或盘)及记录条件(包括记录速度、记录功率、记录脉冲、干扰影响等)等，该记录品质需要达到能够准确地再现所记录的数据的等级(level)。用于得到适当的记录品质的记录条件最优化技术是以往就存在的，例如，普遍知道这样的方法，即将记录脉冲条件固定为预先设定好的初始条件，基于变更记录脉冲条件时的记录再现信号的变化，对记录功率进行最优化。进而，还存在这样的方法，即根据最佳的记录功率条件中的、记录再现信号的误码率测量值来进行记录脉冲的修正，对记录脉冲条件进行最优化。作为根据记录再现信号确定最佳记录条件的方法，公知有这样的方法，即选择记录条件，使得记录再现信号的抖动(Jitter)等的评价指标值达到最小、最大或预定的等级。例如，在日本特开2003-151219号公报中，公开了在根据再现信号采样的振幅值识别再现信号时计算适当的波形修正量的技术。具体而言，用于以下的情况，即使用预定的再现信号、与该再现信号的信号波形图案(pattern)对应的第1图案、在该第1图案之外的与再现信号的信号波形图案对应的第2图案、以及在第1图案和第2图案之外的与再现信号的信号波形图案对应的第3图案，对信息记录介质进行信息记录或进行记录信息的再现。在这样的方法中，求出再现信号与第1图案之间的第1距离E1、再现信号与第2图案之间的第2距离E2、再现信号与第3图案之间的第3距离E3。接下来，求出第1距离E1与第2距离E2之间的第1距离差D2＝E2-E1、第1距离E1与第3距离E3之间的第2距离差D3＝E3-E1。接下来，对于多个再现信号的采样，求出第1距离差D2的方差和第2距离差D3的方差。接下来，求出所求得的第1距离差D2的平均M2和所求得的第1距离差D2的方差的标准偏差σ2，以及所求得的第2距离差D3的平均M3和所求得的第2距离差D3的方差的标准偏差σ3。接下来，根据(σ2×M3+σ3×M2)/(σ2+σ3)的关系求出记录补偿参数。基于这样求得的记录补偿参数，补偿对信息记录介质的信号记录波形。在上述公报中，仅进行记录条件中的记录脉冲的最优化。另外，在日本特开2005-216446号公报中，公开了用于降低可写入的光盘和光记录再现装置的特性离差的影响的技术。具体而言，在基于依照记录信息的记录条件进行光调制记录并再现所记录的信息的光记录再现装置的光记录条件设定方法中，使对最短的记录标记的记录功率参数发生变化，在光记录介质上进行试写，再现试写，选择再现信号品质变好的记录功率参数，然后，使对记录标记的记录脉冲参数发生变化来进行试写，确定能得到良好的再现信号品质(抖动、误码率)的、对记录标记的记录脉冲功率参数。专利文献1日本特开2003-151219号公报专利文献2日本特开2005-216446号公报
技术实现思路
但是，在以往的记录条件最优化方法中，在构成光记录系统的1个或多个元件(驱动器、介质等)的特性极差时，即便在以最优化的记录功率和记录脉冲条件进行了记录时，记录品质也有可能无法达到预定的等级。另外，为了对多个记录条件分别进行最优化，需要充裕的调整时间、调整区域等。另外，作为使用了蓝色激光的高密度记录系统的码识别方式，采用了PRML(Partial Response Maximum Likelihood最大可能部分反应)方式，在该PRML方式中，基于再现记录图案得到的RF信号的振幅信息进行码识别，因此，为了实现高品质且稳定的记录，需要进行使用了与以往不同的评价指标的记录条件的设定。因此，本专利技术的目的在于，为了实现高品质且稳定的记录而导入新评价指标。另外，本专利技术的其他目的在于，提供一种用于导入新评价指标来最优化对介质的记录条件的技术。另外，本专利技术的其他目的在于，提供一种用于导入新评价指标来最优化对介质的记录功率的技术。另外，本专利技术的其他目的在于，提供一种技术，用于在最优化对介质的记录条件时导入新评价指标，来适当地最优化对记录品质有很大影响的参数。本专利技术的第1方式的光信息记录再现装置包括测量单元，对光信息记录介质记录包括特定码(例如2T(T为单位时间)码)的码，并且，从光信息记录介质进行上述码的再现，根据上述码的再现信号，对涉及上述特定码的再现信号的振幅，测量作为极大值或极小值的任意一个的峰值；和统计量计算单元，使用由测量单元所得到的、相同或不同的记录位置的多个上述峰值，计算预先规定的统计量(例如最大值、最小值、平均值、方差等)。本专利技术申请的专利技术人，非显而易见地考虑到作为新评价指标的上述峰值及其统计量，对于光信息记录再现装置的评价和后述的记录条件的设定等是有用的，而采用上述结构。另外，在本专利技术的第1方式中，也可以是，还包括条件确定单元，使用上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。这样，能够适当地调整记录功率条件或记录脉冲条件来实现最佳的记录。当确定记录功率条件时，能够更适当地进行记录脉冲条件(包括最终脉冲和中间脉冲)或相位偏移等的调整。进而，在本专利技术的第1方式中，也可以是，还包括条件确定单元，使用上述统计量和包含在上述码中的预定码的振幅电平值，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。能够设定更适当的记录条件。另外，还存在这样的情况上述振幅电平值，是涉及5T码(T为时间单位)到最长码的任意一个码的再现信号的振幅最大电平值和振幅最小电平值。此时，条件确定单元，根据振幅最大电平值和振幅最小电平值，计算表示振幅电平中的位置关系的β值，使用该β值和上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。另外，还存在这样的情况上述振幅电平值，是涉及2种以上的预定码的再现信号的振幅最大电平值和振幅最小电平值。此时，条件确定单元，根据振幅最大电平值和振幅最小电平值，计算表示振幅电平中的位置关系的非对称值，使用非对称值和上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。另外，在本专利技术的第1方式中，也可以是，还包括记录可否判断单元，根据条件确定单元的处理结果和处理过程的至少任意一个、测量单元的测量结果和由统计量计算单元计算出的统计量中的至少任意一个，判断能否以指定记录条件得到预定的记录品质。在本专利技术的第1方式中，也可以是，还包括记录处理单元，当由记录可否判断单元判断为不能以指定记录条件得到预定的记录品质时，实施降低包含在指定记录条件中的记录速度、不进行记录、以及询问用户能否记录中的任意一个。能够在记录时采取适当的对策。进而，在本专利技术的第1方式中，也可以是，还包括使记录可否判断单元的判断结果和记录处理单元的处理结果的至少任意一个显示在显示装置上的单元。通过这样地通知用户，用户能够准确地把握状况。另外，在本专利技术的第1方式中，也可以是，还包括将处理结果和处理过程中的数据中的至少任意一个保存在存储器或上述光信息记录介质中的单元。通过预先保持这样的数据，能够在之后的处理中设定适当的记录条件。另外，通过省略处理的一部分，能够快速地设定记录条件。进而，在本专利技术的第1方式中，也可以是，还包括预先存储关于统计量的基准值(例如目标值、上限值、下限值等)的存储器。此时，条本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光信息记录再现装置，其特征在于，包括：测量单元，对光信息记录介质记录包括特定码的码，并且，从上述光信息记录介质进行上述码的再现，根据上述码的再现信号，对涉及上述特定码的再现信号的振幅，测量作为极大值或极小值的任意一个的峰值；以及统计量计算单元，使用由上述测量单元所得到的、相同或不同的记录位置的多个上述峰值，计算预先规定的统计量。

【技术特征摘要】
JP 2005-12-14 360699/20051.一种光信息记录再现装置，其特征在于，包括测量单元，对光信息记录介质记录包括特定码的码，并且，从上述光信息记录介质进行上述码的再现，根据上述码的再现信号，对涉及上述特定码的再现信号的振幅，测量作为极大值或极小值的任意一个的峰值；以及统计量计算单元，使用由上述测量单元所得到的、相同或不同的记录位置的多个上述峰值，计算预先规定的统计量。2.根据权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于，还包括条件确定单元，使用上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。3.根据权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于，还包括条件确定单元，使用上述统计量和包含在上述码中的预定码的振幅电平值，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。4.根据权利要求3所述的光信息记录再现装置，其特征在于上述振幅电平值，是涉及5T码到最长码的任意一个码的再现信号的振幅最大电平值和振幅最小电平值，上述条件确定单元，根据上述振幅最大电平值和上述振幅最小电平值，计算表示振幅电平中的位置关系的β值；使用上述β值和上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。5.根据权利要求3所述的光信息记录再现装置，其特征在于上述振幅电平值，是涉及2种以上的预定码的再现信号的振幅最大电平值和振幅最小电平值，上述条件确定单元，根据上述振幅最大电平值和上述振幅最小电平值，计算表示振幅电平中的位置关系的非对称值；使用上述非对称值和上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。6.根据权利要求2～5中的任意一项所述的光信息记录再现装置，其特征在于，还包括记录可否判断单元，根据上述条件确定单元的处理结果和处理过程的至少任意一个、上述测量单元的测量结果和由上述统计量计算单元计算出的上述统计量中的至少任意一个，判断能否以指定记录条件得到预定的记录品质。7.根据权利要求6所述的光信息记录再现装置，其特征在于，还包括记录处理单元，当由上述记录可否判断单元判断为不能以上述指定记录条件得到上述预定的记录品质时，实施降低包含在上述指定记录条件中的记录速度、不进行记录、以及询问用户能否记录中的任意一个。8.根据权利要求7所述的光信息记录再现装置，其特征在于，还包括使上述记录可否判断单元的判断结果和上述记录处理单元的处理结果中的至少任意一个显示在显示装置上的单元。9.根据权利要求1～8中的任意一项所述的光信息记录再现装置，其特征在于，还包括将处理结果和处理过程中的数据中的至少任意一个保存在存储器或上述光信息记录介质中的单元。10.根据权利要求2或3所述的光信息记录再现装置，其特征在于还包括预先存储关于上述统计量的基准值的存储器，上述条件确定单元，基于存储在上述存储器中的基准值，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。11.一种光信息记录介质，其特征在于，记录有统计量的基准值和关于记录条件的信息中的至少任意一个，其用于对上述光信息记录介质进行数据记录，其中，上述统计量，是关于对上述光信息记录介质记录包括特定码的码，并且从上述...

【专利技术属性】
技术研发人员：垣本博哉，关口慎生，宫泽冬树，
申请(专利权)人：太阳诱电株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]