光学记录介质、记录/再现方法和记录/再现设备技术

一种能够根据最佳记录和／或再现条件快速记录数据的光学记录介质、记录和／或再现方法和记录和／或再现设备。参考信号区设置于每个记录层中，以便以最佳记录条件记录预定参考信号。参考信号信息区包括参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于记录有参考信号的每个记录层的信息。在多层信息存储介质的情况下，通过仅在初始驱动器所使用的层中记录参考信号，能够在首次使用该盘时在最小的时间内写入数据。通过对记录参考信号的记录层进行标记，有效地执行对参考信号的管理。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术的一方面涉及一种光学记录介质以及在光学记录介质上记录数据和/或从光学记录介质再现数据的方法和设备。
技术介绍
光盘被广泛地用作以非接触方式记录和/或再现信息的光学拾取设备中的信息记录介质。根据信息记录容量，光盘可分为压缩盘(CD)和数字通用盘(DVD)。能够记录、删除和再现数据的光盘包括650MB CD-R、CD-RW、4.7GBDVD+RW等，再现专用光盘包括650MB CD、4.7GB DVD-ROM等。另外，记录容量超过15GB的高密度(HD)DVD或蓝光盘(BD)的开发已经完成，并且更高容量的盘(例如，超分辨率近场结构(超-REN)盘或其他使用近场结构的盘以及全息盘)也在开发之中。在光盘(诸如CD或DVD)上记录数据和/或从光盘再现数据的光学记录和/或再现设备发出能够改变信息记录层的物理特性的相对较高能量的光束以在光盘上记录信息，并使用不改变信息记录层的物理特性的较低能量的光束以从光盘再现信息。也就是说，当记录时，激光二极管由相对较高的写功率来驱动以在记录信息的光盘上形成凹坑。将凹坑形成为预定长度被称为写策略(write strategy)。当信息被记录在可记录光盘(诸如，CD-R/RW)上时，光盘记录和/或再现设备执行最佳功率控制(OPC)过程以确定适合光盘的写功率。为此，可记录光盘在盘的导入区中具有功率校准区以确定写功率。现在将简单地解释根据传统技术的光学记录信息存储介质的一般结构。图1是表示根据传统技术的双层信息存储介质的示图，该双层信息存储介质包括使用反向轨道路径(OTP)方法记录数据的两个记录层。该信息存储介质包括两个记录层L0和L1。记录层L0包括导入区10、数据区11和中间区12，并且记录层L1包括中间区13、数据区14和导出区15。信息通过使用反向轨道路径(OTP)方法被记录在图1中示出的信息存储介质上，所述反向轨道路径(OTP)方法是指从记录层L0的内圆周前进至记录层L0的外圆周并继续从记录层L1的外圆周前进至记录层L1的内圆周。图2是表示根据传统技术的双层信息存储介质的示图，该双层信息存储介质包括使用并行轨道路径(PTP)方法记录数据的两个记录层。该信息存储介质包括两个记录层L0和L1。记录层L0包括导入区10、数据区11和中间区12。记录层L1包括中间区13、数据区14和导出区15。信息通过使用并行轨道路径(PTP)方法被记录在图2中示出的信息存储介质上，并且数据以相同的方向被记录在记录层L0和L1中。图3是表示根据传统技术的信息存储介质的导入区的数据结构的盘结构的示图。参照图3，该信息存储介质包括导入区20，设置在内圆周；导出区40，设置在外圆周；数据区30，设置在导入区20和导出区40之间并且其中记录用户数据。导入区20包括预记录区21，预记录区21中预先记录的信息不能改变；可记录区31，可记录区31中记录的信息可以被修改。预记录区21用作再现专用区并包括控制数据区22，控制数据区22中记录有盘类型和版本信息23、盘大小24、盘结构25、记录速度26、记录参数27等。可记录区31包括缺陷管理区33、测试区34和驱动器/盘状态信息区35。缓冲器32设置在预记录区21和可记录区31之间。缺陷管理区(DMA)33是记录用于管理数据区30中发生的缺陷的缺陷管理信息的区域。驱动器/盘状态信息区35是记录驱动器或盘的状态信息的区域。测试区34是执行测试记录以找到最佳写功率的区域。测试区34被称为功率校准区(PCA)。为了确定最佳记录和/或再现条件，应该在变化记录和/或再现条件的同时测量记录介质的特性，这个过程比较耗时。也就是说，最佳记录条件通过记录和/或再现设备以及记录介质的特性而被确定。同样，用于确定各种伺服操作的聚焦位置、最佳伺服条件(诸如，跟踪位置、增益等)和最佳再现信号处理条件(诸如，均衡特征和二进制化限幅电平)通过记录和/或再现设备以及记录介质的特性而被确定。专利技术公开技术问题因此，每当记录和/或再现设备启动以便在置于其中的光学记录介质上记录数据时，在变化记录和/或再现条件(例如，再现处理信号条件，该再现处理信号条件包括脉冲条件和伺服条件)的同时执行测试记录。此时，将再现的信号与预定信号进行比较以便确定最佳记录和/或再现条件，并且基于最佳记录和/或再现条件执行记录信息的操作。因此，由于在盘上记录数据和/或从盘再现数据之前总是执行测试记录，所以等待时间较长。此外，当盘具有多个记录层时，应该在设置于每个层的测试区中找出每个层的最佳记录条件，从而等待时间变得更长，并且用户不得不等待相当长的时间。另外，当仅执行再现操作时，例如，甚至当一次写入盘(write-once disk)被最终化或者已无法对其执行记录操作时，也需要调整均衡频率、增益或者最佳聚焦以便执行最佳再现。因此，在这种情况下也应该找出最佳再现条件。技术方案本专利技术的一方面提供了一种光学记录介质以及记录和/或再现方法和设备，所述光学记录介质以及记录和/或再现方法和设备使得能够快速确定最佳记录和/或再现条件，以便使记录用户数据之前的等待时间最小化。有益的效果根据本专利技术的各方面，通过在光学信息存储介质的导入区和导出区中的至少一个区中的预定位置记录作为参考信号的信号，即使这样记录的盘被载入另一盘驱动器中，也不需要执行另外的OPC，通过使用该参考信号，能够快速设置最佳记录和/或再现条件。此外，即使当仅执行对数据的再现时，通过使用记录在盘上的参考信号，也能够设置均衡器增益和频率调整或者最佳聚焦调整。另外，在多层信息存储介质的情况下，不是在所有层中记录参考信号，而是通过仅在第一驱动器将要使用的层中记录参考信号，能够在首次使用该盘时在最少的时间内记录数据，并且通过对记录参考信号的记录层进行标记，能够有效地执行对参考信号的管理。附图说明图1是表示双层信息存储介质的示图，该双层信息存储介质包括使用反向轨道路径(OTP)方法记录数据的两个记录层； 图2是表示双层信息存储介质的示图，该双层信息存储介质包括使用并行轨道路径(PTP)方法记录数据的两个记录层；图3是表示信息存储介质的导入区的数据结构的盘结构的示图；图4是解释根据本专利技术一方面的确定信息存储介质的最佳记录和/或再现条件的方法的参考示图；图5表示根据本专利技术实施例的单层信息存储介质；图6表示根据本专利技术实施例的双层信息存储介质；图7是根据本专利技术实施例的记录和/或再现设备的结构的方框图；图8是由根据本专利技术实施例的记录和/或再现方法执行的操作的流程图；图9表示根据本专利技术实施例的多层信息存储介质；图10是表示这样的状态的示图，在该状态中，通过第一驱动器将参考信号记录在图9中示出的多层信息存储介质的参考记录层(L0)中；图11是表示这样的状态的示图，在该状态中，通过第二驱动器将参考信号记录在图10中示出的多层信息存储介质的L1层中；图12表示根据本专利技术实施例的一次写入多层信息存储介质；图13是解释根据本专利技术实施例的第一驱动器在多层信息存储介质上写入参考信号并在参考信号信息区中写入参考信号指示信息的操作的流程图；图14是解释在图13中示出的操作之后第二驱动器写入参考信号并更新参考信号信息区的操作的流程图。最佳方式本专利技术的一方面提供了一种光学记录介质以及记录和/或再现方法及本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有多个记录层的光学记录介质，包括：参考信号区，设置于所述多个记录层中的每个记录层中，用于以为了各记录层的最佳记录和／或再现操作而确定的最佳记录条件记录预定参考信号；参考信号信息区，其中记录有参考信号指示信息，该参考信号 指示信息指示关于所述多个记录层之中记录有参考信号的至少一个记录层的信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】KR 2004-10-8 10-2004-00805831.一种具有多个记录层的光学记录介质，包括参考信号区，设置于所述多个记录层中的每个记录层中，用于以为了各记录层的最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件记录预定参考信号；参考信号信息区，其中记录有参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于所述多个记录层之中记录有参考信号的至少一个记录层的信息。2.如权利要求1所述的记录介质，其中，所述参考信号信息区设置于所述多个记录层之中首先记录数据的记录层中。3.如权利要求1所述的记录介质，其中，所述参考信号信息区设置于作为参考层的记录层中。4.如权利要求1所述的记录介质，其中，如果所述光学记录介质是一次写入介质，则用于更新记录在参考信号信息区中的参考信号指示信息的信息被记录在参考信号信息区的未记录的空间中。5.如权利要求4所述的记录介质，其中，所述参考信号信息区设置于至少一个记录层中。6.一种在具有多个记录层的光学记录介质上记录数据的方法，该方法包括在所述多个记录层之中将要记录数据的记录层中，以为了最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件记录预定参考信号；在首先记录数据的记录层的参考信号信息区中记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于记录参考信号的记录层的信息。7.一种在具有多个记录层的光学记录介质上记录数据的方法，该方法包括在所述多个记录层之中将要记录数据的记录层中，以为了最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件记录预定参考信号；在作为参考层的记录层的参考信号信息区中记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于记录参考信号的记录层的信息。8.如权利要求6所述的方法，其中，如果所述光学记录介质是一次写入介质，则该方法还包括将用于更新记录在参考信号信息区中的参考信号指示信息的信息记录在参考信号信息区的未记录的空间中。9.如权利要求8所述的方法，其中，如果在首先记录数据的记录层中没有空间来记录参考信号指示信息，则该方法还包括在另一记录层的参考信号信息区中记录参考信号指示信息。10.一种从具有多个记录层的光学记录介质再现数据的方法，该方法包括从光学记录介质的至少一个层读取参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于以最佳记录条件记录参考信号的每个记录层的信息；从参考信号指示信息确定记录参考信号的记录层。11.如权利要求10所述的方法，其中，读取参考信号指示信息的步骤包括从将要首先记录数据的记录层之一读取参考信号指示信息。12.如权利要求10所述的方法，其中，读取参考信号指示信息的步骤包括从所述多个记录层之中的参考记录层读取参考信号指示信息。13.如权利要求10所述的方法，其中，如果所述光学记录介质是一次写入介质，则读取参考信号指示信息的步骤包括从所述多个记录层之中最后记录参考信号指示信息的记录层读取参考信号指示信息。14.一种在具有多个记录层的光学记录介质上记录数据的设备，该设备包括写单元，用于在介质上记录数据；控制单元，控制写单元以为了最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件在所述多个记录层中的一个记录层中记录预定参考信号，并控制写单元记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于所述多个记录层之中记录参考信号的所述一个记录层的信息，其中，所述多个记录层之中的所述一个记录层是将要被记录的第一个层。15.一种在具有多个记录层的光学记录介质上记录数据的设备，该设备包括写单元，用于在介质上记录数据；控制单元，控制写单元以最佳记录条件在所述多个记录层中的参考记录层中记录预定参考信号，并控制写单元记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于该参考记录层的信息。16.如权利要求14所述的设备，其中，参考信号信息被记录在光学记录介质的参考信号信息区中，如果所述光学记录介质是一次写入介质，则控制单元还控制写单元将用于更新参考信号指示信息的信息记录在参考信号信息区的未记录的空间中。17.如权利要求14所述的设备，其中，如果在参考记录层中没有空间来记录参考信号指示信息，则控制单元控制写单元在所述多个记录层中的另一记录层中记录参考信号指示信息。18.一种从具有多个记录层的光学记录介质再现数据的设备，该设备包括读单元，用于从介质读取数据；控制单元，控制读单元从记录介质读取参考信号指示信息，该参考信号信息指示关于以为了一个或多个记录层的最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件在参考信号区中记录参考信号的每个记录层的信息，并且该控制单元从参考信号指示信息确定记录了参考...

【专利技术属性】
技术研发人员：李坰根，黄郁渊，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]