在光学记录介质上记录／再现数据的方法技术

一种光学记录介质，包括用户数据区和ＳＡ／ＤＬ区，其中，用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述ＳＡ／ＤＬ区中，其中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目包括与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于缺陷管理的。
技术介绍
盘缺陷管理是这样一种处理，其通过将记录在盘的用户数据区中的缺陷，即缺陷块中的用户数据写入用户数据区的新的部分来补偿由缺陷块引起的数据损失。通常，使用线性替换方法或滑动替换方法来执行盘缺陷管理。在这些方法中，用没有缺陷的备用区来替换有缺陷的区。在滑动替换方法中，滑过有缺陷的区，而使用下一个无缺陷的区。在线性替换方法中，用户数据区的出现缺陷的块被称为缺陷块。用于替换缺陷块的替换块被记录在盘的预定部分中的备用区中。关于缺陷块和替换块的信息，即用于搜索缺陷块和替换块的位置的信息被表示于缺陷列表中。通常，当主机读取记录在盘上的数据时，主机确定数据的逻辑地址，并命令硬盘驱动器读取数据。然后，硬盘驱动器搜索与该逻辑地址对应的物理地址，并读取记录在盘上的与该物理地址对应的位置中的数据。如果缺陷块出现在与该物理地址对应的数据中，则硬盘驱动器必须寻找替换缺陷块的替换块。因此，缺陷列表包括缺陷列表条目，每一条目分别包含关于每一缺陷块的信息。即，为每一缺陷块产生缺陷列表条目，因此需要用于缺陷列表的相当大的记录空间。专利技术公开技术问题因此，需要对用于缺陷列表的空间进行有效管理。为此，需要对关于缺陷块，特别是用户数据区的连续位置中出现的缺陷块的信息进行有效管理。技术解决方案本专利技术提供一种其上缺陷被管理的光盘、一种有效地管理盘中用于管理缺陷的缺陷列表所需的空间的缺陷管理设备和方法、以及存储用于控制设备执行所述缺陷管理方法的计算机程序的计算机可读光盘。有益效果根据本专利技术，在缺陷管理被执行的光盘上，用于记录缺陷管理的缺陷列表的空间可被有效地管理，从而整个盘空间可被有效地管理。附图说明图1是根据本专利技术实施例的数据记录/再现装置的框图。图2是根据本专利技术实施例的单记录层盘的结构图。图3是根据本专利技术实施例的双记录层盘的结构图。图4是根据本专利技术实施例的SA/DL区的数据结构图。图5是图4中所示的DL#i的详细的数据构图。图6是图5中所示的DL条目#i的详细的数据结构图。图7是示出根据本专利技术实施例的连续缺陷块的参考图。图8是示出根据本专利技术实施例的连续缺陷列表的参考图。图9是示出图6中所示的替换状态信息和连续缺陷信息的示例的示图。图10A和图10B是示出根据本专利技术实施例的具有替换的连续缺陷块和没有替换的连续缺陷块的参考图。图11A是图10B中所示的DL#k的数据结构图。图11B是图10B中所示的DL#k的数据结构图，该DL#k还包括关于连续缺陷列表条目的数量的信息。图11C是图10B中所示的DL#k的数据结构图，该DL#k还包括关于具有替换状态信息“0”的连续缺陷列表条目的数量的信息以及关于具有替换状态信息“1”的连续缺陷列表条目的数量的信息。图12是根据本专利技术实施例的用于其上缺陷区被管理的光盘的缺陷管理方法的流程图。最佳方式根据本专利技术的一方面，其上缺陷被管理的光学记录介质包括替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与缺陷有关的信息记录在其中的SA/DL区。所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目包括与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。所述连续缺陷列表条目可包括开始条目，对应于与第一缺陷块有关的信息；和结束条目，对应于与最后缺陷块有关的信息，其中，所述第一缺陷块和最后缺陷块属于用户数据区的连续位置中的缺陷块。所述开始条目可包括与第一缺陷块有关的位置信息以及与替换第一缺陷块的替换块有关的位置信息。所述结束条目可包括与最后缺陷块有关的位置信息以及与替换最后缺陷块的替换块有关的位置信息。所述与缺陷有关的信息可包括与连续缺陷列表条目的数量有关的信息。所述与缺陷有关的信息还可包括与缺陷列表条目的数量有关的信息。可通过将连续缺陷列表条目的数量乘以因数2，并从缺陷列表条目的数量中减去所得的乘积，来计算单个缺陷列表条目的数量。所述与缺陷有关的信息可包括缺陷列表条目，所述缺陷列表条目包括与缺陷块有关的位置信息、与替换块有关的位置信息、以及与缺陷有关的状态信息。所述状态信息可包括表示缺陷块是否被替换的替换状态信息以及表示缺陷块是否是连续缺陷块的连续缺陷信息。所述与缺陷有关的信息还可包括与具有表示缺陷块被替换的替换状态信息的连续缺陷列表条目的数量有关的信息。所述与缺陷有关的信息还可包括与具有表示缺陷块没有被替换的替换状态信息的连续缺陷列表条目的数量有关的信息。根据本专利技术的另一方面，一种用于在光学记录介质上记录/再现数据的设备包括写/读单元，用于将数据写在所述介质上和/或从所述介质读取数据；和控制单元，其中，所述控制单元为所述介质分配SA/DL区，替换用户数据区中的具有缺陷的缺陷块的替换块以及与缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中，并且所述控制单元控制写/读单元将所述与缺陷有关的信息记录在SA/DL区中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目对应于与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。根据本专利技术的另一方面，一种在光学记录介质上记录/再现数据的方法包括为介质分配SA/DL区，用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中；将与缺陷有关的信息记录在SA/DL区中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目对应于与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。根据本专利技术的另一方面，提供一种存储程序的计算机可读光盘，所述程序用于控制将数据记录在其上缺陷被管理的光盘上/从该光盘再现数据的设备执行缺陷管理方法，所述缺陷管理方法包括为介质分配SA/DL区，用于替换用户数据区中的具有缺陷的缺陷块的替换块以及与缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中；将与缺陷有关的信息记录在SA/DL区中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目对应于与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。具体实施例方式现在，将对本专利技术实施例进行详细描述，其示例示出于附图中，在附图中，相同的标号始终表示相同的部件。下面，将参照附图描述实施例以解释本专利技术。图1是根据本专利技术实施例的数据记录/再现装置的框图。参照图1，该数据记录/再现装置包括写/读单元2和控制单元1。根据本专利技术，写读单元2包括拾取器，并将数据记录在其上缺陷被管理的盘4上/从盘4读取数据。控制单元1执行根据本专利技术的缺陷管理。在本专利技术的实施例中，控制单元1使用写后校验方法，通过以预定的单位记录数据并对记录的数据进行校验来寻找有缺陷的数据。控制单元1通过以记录操作单位写入用户数据并对用户数据进行校验来检查何处出现了缺陷数据。控制单元1在检查到缺陷数据之后，产生指示缺陷数据位于何处的缺陷信息，将产生的信息存储在存储器中，并在汇集了预定量的所述产生的信息之后，将产生的信息作为临时缺陷信息记录在盘上。在本专利技术的实施例中，作为由用户的意图确定的操作的记录操作或者期望的记录操作等指的是包括加载盘、在盘上记录数据、以及卸载盘的操作。在所述记录操作期间，写后校验操作至少被执行一次。然后，将通过使用写后校验操作获得的所述临时缺陷信息临时存储在存储器中。当用户为了卸载盘而按下弹出按钮(未示出)时，控制单元1确定记录操作被终止，并读取存储在存储器中的临时缺陷信息，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在光学记录介质上记录／再现数据的方法，该方法包括：为介质分配ＳＡ／ＤＬ区，用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述ＳＡ／ＤＬ区中；将与缺陷有关的信息记录在ＳＡ／ＤＬ区中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目对应于与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。

【技术特征摘要】
KR 2004-1-5 10-2004-0000372;KR 2004-2-14 10-2004-01.一种在光学记录介质上记录/再现数据的方法，该方法包括为介质分配SA/DL区，用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中；将与缺陷有关的信息记录在SA/DL区中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目对应于与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。2.如权利要求1所述的方法，还包括使连续缺陷列表条目包括开始条目和结束条目，所述开始条目与连续位置中的缺陷块中的第一缺陷块对应，所述结束条目与连续位置中的缺陷块中的最后缺陷块对应。3.如权利要求2所述的方法，还包括产生开始条目，所述开始条目包括与第一缺陷块有关的位置信息以及与替换第一缺陷块的替换块有关的位置信息。4.如权利要求2所述的方法，还包括产生结束条目，所述结束条目包括与最后缺陷块有关的位置信息以及与替换最后缺陷块的替换块有关的位置信息。5.如权利要求1所述的方法，还包括在所述与缺陷有关缺陷的信息中包括与连续缺陷列表条目的数量有关的信息以及与缺陷列表条目的数量有关的信息；以及通过将连续缺陷列表条目的数量乘以因数2，并从缺陷条目的数量中减去所得的乘积，来计算单个缺陷列表条目的数量。6.如权利要求5所述的方法，还包括在所述与缺陷有关的信息中包括与具有替换状态信息“0”的连续缺陷列表条目的数量有关的信息和与具有替换状态信息“1”的缺陷列表条目的数量有关的信息。7.如权利要求1所述的方法，还包括在与缺陷有关的信息中包括与缺陷块有关的位置信息、与替换块有关的位置信息和与缺陷有关的状态信息。8.如权利要求7所述的方法，其中，所述状态信息包括表示缺陷块是否被替换的替换状态信息和表示缺陷块是否是连续缺陷块的连续缺陷信息。9.如权利要求7所述的方法，其中，所述与缺陷有关的信息还包括与具有表示缺陷块被替换的替换状态信息的连续缺陷列表条目的数量...

【专利技术属性】
技术研发人员：黃盛熙，高祯完，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]