光信息记录装置、方法、以及信息处理电路制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光信息记录装置、方法、以及信息处理电路。通过实时地对记录条件进行校正，从而提高记录品质的容限，其中，所述记录条件是对内外周差的记录特性不同的介质的记录条件。通过将具有长度ｍ’Ｔ的ｍＴ脉冲用作功率控制用脉冲，具有长度ｎ’Ｔ的ｎＴ脉冲用作脉冲宽度控制用脉冲，由此进行将功率和脉冲宽度的调整要素分离开的检测和校正。使用记录用激光（２０Ａ），将包含这些ｍＴ脉冲和ｎＴ脉冲的记录脉冲串照射到介质（５００）上，并使用再现用激光（２０Ｅ），对由上述记录脉冲串的照射形成的坑和岸进行再现，独立地检测功率和脉冲宽度的影响，实时地执行ｍＴ脉冲的功率校正和ｎＴ脉冲的宽度校正。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光信息记录装置、方法、以及信号处理电路，特 别涉及对内外周差的记录特性不同的介质的记录条件的最优化有效 的光信息记录装置、方法、以及信号处理电路。
技术介绍
在以CD-R和DVD-R等为代表的光信息记录介质(以下称作介 质，，)的记录中，作为记录对象的介质与记录所使用的记录装置(以 下称作驱动器)的匹配性因各个组合的不同而不同。作为其原因， 考虑有以下情况，即由于构成介质的记录材料的种类的不同或制造 时的成膜偏差而使最佳的记录条件发生变化的介质一方的原因；和由 于构成驱动器的光拾取器、半导体激光器的种类的不同或制造时的组 装偏差而使最佳的条件发生变化的驱动器一方的原因。实际上，对于 这些原因的组合，存在适合于各组合的记录条件。因此，以往使用以下的方法，即预先在介质一方存储可从驱动 器一方识别该介质的种类的ID信息，并且预先在驱动器一方按介质 的种类存储预先准备的记录条件，在进行实际的记录时，从填装在驱 动器中的介质读入该介质的ID信息，使用与该ID信息相关联的记录 条件(称作光策略(light strategy )，，)。可是，在上述以往的方法中，能够对于预先验证过的已知的介质， 选择某种程度上适合的某记录条件，但是对于未经过验证的未知的介质，就存在无法用所准备的记录条件进行应对的情况，此外，即使是 已知的介质，因为记录环境的变化，例如记录速度、干涉、及时间变 化，就存在无法用所准备的记录条件进行应对的情况。作为i某求对这样的未知介质的应对的方法，公知有以下文献所记 载的方法。[专利文献1]日本特开20(B-30837号公才艮 [专利文献2]日本特开20(H-1105号公报在上述专利文献1的段落中，记载有…对各记录模式 (pattern)检测与通道时钟的相位误差。记录补偿参数调整部12根 据相位误差检测部11的检测结果，使发光波形规则最优化...这样 的内容，公开了通过与通道时钟的比较来检测、校正相位误差的方法。此外，在上述专利文献1的段落中记载有接着，记录用 于确定发光波形规则的测试模式。然后，再现已记录该测试模式的区 域，研究预先准备的发光波形规则与相位误差量的关系。即，测量各 种标记的长度与紧接该标记志之前的各种间隔的长度的各组合中的 相位误差量。从测量出的相位误差量预测相位误差量变为零的发光波 形规则，确定所希望的发光波形规则…这样的内容，公开了按标记 和间隔的各组合来测量相位误差量，预测相位误差量变为零的方法 (参照图8和图12)。根据该专利文献l中记载的方法，能进行基于记录模式的相位误 差的校正，因此该方法是对策略的最优化有效的方法。但是，根据上述专利文献1的方法，由于与以往同样是对预先存 储在驱动器中的策略进行细微调整，因此对于不适合于预先存储的策 略的介质，就难以满足良好的记录品质。此外，在上述专利文献2的段落中，记载有…一体地(连这样的内容，在上述专利文献2的段落0046中，记载有…光脉沖 以2等级来调整激光功率，当激光功率(起始脉冲的峰值)Ph与激 光功率(非多脉冲的峰值)Pm的比处于最佳时，得到最佳功率…这样的内容，暗示出对Ph/Pm的比率进行最优化的有用性。但是，根据上述专利文献2的方法，由于如该文献的段落 中记载的那样，是根据存储于驱动器或者介质中的值，临时设定Ph 和Pm的初始值，之后，求出Ph/Pm的比率，因此与专利文献l的情 况同样，对于不适合于临时设置的值的介质，就难以满足良好的记录品质。另外，对光盘等光信息记录介质的信息记录，通过以下的方式进 行，即将记录数据以EFM( Eight to Fourteen Modulation )格式、8-16 调制格式等进行调制，根据该调制信号形成记录脉沖，根据该记录脉 沖控制激光的强度或照射定时，在光盘上形成记录坑。这里，记录坑的形成，由于是利用激光的照射所产生的热来进行 的，因此记录脉沖需要进行考虑了蓄热效果或热干涉等的设定。于是， 以往按光盘的种类以策略的形式对构成记录脉冲的各种参数的设定 进行多个定义，从这些策略中选择最适合于该记录环境的策略，从而 进行对光盘的记录。该策略不仅依赖于例如光拾取器的点径偏差、机构精度偏差等光 信息记录装置个体差别，还依赖于用于记录再现时的光盘的制造商类 别和记录速度，因此设定最佳策略将提高记录品质。为此，人们提出了这样的方法，即求出对应于各制造商类别的 光盘的最佳策略，将该策略对应于各制造商类别预先存储到存储器 中，在对光盘记录信息时，读取记录在光盘中的光盘的制造商类别， 从上述存储器读出与该所读取的制造商类别对应的最佳策略来进行 使用。但是，根据上述方法，虽然可以对于预先存储在存储器中的制造 商类别的光盘进行最佳记录，但对于没有存储在存储器中的制造商类 别的光盘，则无法进行最佳记录，此外，即使是预先存储在存储器中 的制造商类别的光盘，当记录速度不同时，也不能进行最佳记录。因此，如下述专利文献3~6所示，提出了按不同的记录条件预 先进行测试记录，根据该测试记录确定最佳策略，从而能应对各种光盘的方法。[专利文献3]日本特开平5-144001号公报 [专利文献4]日本特开平4-137224号公报 [专利文献5]日本特开平5-143999号公报 [专利文献6]日本特开平7-235056号公报然而，上述专利文献3~6所示的方法，由于在开始信息记录前 需要进行测试记录，因此无法在记录的同时对策略进行校正，难以进 行对内外周的最佳条件不同的情况的应对。作为解决由于存在着光盘从内周部到外周部若干个记录特性有 差异、记录装置一方在内周部和外周部的记录速度不同的情况，因此 记录品质产生内外差这样的课题的方法，以下的专利文献揭示了通过 调整激光输出来緩解内外差的技术。[专利文献7]日本特开昭53-05(T707号公报在该专利文献7中，z^开了通过^:测副光束(sub beam)的光量 变化，自动地进行激光输出的优化的方法，该种方法被称为OPC。上述这样的OPC,是实时调整调整功率的被称作随机(running) OPC的方法，能够通过不对称(asymmetry) ^L等统计上的指标求出 校正条件，因此也可以实现一边记录一边进行校正的实时校正，但在 校正脉冲宽度或脉冲的相位条件时，由于需要记录脉冲与在光盘上所 形成的坑之间的偏移量，因此用现有的OPC难以进行应对。因此，为了进行脉冲条件的实时校正，就需要在记录的同时检测 坑和间隔的位置、长度的技术。作为解决这一问题的一个方法 (approach),在下述专利文献8中公开了对与记录位置几乎相同的 位置进行再现的技术。[专利文献8]日本特开昭51-109851号乂/H艮但是，该方法虽然能够适用于光磁记录，但对于不使用磁的光记 录却难以适用。即，在光》兹记录中，由于通过》兹调制进行信息的记录， 因此激光的输出是无调制的，但在光记录中，由于通过激光的输出调 制来进行信息的记录，因此会产生该调制的影响波及到再现一方这样的问题。作为解决该问题的方法，已知有下述文献所揭示的方法。[专利文献9]日本特开平1-287825号公报 [专利文献IO]日本特开平7-129956号公报 [专利文献11]日本特开2004-22044号公报 [专利文献12]日本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑和／或岸，同时通过再现用激光的照射进行上述坑和／或岸的检测，该光信息记录装置的特征在于，包括：对在上述光记录介质的测试区域形成的坑和／或岸进行再现，并确定仅由起始脉冲构 成的第１记录脉冲和比该第１记录脉冲长的由上述起始脉冲与后续脉冲构成的第２记录脉冲的记录条件的装置；使用上述记录用激光，在上述光记录介质的记录区域，照射以与上述第２记录脉冲的宽度相等的间隔配置了２个上述第１记录脉冲的记录脉冲串的装置； 以及通过上述再现用激光对由上述记录脉冲串的照射形成的坑和／或岸进行再现，取得与２个上述第１记录脉冲的间隔对应的坑和／或岸信号的装置。

【技术特征摘要】
JP 2004-11-18 334928/2004;JP 2004-12-20 367802/2001.一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑和/或岸，同时通过再现用激光的照射进行上述坑和/或岸的检测，该光信息记录装置的特征在于，包括对在上述光记录介质的测试区域形成的坑和/或岸进行再现，并确定仅由起始脉冲构成的第1记录脉冲和比该第1记录脉冲长的由上述起始脉冲与后续脉冲构成的第2记录脉冲的记录条件的装置；使用上述记录用激光，在上述光记录介质的记录区域，照射以与上述第2记录脉冲的宽度相等的间隔配置了2个上述第1记录脉冲的记录脉冲串的装置；以及通过上述再现用激光对由上述记录脉冲串的照射形成的坑和/或岸进行再现，取得与2个上述第1记录脉冲的间隔对应的坑和/或岸信号的装置。2. —种光信息记录装置，通过激光的脉沖照射，在光记录介质 上进行坑和/或岸的形成，其特征在于，包括对在上述光记录介质的测试区域内形成的坑和/或岸进行再现，求 出所取得的信号的2次微分等效值的装置；对在上述光记录介质的记录区域内形成的坑和/或岸进行再现，求 出所取得的信号的2次微分等效值的装置；以及对在上述测试区域内求出的2次微分等效值，与在上述记录区域 内求出的2次微分等效值进行比较的装置。3. —种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录 介质上形成坑和/或岸，同时通过再现用激光的照射进行上述坑和/或 岸的检测，该光信息记录装置的特征在于，包括使用上述再现用激光，对使用上述记录用激光在上述光记录介质 的记录区域内形成的坑和/或岸进行再现，求出所取得的信号的2次微 分等效值的装置；以及对在上述测试区域内求出的2次微分等效值，与在上述记录区域内求出的2次微分等效值进行比较的装置。4. 一种光信息记录装置，通过激光的脉冲照射，在光记录介质 上进行长度不同的多种坑和岸的形成，其特征在于，包括对在上述光记录介质的测试区域内形成的坑和岸进行再现，求出 对于所取得的各个上述长度不同的多种坑信号的2次微分等效值的装 置；对在上述光记录介质的记录区域内形成的坑和岸进行再现，求出 对于所取得的各个上述长度不同的多种坑信号的2次微分等效值的装 置；以及对在上述测试区域内求出的对于各坑长度的2次微分等效值，与 在上述记录区域内求出的对于各坑长度的2次微分等效值进行比较的装置。5. —种光信息记...

【专利技术属性】
技术研发人员：宫泽冬树，佐藤祯一，松田勋，久保哲治，小山胜弘，垣本博哉，
申请(专利权)人：太阳诱电株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]