显示设备和测试该设备的方法技术

一种经济地制造显示设备的方法，所述显示设备包括以行和列排列的可驱动的像素阵列，其被排列以被ＩＣ驱动器驱动，所述方法包括步骤：在显示设备中包括选择性地可连接到某些像素行的多条传感器信号线、选择性地可连接到某些像素列的多条传感器信号线；发送测试信号以便测试像素的预定一些行和列；并且将像素驱动电路连接到那些响应测试信号而呈现均匀像素亮度的显示设备。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示设备和测试该显示设备的方法。
技术介绍
液晶显示器(LCD)通常包括被提供有像素电极和公共电极的一对面板以及介于该两个面板之间的介电各向异性的液晶层。像素电极通常以矩阵模式排列并且连接到诸如薄膜晶体管(TFT)之类的开关元件，以便逐行接收图像数据电压。公共电极覆盖所述两个面板之一的整个表面，并且被提供有公共电压。像素电极、公共电极的相应部分和液晶层的相应部分形成液晶电容器，该液晶电容器连同与液晶电容器连接的开关元件是像素的基本元件。LCD通过将电压施加到像素电极和公共电极来产生电场，改变所施加的电场的强度以便调节通过液晶层的光的透射率，从而显示图像。LCD使用触摸板来通过手指、笔、或铁笔触摸显示板进行写或画。然而，并有触摸屏板的LCD的制造费用相对于不利用触摸屏板的LCD的费用来说较高。而且，将触摸屏板连到LCD进行的处理会导致产量和亮度减小，并且增加LCD的厚度。为了解决上述问题，可以将多个用薄膜晶体管实现的感测单元集成到显示LCD图像的像素中。一旦显示板被手指或工具接触时，感测单元就感测入射光的变化。通常仅视觉检查可由薄膜晶体管实现的感测单元来进行。然而，在连接到感测单元的感测信号发生器的制造处理期间，通常不进行检查，并且不输出感测信号，从而检测不到缺陷。
技术实现思路
本专利技术的示例性实施例提供了一种显示设备，包括多条第一显示信号线；多条与第一显示信号线交叉的第二显示信号线；多个像素，分别连接到第一显示信号线之一和第二显示信号线之一；多条第一传感器信号线，被分别放置在预定像素行(下文中称作“像素行组”)并且与第一显示信号线平行；多条第二传感器信号线，被分别放置在预定像素列(下文中称作“像素列组”)并且与第二显示信号线平行；多个第一传感器信号输出单元，分别连接到第一传感器信号线；多个第二传感器信号输出单元，分别连接到第二传感器信号线；多个第一检查开关元件，分别连接到第一显示信号线；多个第二检查开关元件，分别连接到第二显示信号线；第一检查线，用于将来自外部的测试信号发送到第一检测开关元件；和第二检查线，用于将所述测试信号发送到第二检测开关元件，其中，与相同像素行组中包含的第一显示信号线连接的第一检查开关元件连接到相同的第一传感器信号输出单元，并且与相同像素列组中包含的第二显示信号线连接的第二检查开关元件连接到相同的第二传感器信号输出单元。第一检查线可以包括用于接收测试信号的测试焊片(pad)。显示设备可以还包括与所述检查焊片连接并且用于发送驱动电压的信号线以及与所述信号线连接的第一输出焊片。显示设备可以还包括驱动芯片，其电连接到第二显示信号线、第一传感器信号线和第二传感器信号线。第一输出焊片连接到驱动芯片，并且驱动电压关闭第一检查开关元件和第二检查开关元件。显示设备可以还包括至少一条与第一显示信号线、第二显示信号线和像素相隔的第三检查线，该第三检查线将测试信号发送到第二显示信号线，其中第三检查线包括用于接收测试信号的检查焊片。至少一条第三检查线可以包括两条第三检查线，并且该两条第三检查线与第二显示信号线可以交替地放置。显示设备可以还包括切割线，用于切断第二显示信号线与第三检查线之间的连接。显示设备可以还包括与第二显示信号电连接的第一驱动芯片以及与第一传感器信号线和第二传感器信号线电连接的第二驱动芯片。显示设备可以还包括与第一检查线连接并且发送驱动电压的第二输出焊片。第二输出焊片连接到第二驱动芯片，并且驱动电压关闭第一检查开关元件和第二检查开关元件。显示设备可以还包括至少一条与第一显示信号线、第二显示信号线和像素相隔的第三检查线，该第三检查线将测试信号发送到第二显示信号线；并且第三检查线包括用于接收测试信号的检查焊片。至少一条第三检查线包括两条第三检查线，并且该两条第三检查线与第二显示信号线交替地放置。显示设备可以还包括切割线，用于切割第二显示信号线与第三检查线之间的连接。第一传感器信号输出单元和第二传感器信号输出单元中的每一个可以包括第一重置晶体管，其被提供有第一重置电压和第一重置控制信号；输出晶体管，其连接到第一重置晶体管和第一检查开关元件或者第二检查开关元件；和第二重置晶体管，其被提供有第二重置电压和第二重置控制信号，并且连接到输出晶体管。本专利技术的另一实施例提供了一种测试显示设备的方法，所述显示设备包括多条第一显示信号线；多条第二显示信号线；多个连接到第一显示信号线和第二显示信号线的像素；对预定数量的像素行中每一像素行放置的多条第一传感器信号线；对预定数量的像素列中每一像素列放置的多条第二传感器信号线；多个连接到第一传感器信号线的第一传感器信号输出单元；多个连接到第二传感器信号线的第二传感器信号输出单元；多个第一检查开关元件，用于检查到第一显示信号线的连接；多个第二检查开关元件，用于检查到第二显示信号线的连接；第一检查线，用于将来自外部的测试信号发送到第一检测开关元件；和第二检查线，用于将所述测试信号发送到第二检测开关元件，其中，第一和第二传感器信号输出单元中的每一个包括第一重置晶体管、与第一重置晶体管连接的输出晶体管、和与输出晶体管连接的第二重置晶体管，所述包括驱动第一重置晶体管和输出晶体管；通过将测试信号施加到第一检查线和第二检查线，并且通过第一和第二检查开关元件将来自输出晶体管的信号施加到第一显示信号线和第二显示信号线，驱动像素；停止第一重置晶体管的驱动；驱动第二重置晶体管；和通过将测试信号施加到第一检查线和第二检查线，并且通过第一和第二检查开关元件将来自输出晶体管的信号施加到第一显示信号线和第二显示信号线以驱动像素。附图说明通过参考附图详细描述本专利技术的优选实施例，本专利技术将变得更加明显，其中图1是示出根据本专利技术示例性实施例的像素的LCD的方框图；图2是根据本专利技术示例性实施例的LCD的像素的等效电路图；图3是示出根据本专利技术示例性实施例的感测单元的LCD的方框图；图4是根据本专利技术示例性实施例的LCD的感测单元的等效电路图；图5是根据本专利技术示例性实施例的传感器信号输出单元的电路图；图6是根据本专利技术示例性实施例的LCD的示意图；图7是根据本专利技术示例性实施例的传感器信号输出单元的感测操作的时序图；图8是根据本专利技术示例性实施例的LC面板组件的示意布局图，其上形成了多个检查开关元件、多条检查线和多个用于检查传感器信号输出单元的检查焊片；图9是根据本专利技术另一示例性实施例的LC面板组件的示意布局图，在其上形成了多个检查开关元件、多条检查线和多个用于检查传感器信号输出单元的检查焊片；和图10是图解说明了根据本专利技术实施例的测试传感器信号输出单元中、当像素和感测单元的密度不同时检查开关元件以及图像扫描和图像数据线之间的连接的等效电路图。具体实施例方式附图中，为了清晰而放大了层和区域的厚度。此处参考了横截面图解描述了本专利技术的实施例，所述横截面图解是本专利技术的理想实施例的示意性图解。因此，例如，对于制造技术和/或公差，可以期望图解的形状的变化。如图1和3所述，根据本专利技术示例性实施例的LCD包括液晶(LC)面板组件300、图像扫描驱动器400、图像数据驱动器500、感测信号处理器800、与图像数据驱动器500耦接的灰度电压发生器550、与感测信号处理器800耦接的接触确定器700、和用于控制此处本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示设备，包括：多条第一显示信号线；多条与第一显示信号线交叉的第二显示信号线；多个像素，分别连接到第一显示信号线之一和第二显示信号线之一；多条第一传感器信号线，被分别放置在预定像素行（下文中称作“像素行组”）处，并且与第一显示信号线平行；多条第二传感器信号线，被分别放置在预定像素列（下文中称作“像素列组”）处，并且与第二显示信号线平行；多个第一传感器信号输出单元，分别连接到第一传感器信号线；多个第二传感器信号输出单元，分别连接到第二传感器信号线；多个第一检查开关元件，分别连接到第一显示信号线；多个第二检查开关元件，分别连接到第二显示信号线；第一检查线，用于将来自外部的测试信号发送到第一检测开关元件；和第二检查线，用于将所述测试信号发送到第二检测开关元件，其中，与相同像素行组中包含的第一显示信号线连接的第一检查开关元件连接到相同的第一传感器信号输出单元，并且与相同像素列组中包含的第二显示信号线连接的第二检查开关元件连接到相同的第二传感器信号输出单元。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：李明雨，李柱亨，朴商镇，鱼基汉，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]