测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及半导体器件光学检测技术领域，具体涉及一种测试装置。测试装置包括工作台以及测试机构，工作台具有用于放置阵列的多个待测试产品的台面，测试机构位于工作台的上方，并能够分别在第一方向和第二方向上相对台面往复移动，第一方向和第二方向均平行于台面，测试机构包括沿第一方向并排设置的第一检测件及第二检测件，测试机构包括两个第一检测件，两个第一检测件分别位于第二检测件的两侧。测试时，使测试机构沿第一方向移动，在前的一个第一检测件工作，然后测试机构沿第二方向移动换行后再沿与第一方向相反的方向移动，此时，另一个第一检测件工作，有效缩短了测试机构移动的距离，减少了测试时间，提高了测试速度，测试效率高。测试效率高。测试效率高。

【技术实现步骤摘要】
测试装置


[0001]本技术涉及半导体器件光学检测
，具体涉及一种测试装置。

技术介绍

[0002]近年来，半导体工艺发展迅速，几乎各领域都可以看到半导体器件的身影。半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，其中，晶体管是一种固体半导体器件，可以用于检波、整流、放大、开关、稳压、信号调制和许多其它功能。晶体管作为一种可变开关，基于输入的电压，控制流出的电流，因此晶体管可做为电流的开关，和一般机械开关不同处在于晶体管是利用电讯号来控制，而且开关速度可以非常之快，在实验室中的切换速度可达100GHz以上。晶体管TO系列封装有TO56等。
[0003]一般地，TO管在生产完成后需要进行光学检测，以测试其是否符合生产要求，测试完成后进行分类与出库，而用于对TO管进行光学检测的装置即为测试装置。然而，现有的测试装置测试速度慢，这将影响到TO管的分类与出库等后续工序。为此，有必要提供一种测试装置，提高TO管的光学检测效率，满足用户需求。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的是：提供一种测试装置，旨在解决现有的测试装置测试速度慢，影响到产品的分类与出库等后续工序的问题。
[0005]为了实现上述技术问题，本技术提供了一种测试装置，测试装置包括工作台以及测试机构，所述工作台具有用于放置阵列的多个待测试产品的台面，所述测试机构位于所述工作台的上方，并能够分别在第一方向和第二方向上相对所述台面往复移动，所述第一方向和所述第二方向均平行于所述台面，所述测试机构包括沿所述第一方向并排设置的第一检测件及第二检测件，所述测试机构包括两个所述第一检测件，两个所述第一检测件分别位于所述第二检测件的两侧。
[0006]可选地，所述第一方向与所述第二方向垂直。
[0007]可选地，所述第一检测件用于感知待测试产品，所述第二检测件用于测试待测试产品是否合格。
[0008]可选地，所述第一检测件为积分球，所述第二检测件为多膜光纤。
[0009]可选地，所述测试装置还包括控制器，所述控制器分别与两个所述第一检测件电性连接，并用于控制两个所述第一检测件的工作状态。
[0010]可选地，所述测试机构还包括安装座，所述安装座能够相对所述台面移动，所述第一检测件和所述第二检测件均安装在所述安装座上。
[0011]可选地，所述第一检测件与所述第二检测件在所述第一方向上的间距可调。
[0012]可选地，所述第一检测件和/或所述第二检测件可沿所述第一方向调节在所述安装座上的位置。
[0013]可选地，所述第一检测件与所述安装座中的一个设有用于连接所述第一检测件与所述安装座的调节孔，且所述调节孔沿所述第一方向延伸。
[0014]可选地，所述测试装置还包括沿所述第二方向平行设置的两个导轨及位于每一所述导轨上的滑座，所述滑座与所述导轨滑动连接，所述测试装置还包括横梁，所述横梁沿所述第一方向架设在两个所述滑座之间，且所述安装座滑动设置在所述横梁上。
[0015]本技术的有益效果为：上述测试装置，包括工作台以及测试机构，工作台具有台面，可以阵列放置多个待测试产品，工作台上方的测试机构分别在第一方向和第二方向上往复移动，以对多个待测试产品依次进行测试，其中，测试机构包括第一检测件及第二检测件，对于一个待测试产品，第一检测件检测后，第二检测件检测，以测试其是否合格。测试时，使测试机构沿第一方向移动，在前的一个第一检测件工作，然后测试机构沿第二方向移动换行后再沿与第一方向相反的方向移动，此时，另一个第一检测件工作。该测试装置有效缩短了测试机构移动的距离，减少了测试时间，提高了测试速度，测试效率高。
附图说明
[0016]本技术上述和/或附加方面的优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0017]图1是本技术的测试装置和TO产品的结构示意图；
[0018]图2是图1中测试装置和TO产品的主视图；
[0019]其中图1和图2中附图标记与部件名称之间的对应关系为：
[0020]10、工作台；11、台面；
[0021]20、测试机构；21、第一检测件；211、调节孔；22、第二检测件；23、安装座；
[0022]30、导轨；
[0023]40、滑座；
[0024]50、机架；
[0025]200、TO产品。
具体实施方式
[0026]为了能够更清楚地理解本技术的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本技术进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0027]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0028]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连通”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接连通，也可以通过中间媒介间接连通，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术
语在本技术中的具体含义。此外，在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0029]本技术一实施例提供一种针对晶体管TO系列封装产品测试速度快的测试装置，TO系列封装产品可以为TO56等类似产品。如图1及图2所示，测试装置包括工作台10以及测试机构20，工作台10具有用于放置阵列的多个待测试TO产品200的台面11，测试机构20位于工作台10的上方，并能够分别在第一方向和第二方向上相对台面11往复移动，第一方向和第二方向均平行于台面11，测试机构20包括沿第一方向并排设置的第一检测件21及第二检测件22，测试机构20包括两个第一检测件21，两个第一检测件21分别位于第二检测件22的两侧，其中，第一方向为X方向，第二方向为Y方向。
[0030]上述测试装置，包括工作台10以及测试机构20，工作台10具有台面11，可以阵列放置多个待测试TO产品200，工作台10上方的测试机构20分别在X方向和Y方向上往复移动，以对多个待测试TO产品200依次进行测试，其中，测试机构20包括第一检测件21及第二检测件22，对于一个待测试TO产品200，第一检测件21检测后，第二检测件22检测，以测试其是否合格。测试时，使测试机构20沿X方向移动，位于第二检测件22右边的第一检测件21工作，该第一检测件21和第二检测件22依次对此行每一待测试TO产品200进行测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：工作台，具有用于放置阵列的多个待测试产品的台面；以及测试机构，位于所述工作台的上方，并能够分别在第一方向和第二方向上相对所述台面往复移动，所述第一方向和所述第二方向均平行于所述台面，所述测试机构包括沿所述第一方向并排设置的第一检测件及第二检测件，所述测试机构包括两个所述第一检测件，两个所述第一检测件分别位于所述第二检测件的两侧。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一方向与所述第二方向垂直。3.根据权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于，所述第一检测件用于感知待测试产品，所述第二检测件用于测试待测试产品是否合格。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述第一检测件为积分球，所述第二检测件为多膜光纤。5.根据权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括控制器，所述控制器分别与两个所述第一检测件电性连接，并用于控制两个所述第一检测件的工作状...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈旭光，白文，徐虎，
申请(专利权)人：徐州芯思杰半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：