测试系统技术方案

本申请涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种测试系统，该测试系统包括测试盒和性能参数检测装置，测试盒包括性能模块、通道模块、电源模块及连接模块，性能模块包括性能测试线路及性能开关，通道模块包括连接通道及连接孔，连接通道与性能模块串联连接，连接通道与待测试件连接；测试盒连接有电源，电源模块包括电源第一端口和电源第二端口；连接模块包括输入端口及输出端口，性能参数检测装置与性能模块连接。通过性能开关选择性连通其中一个性能测试线路实现芯片性能检测，性能参数检测装置显示性能测试参数或性能测试图表等，控制性能开关与另一性能测试线路连通方便快速的测试芯片的另一性能，提高测试效率，方便技术人员操作。作。作。

【技术实现步骤摘要】
测试系统


[0001]本申请总体来说涉及芯片测试
，具体而言，公开了一种测试系统。

技术介绍

[0002]质量和可靠性在一定程度上决定了芯片产品的寿命，而为了确保芯片产品的可靠性，在芯片被制造出来之后，都需要进行性能测试对芯片进行检测。现有的测试系统在芯片进行性能测试时通常为单通道的单项性能测试，在需要测试芯片的多项性能时，需要技术人员重新进行电路连接，测试效率较低。

技术实现思路

[0003]本申请的目的在于提供一种测试系统，其可以提高芯片测试效率。
[0004]为实现上述技术目的，本申请采用如下技术方案：
[0005]第一方面，提供了一种测试系统，包括测试盒和性能参数检测装置，所述性能参数检测装置用于检测待测试件的性能参数，所述测试盒包括：
[0006]性能模块，包括设置于所述测试盒内的至少两个性能测试线路以及性能开关，所述性能开关可选择地连通其中一所述性能测试线路；
[0007]通道模块，包括设置于所述测试盒内的连接通道以及开设于所述测试盒上的连接孔，所述连接通道与所述性能模块串联连接，所述连接通道通过所述连接孔与所述待测试件连接；
[0008]电源模块，所述测试盒通过所述电源模块连接有电源，所述电源模块包括开设于所述测试盒上的电源第一端口和电源第二端口；以及
[0009]连接模块，包括开设于所述测试盒上的输入端口以及输出端口，所述性能参数检测装置通过所述输入端口和所述输出端口与所述性能模块连接。
[0010]根据本申请的一实施方式，其中还包括用于与所述连接孔连接的测试插板，所述待测试件可拆卸地设置于所述测试插板上。
[0011]根据本申请的一实施方式，其中所述测试插板上设置有插接件，所述插接件与所述连接孔插接配合。
[0012]根据本申请的一实施方式，其中还包括温变箱，所述温变箱用于罩设所述测试盒。
[0013]根据本申请的一实施方式，其中所述温变箱上设置有可视化窗口。
[0014]根据本申请的一实施方式，其中所述性能参数检测装置包括图示仪，所述输入端口包括第一输入端口，所述输出端口包括第一输出端口，所述测试盒通过第一输入端口和第一输出端口与所述图示仪连接。
[0015]根据本申请的一实施方式，其中所述性能参数检测装置包括皮安表，所述输入端口包括第二输入端口，所述输出端口包括第二输出端口，所述测试盒通过第二输入端口和第二输出端口与所述皮安表连接。
[0016]根据本申请的一实施方式，其中所述通道模块还包括与所述连接通道连通的通道
开关，所述测试盒上设置有通道按钮，所述通断按钮与所述通道开关连接。
[0017]根据本申请的一实施方式，其中所述通道开关上串接有复位开关。
[0018]根据本申请的一实施方式，其中所述通道模块上并接有指示器。
[0019]根据本申请实施例公开的测试系统，该测试系统包括测试盒和性能参数检测装置，所述性能参数检测装置用于检测待测试件的性能参数，所述测试盒包括性能模块、通道模块、电源模块以及连接模块，所述性能模块包括设置于所述测试盒内的至少两个性能测试线路以及性能开关，所述性能开关可选择地连通其中一所述性能测试线路；所述通道模块包括设置于所述测试盒内的连接通道以及开设于所述测试盒上的连接孔，所述连接通道与所述性能模块串联连接，所述连接通道通过所述连接孔与所述待测试件连接；所述测试盒通过所述电源模块连接有电源，所述电源模块包括开设于所述测试盒上的电源第一端口和电源第二端口；所述连接模块包括开设于所述测试盒上的输入端口以及输出端口，所述性能参数检测装置通过所述输入端口和所述输出端口与所述性能模块连接。本申请通过电源向测试盒提供电信号，通过通道模块将待测试件与性能模块相连接，选择性能模块中的性能测试线路实现待测试件该项性能的检测，通过性能参数检测装置显示待测试件的性能测试参数或者性能测试图表等。技术人员通过控制性能开关使其与另一性能测试线路连通即可方便快速的测试待测试件的另一性能，提高测试效率，方便技术人员操作。
附图说明
[0020]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本技术的实施例，并与说明书一起用于解释本技术的原理。
[0021]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1是根据一示例性实施方式示出的一种测试系统的整体结构示意图。
[0023]图2是根据一示例性实施方式示出的一种测试系统中测试盒的结构示意图(一)。
[0024]图3是根据一示例性实施方式示出的一种测试系统中测试盒的结构示意图(二)。
[0025]图4是根据一示例性实施方式示出的一种测试系统中测试盒的结构示意图(三)。
[0026]其中，附图标记说明如下：
[0027]1、测试盒；2、性能开关；3、连接孔；4、电源第一端口；5、电源第二端口；6、第一输入端口；7、第一输出端口；8、第二输入端口；9、第二输出端口；10、第三输入端口；11、第三输出端口；12、标记部；13、开关总按钮；14、电源；15、皮安表；16、图示仪。
具体实施方式
[0028]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0029]需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不
一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
[0030]而且，术语“包括”、“包含”和“具有”以及他们的任何变形或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0031]为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试系统，其特征在于，包括测试盒和性能参数检测装置，所述性能参数检测装置用于检测待测试件的性能参数，所述测试盒包括：性能模块，包括设置于所述测试盒内的至少两个性能测试线路以及性能开关，所述性能开关可选择地连通其中一所述性能测试线路；通道模块，包括设置于所述测试盒内的连接通道以及开设于所述测试盒上的连接孔，所述连接通道与所述性能模块串联连接，所述连接通道通过所述连接孔与所述待测试件连接；电源模块，所述测试盒通过所述电源模块连接有电源，所述电源模块包括开设于所述测试盒上的电源第一端口和电源第二端口；以及连接模块，包括开设于所述测试盒上的输入端口以及输出端口，所述性能参数检测装置通过所述输入端口和所述输出端口与所述性能模块连接。2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，还包括用于与所述连接孔连接的测试插板，所述待测试件可拆卸地设置于所述测试插板上。3.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述测试插板上设置有插接件，所述插接件与所述连接孔插接配合。4.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖光泽，徐虎，
申请(专利权)人：徐州芯思杰半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：