一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法技术

本发明专利技术公开了一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法，包括以下步骤：S1、将电容测试仪表连接开关网络；S2、用射频机械式继电器开关将所述开关网络进行搭建；S3、所述搭建好的开关网络将电容测试仪表的电流驱动高端Hcur端口、电压检测高端Hpot端口、电流驱动低端Lcur端口和电压检测高端Lpot端口的信号分别分为多路，并每次导通一个通道；S4、分别将多路测试探针固定于上下两个针卡；S5、连接电容测试仪表、开关网络和测试探针，使用测试探针进行自动测试。能够仅通过一台电容测试仪表实现高频(1MHz)电容器的容值和损耗参数的多通道高速测试和自动分选，同时保证测试的高效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法


[0001]本专利技术涉及电容双参数自动测试
，具体来说，涉及一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法。

技术介绍

[0002]随着中国经济的飞速发展，目前市场上的现有电容测试设备分为两类，第一类是多通道共电极测试方式，第二类是单表或多表配合上下探针移动测试方式。第一类测试方式中电容测试仪表的Hcur和Hpot通过一个开关网络将信号分为多路后通过测试针卡分别与多个待测电容器的一端电极连接，Lpot和Lcur通过金属板待测电容器的另一端电极连接进行测试，第一类设备的缺点是：无法对高频电容(1MHz)进行测试。第二类测试方式是单表或多表配合上下探针移动测试方式，系统配备1台或多台电容测试仪表，分别将电容测试仪表的Hcur和Hpot连接一个探针，Lpot和Lcur连接一个探针，通过两个探针分别连接电容的两个电极进行测试。通过平面运动机构控制探针或器件载具移动来实现多通道测试，第二类设备的缺点是：成本高，需要多台电容测试仪表，并增加横向平面运动机构，测试效率低，通过机械移动的方式进行通道切换，两个通道的测试效率仅能达到100pcs/min)。为了克服上述缺点，需要一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法，能够仅通过一台电容测试仪表实现高频(1MHz)电容器的容值和损耗参数的多通道高速测试和自动分选，同时保证测试的高效率。

技术实现思路

[0003]为解决现有技术中存在的问题，本专利技术提供一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法，能够仅通过一台电容测试仪表实现高频(1MHz)电容器的容值和损耗参数的多通道高速测试和自动分选，同时保证测试的高效率。
[0004]为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是：一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法，包括以下步骤：
[0005]S1、将电容测试仪表连接开关网络；
[0006]S2、用射频机械式继电器开关将所述开关网络进行搭建；
[0007]S3、所述搭建好的开关网络将电容测试仪表的电流驱动高端Hcur端口、电压检测高端Hpot端口、电流驱动低端Lcur端口和电压检测高端Lpot端口的信号分别分为多路，并每次导通一个通道；
[0008]S4、分别将多路测试探针固定于上下两个针卡；
[0009]S5、连接电容测试仪表、开关网络和测试探针，使用测试探针进行自动测试。
[0010]在本技术方案中，电容测试仪表具有电流驱动高端Hcur、电流驱动低端Lcur、电压检测高端Hpot、电压检测低端Lpot和对应于每测试端的屏蔽端一共四对测试端，一台电容测试仪表连接四套开关网络，克服了现有技术方案中的需要多台电容测试仪表才能测试的缺陷，同时用射频机械式继电器开关将所述开关网络进行搭建，搭建好的开关网络每次导
通一个通道，无需增加横向平面运动机构，搭建好的开关网络将电容测试仪表的电流驱动高端Hcur端口、电压检测高端Hpot端口、电流驱动低端Lcur端口和电压检测高端Lpot端口的信号分别分为多路，并每次导通一个通道，实现了高频(1MHz)电容器的容值和损耗参数的多通道高速测试和自动分选，分别将多路测试探针固定于上下两个针卡，连接电容测试仪表、开关网络和测试探针，使用测试探针进行自动测试，保证了测试的高效率。
[0011]在进一步的技术方案中，步骤S1包括：
[0012]一个电容测试仪表匹配的开关网络包括但不限于四套；
[0013]所述电容测试仪表包括但不限于LCR表、电容计或数字电桥。
[0014]在本技术方案中，四套开关网络(或一套，或两套，或三套)。
[0015]在进一步的技术方案中，步骤S2中的继电器包括但不限于：
[0016]单刀单掷继电器、单刀双掷继电器、单刀3掷继电器、单刀4掷继电器、单刀5掷继电器、单刀6掷继电器、单刀7掷继电器、单刀8掷继电器、单刀9掷继电器、单刀10掷继电器、单刀11掷继电器、单刀12掷继电器、单刀13掷继电器、单刀14掷继电器、单刀15掷继电器、单刀16掷继电器、单刀17掷继电、单刀18掷继电器、单刀19掷继电器和单刀20掷继电器。
[0017]在本实施例中，根据各种继电器开关形成的不同链路。
[0018]在进一步的技术方案中，步骤S5包括：
[0019]将每通道电流驱动高端Hcur端口和电压检测高端Hpot端口连接到一个针卡中的一个探针；
[0020]将每通道电流驱动低端Lcur端口和电压检测高端Lpot端口连接另一个针卡中的一个探针。
[0021]在本技术方案中，使用测试探针进行自动测试，保证了测试的高效率。
[0022]本专利技术的有益效果是：
[0023](1)本专利技术中应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法能够对高频电容(1MHz)进行测试；
[0024](2)本专利技术中应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法成本低，不需要多台电容测试仪表，无需增加横向平面运动机构，测试效率高；
[0025](3)本专利技术中应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法仅通过一台电容测试仪表实现高频(1MHz)电容器的容值和损耗参数的多通道高速测试和自动分选，同时保证测试的高效率。
附图说明
[0026]图1是本专利技术所述的一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法的流程图。
具体实施方式
[0027]下面结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明。
[0028]实施例：
[0029]如图1所示，本专利技术提供了一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法，包括以下步骤：
[0030]S1、将电容测试仪表连接开关网络；
[0031]S2、用射频机械式继电器开关将所述开关网络进行搭建；
[0032]S3、所述搭建好的开关网络将电容测试仪表的电流驱动高端Hcur端口、电压检测高端Hpot端口、电流驱动低端Lcur端口和电压检测高端Lpot端口的信号分别分为多路，并每次导通一个通道；
[0033]S4、分别将多路测试探针固定于上下两个针卡；
[0034]S5、连接电容测试仪表、开关网络和测试探针，使用测试探针进行自动测试。
[0035]在本实施例中电容测试仪表具有电流驱动高端Hcur、电流驱动低端Lcur、电压检测高端Hpot、电压检测低端Lpot和对应于每测试端的屏蔽端一共四对测试端，一台电容测试仪表连接四套开关网络，克服了现有实施例中的需要多台电容测试仪表才能测试的缺陷，同时用射频机械式继电器开关将所述开关网络进行搭建，搭建好的开关网络每次导通一个通道，无需增加横向平面运动机构，搭建好的开关网络将电容测试仪表的电流驱动高端Hcur端口、电压检测高端Hpot端口、电流驱动低端Lcur端口和电压检测高端Lpot端口的信号分别分为多路，并每次导通一个通道，实现了高频(1MHz)电容器的容值和损耗参数的多通道高速测试和自动分选，分别将多路测试探针固定于上下两个针卡，连接电容测试仪表、开关网本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、将电容测试仪表连接开关网络；S2、用射频机械式继电器开关将所述开关网络进行搭建；S3、所述搭建好的开关网络将电容测试仪表的电流驱动高端Hcur端口、电压检测高端Hpot端口、电流驱动低端Lcur端口和电压检测高端Lpot端口的信号分别分为多路，并每次导通一个通道；S4、分别将多路测试探针固定于上下两个针卡；S5、连接电容测试仪表、开关网络和测试探针，使用测试探针进行自动测试。2.根据权利要求1所述的一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法，其特征在于，所述步骤S1包括：一个电容测试仪表匹配的开关网络包括但不限于四套；所述电容测试仪表包括但不限于LCR表、电容计或数字电桥。3.根据权利要求1所述的一种应用于电容双...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗伟，窦国珍，肖冬，申敏，
申请(专利权)人：成都云绎智创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：