双线型像质计可识别率的测量方法、系统、设备和介质技术方案

技术编号:29976076 阅读:25 留言:0更新日期:2021-09-08 10:00
本发明专利技术公开了一种双线型像质计可识别率的测量方法、系统、设备和介质,所述方法包括:在待测双丝图像的双线型像质计区域画一条辅助线,并确定待测双丝图像的叠加平均行数;其中,所述叠加平均行数为大于或等于21的奇数;根据所述辅助线,在所述待测双丝图像中截取行数为所述叠加平均行数的双丝图像,得到截取后双丝图像;根据所述截取后双丝图像,得到调整后双丝灰度变化曲线;根据所述调整后双丝灰度变化曲线,计算每一线对的可识别率,得到所述待测双丝图像的分辨率。本发明专利技术提供的方法可以自动寻找双丝排列方向,对画线角度没有严格要求,降低了工人画线要求,有效提高了工作效率。有效提高了工作效率。有效提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
双线型像质计可识别率的测量方法、系统、设备和介质


[0001]本专利技术涉及图像自动测量研究领域,特别是涉及一种双线型像质计可识别率的测量方法、系统、设备和介质。

技术介绍

[0002]双线型像质计是13对金属丝固定在一个塑料板上的专用测量图像分辨率的配件,将其贴在任何X射线可以穿透成像的物体上,拍一张X射线图像。X射线图中有双线型像质计即可测量该图像分辨率。
[0003]根据国家标准NB/T 47013.11

2015《承压设备无损检测第11部分:X射线数字成像检测》,图像分辨率采用双线型像质计进行测定,双线型像质计图像中第一组可识别率不大于20%的线对,即为要求的最小分辨率。
[0004]目前大部分带有X射线图像分辨率测量的软件均具有双线型像质计自动识别率测量功能,但一般都要求操作人员在图像中的双线型像质计区域画一条垂直于双线型像质计的直线,这需要人工反复仔细调整画线方向,导致X射线图像分辨率不仅测量效率低,而且,手工所画直线与丝对垂直度的误差将直接影响X射线图像分辨率测量的准确度。

技术实现思路

[0005]为了解决上述现有技术的不足,本专利技术提供了一种双线型像质计可识别率的测量方法、系统、设备和介质,该方法可以自动寻找双线型像质计方向并确定丝线间距,能有效降低工人画线要求,极大地提高工人的工作效率。
[0006]本专利技术的第一个目的在于提供一种双线型像质计可识别率的测量方法。
[0007]本专利技术的第二个目的在于提供一种双线型像质计可识别率的测量系统。
[0008]本专利技术的第三个目的在于提供一种计算机设备。
[0009]本专利技术的第四个目的在于提供一种存储介质。
[0010]本专利技术的第一个目的可以通过采取如下技术方案达到:
[0011]一种双线型像质计可识别率的测量,所述方法包括:
[0012]在待测双丝图像的双线型像质计区域画一条辅助线,并确定待测双丝图像的叠加平均行数;其中,所述叠加平均行数为大于或等于21的奇数;
[0013]根据所述辅助线,在所述待测双丝图像中截取行数为所述叠加平均行数的双丝图像,得到截取后双丝图像;
[0014]根据所述截取后双丝图像,得到调整后双丝灰度变化曲线;
[0015]根据所述调整后双丝灰度变化曲线,计算每一线对的可识别率,得到所述待测双丝图像的分辨率。
[0016]进一步的,所述根据所述截取后双丝图像,得到调整后双丝灰度变化曲线,具体包括:
[0017]根据所述截取后双丝图像,得到双丝灰度变化曲线;
[0018]根据所述双丝灰度变化曲线,得到调整后的双丝灰度变化曲线。
[0019]进一步的,所述截取后双丝图像为imgs(i,j);
[0020]所述根据所述截取后双丝图像,得到双丝灰度变化曲线,具体为:
[0021]根据下式,计算双丝灰度变化曲线q(i):
[0022][0023]其中,w为所述叠加平均行数。
[0024]进一步的,所述根据所述双丝灰度变化曲线,得到调整后的双丝灰度变化曲线,具体包括:
[0025]根据下式,统计所述双丝灰度变化曲线q(i)前半部分的灰度和:
[0026][0027]其中,n为曲线q(i)的长度;
[0028]根据下式,统计所述双丝灰度变化曲线q(i)后半部分的灰度和:
[0029][0030]若L1>L2,则将所述双丝灰度变化曲线q(i)进行前后翻转,得到调整后双丝灰度变化曲线。
[0031]进一步的,所述根据所述调整后双丝灰度变化曲线,计算每一线对的可识别率,得到所述待测双丝图像的分辨率,具体包括:
[0032]将所述调整后双丝灰度变化曲线q(i)中的最大值记为maxq,最小值记为minq;
[0033]在曲线q(i)中,从坐标1开始往坐标n

2搜索,找出第一个小于Th
min
的极小值点,记为坐标v1;其中,Th
min
=minq+0.1*(maxq

minq),n为曲线q(i)的长度;
[0034]在曲线q(i)中,从坐标v1+1开始往坐标n

2搜索,找出第一个大于Th
max
的极大值点,记为坐标p;其中,Th
max
=minq+0.2*(maxq

minq);
[0035]在曲线q(i)中,从坐标p+1开始往坐标n

2搜索,找出第一个小于Th
min
的极小值点,记为坐标v2;
[0036]若v2‑
v1<第一设定阈值或>第一设定阈值,则辅助线没有画在双丝区域,提示工人重新画线,并结束程序;否则,继续执行后面的操作;
[0037]图像的物像比wx=dw/(v2‑
v1),其中,dw是线型像质计第一对丝线中两条线中心之间的实际物理距离;
[0038]令当前线对序号j=2;
[0039]根据下式,计算第j对丝线左边界坐标:
[0040][0041]其中,d
j

1,j
为第j

1对丝线中心与第j对丝线中心的实际物理间距;
[0042]根据下式,计算第j对丝线右边界坐标:
[0043][0044]其中,d
j,j+1
为第j对丝线中心与第j+1对丝线中心的实际物理间距;
[0045]在曲线q(i)中,找出坐标i
l
和i
r
之间的最大值和最小值,分别记为maxc和minc;
[0046]在曲线q(i)中,从坐标i
l
开始往坐标i
r
搜索,找出第一个小于Th
c
的极小值点,记为坐标v1;其中,Th
c
=minc+0.3*(maxc

minc);
[0047]在曲线q(i)中,从坐标i
r
开始往坐标i
l
搜索,找出第一个小于Th
c
的极小值点,记为坐标v2;
[0048]在曲线q(i)中,找出坐标v1和v2之间的最大值,记为坐标p;
[0049]根据下式,计算当前线对的可识别率:
[0050][0051]若v2‑
v1<2或R≤20%,则输出当前线对所对应的分辨率作为待测双丝图像的分辨率,并结束程序;否则,j=j+1;
[0052]若j为13,则输出当前线对所对应的分辨率作为待测双丝图像的分辨率,并结束程序;否则,返回根据下式,计算第j对丝线左边界坐标,并继续执行后面的操作。
[0053]进一步的,所述辅助线起点的横坐标和纵坐标分别为x1和y1,终点的横坐标和纵坐标分别为x2和y2;
[0054]所述根据所述辅助线,在本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双线型像质计可识别率的测量方法,其特征在于,所述方法包括:在待测双丝图像的双线型像质计区域画一条辅助线,并确定待测双丝图像的叠加平均行数;其中,所述叠加平均行数为大于或等于21的奇数;根据所述辅助线,在所述待测双丝图像中截取行数为所述叠加平均行数的双丝图像,得到截取后双丝图像;根据所述截取后双丝图像,得到调整后双丝灰度变化曲线;根据所述调整后双丝灰度变化曲线,计算每一线对的可识别率,得到所述待测双丝图像的分辨率。2.根据权利要求1所述的测量方法,其特征在于,所述根据所述截取后双丝图像,得到调整后双丝灰度变化曲线,具体包括:根据所述截取后双丝图像,得到双丝灰度变化曲线;根据所述双丝灰度变化曲线,得到调整后的双丝灰度变化曲线。3.根据权利要求2所述的测量方法,其特征在于,所述截取后双丝图像为imgs(i,j);所述根据所述截取后双丝图像,得到双丝灰度变化曲线,具体为:根据下式,计算双丝灰度变化曲线q(i):其中,w为所述叠加平均行数。4.根据权利要求2所述的测量方法,其特征在于,所述根据所述双丝灰度变化曲线,得到调整后的双丝灰度变化曲线,具体包括:根据下式,统计所述双丝灰度变化曲线q(i)前半部分的灰度和:其中,n为曲线q(i)的长度;根据下式,统计所述双丝灰度变化曲线q(i)后半部分的灰度和:若L1>L2,则将所述双丝灰度变化曲线q(i)进行前后翻转,得到调整后双丝灰度变化曲线。5.根据权利要求1所述的测量方法,其特征在于,所述根据所述调整后双丝灰度变化曲线,计算每一线对的可识别率,得到所述待测双丝图像的分辨率,具体包括:将所述调整后双丝灰度变化曲线q(i)中的最大值记为maxq,最小值记为minq;在曲线q(i)中,从坐标1开始往坐标n

2搜索,找出第一个小于Th
min
的极小值点,记为坐标v1;其中,Th
min
=minq+0.1*(maxq

minq),n为曲线q(i)的长度;在曲线q(i)中,从坐标v1+1开始往坐标n

2搜索,找出第一个大于Th
max
的极大值点,记为坐标p;其中,Th
max
=minq+0.2*(maxq

minq);
在曲线q(i)中,从坐标p+1开始往坐标n

2搜索,找出第一个小于Th
min
的极小值点,记为坐标v2;若则辅助线没有画在双丝区域,提示工人重新画线,并结束程序;否则,继续执行后面的操作;图像的物像比wx=dw/(v2‑
v1),其中,dw是线型像质计第一对丝线中两条线中心之间的实际物理距离;令当前线对序号j=2;根据下式,计算第j对丝线左边界坐标:其中,d
j

1,j
为第j

1对丝线中心与第j对丝线中心的实际物理间距;根据下式,计算第j对丝线右边界坐标:其中,d
j,j+1
为第j对丝线中心与第j+1对丝线中心的实际物理间距;在曲线q(i)中,找出坐标i
l
和i
r
之间的最大值和最小值,分别记为maxc和minc;在曲线q(i)中,从坐标i
l
开始往坐标i
r
搜索,找出第一个小于Th
c
的极小值点,记为坐标v1;其中,Th
c
=minc+0.3*(maxc

minc);在曲线q(i)中,从坐标i
r
开始往坐标i
l
搜索,找出第一个小于Th
c
的极小值点,记为坐标v2;在曲线q(i)中,找出坐标v1和v2之间的最大值,记为坐标p;根据下式,计算当前线对的可识别率:若v2‑
v1<2或R≤20%,则输出当前线对所对应的分辨率作为待测双丝图像的分辨率,并结束程序;否则,j=j+1;若j为13,则输出当前线对所对应的分辨率作为待测双丝图像的分辨率,并结束程序;否则,返回根据下式,计算第j对丝线左边界坐标,并继续执行后面的操作。6.根据权利要求1

5任一项所述的测量...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄茜师聪颖胡志辉陈宏燔乔腾
申请(专利权)人:华南理工大学
类型:发明
国别省市:

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