存储器地址测试电路、方法、存储器与电子设备技术

本公开提供一种存储器地址测试电路、方法、存储器与电子设备。存储器地址测试方法包括：对待测存储器输入地址测试指令，所述地址测试指令用于对所述待测存储器的目标存储单元进行读或写操作，所述地址测试指令至少包括所述目标存储单元的逻辑地址的第一地址信息；读取所述第一锁存器的输出端以得到第二地址信息；根据所述第二地址信息以及所述待测存储器的行译码逻辑获取第三地址信息；记录所述第一地址信息与所述第三地址信息的对应关系。本公开实施例可以自动获取软件代码地址、处理器输出的逻辑地址与存储器中存储单元物理地址之间的映射关系，提高存储器测试效率。

【技术实现步骤摘要】
存储器地址测试电路、方法、存储器与电子设备
本公开涉及集成电路测试
，具体而言，涉及一种存储器地址测试电路、方法、存储器与电子设备。
技术介绍
对存储器进行运行测试时，需要使用软件对存储器的存储单元进行读写测试，进而确定待测存储器的每个存储单元是否运行正常，在此过程中，需要了解软件中的逻辑地址与存储单元的实际物理地址之间的映射关系，以便在一个读写操作出现问题后，快速定位到出现问题的存储单元，以供后续进行工程分析和改进。在相关技术中，存储器测量人员通常使用逻辑分析仪确定逻辑地址与待测存储器的存储单元的物理地址之间的映射关系，效率低下，需要大量的时间成本。而由于存储器可用于连接不同的处理器，存储器生产厂商也无法给出唯一的逻辑地址与物理地址之间的映射关系。因此，如何迅速确定软件系统逻辑地址与存储器物理地址之间的映射关系成为本领域急需解决的一个难题。需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本公开的目的在于提供一种存储器地址测试电路、方法、存储器与电子设备，用于至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的存储器地址测试效率低问题。根据本公开的第一方面，提供一种存储器地址测试电路，设置在存储器中，包括：第一锁存器，输入端连接行地址锁存器的输入端，使能端连接行选通信号，输出端连接第一引脚组，所述第一引脚组用于连接处理器。在本公开的一种示例性实施例中，还包括：第二锁存器，输入端连接列地址锁存器的输入端，使能端连接列选通信号，输入端连接第二引脚组，所述第二引脚组用于连接处理器。根据本公开的第二方面，提供一种存储器地址测试电路，其特征在于，设置在存储器中，包括：第三锁存器，输入端连接行译码器的输出端，使能端连接行选通信号，输出端连接第一引脚组，所述第一引脚组用于连接处理器。在本公开的一种示例性实施例中，还包括：第四锁存器，输入端连接列译码器的输出端，使能端连接列选通信号，输入端连接第二引脚组，所述第二引脚组用于连接处理器。根据本公开的第三方面，提供一种存储器地址测试方法，应用于存储器地址测试电路，所述存储器地址测试电路设置在待测存储器内，包括第一锁存器，所述第一锁存器的输入端连接所述待测存储器的行译码器的输入端，所述方法包括：对待测存储器输入地址测试指令，所述地址测试指令用于对所述待测存储器的目标存储单元进行读或写操作，所述地址测试指令至少包括所述目标存储单元的逻辑地址的第一地址信息；读取所述第一锁存器的输出端以得到第二地址信息；根据所述第二地址信息以及所述待测存储器的行译码逻辑获取第三地址信息；记录所述第一地址信息与所述第三地址信息的对应关系。在本公开的一种示例性实施例中，所述存储器地址测试电路还包括第二锁存器，所述第二锁存器的输入端连接所述待测存储器的列译码器的输入端，在所述地址测试指令用于对所述目标存储单元进行写操作时，所述地址测试指令包括本次写入的第一数据信息，所述方法还包括：读取所述第二锁存器的输出端以得到第二数据信息；根据所述第二数据信息以及所述待测存储器的列译码逻辑获取第三数据信息；记录所述第一数据信息与所述第三数据信息的对应关系。在本公开的一种示例性实施例中，还包括：确定目标存储单元对应的第一地址信息与第一数据信息；根据所述目标存储单元的所述第一地址信息与所述第一数据信息确定所述目标存储单元对应的操作地址与操作数据。在本公开的一种示例性实施例中，还包括：确定所述待测存储器中每个存储单元对应的所述操作地址和所述操作数据。根据本公开的第四方面，提供一种存储器地址测试方法，应用于存储器地址测试电路，所述存储器地址测试电路设置在待测存储器内，包括第三锁存器，所述第三锁存器的输入端连接所述待测存储器的行译码器的输出端，所述方法包括：对待测存储器输入地址测试指令，所述地址测试指令用于对所述待测存储器的目标存储单元进行读或写操作，所述地址测试指令至少包括所述目标存储单元的逻辑地址的第一地址信息；读取所述第三锁存器的输出端以得到第三地址信息；记录所述第一地址信息与所述第三地址信息的对应关系。在本公开的一种示例性实施例中，所述存储器地址测试电路还包括第四锁存器，所述第四锁存器的输入端连接所述待测存储器的列译码器的输出端，在所述地址测试指令用于对所述目标存储单元进行写操作时，所述地址测试指令包括本次写入的第一数据信息，所述方法还包括：读取所述第四锁存器的输出端以得到第三数据信息；记录所述第一数据信息与所述第三数据信息的对应关系。在本公开的一种示例性实施例中，还包括：确定目标存储单元对应的第一地址信息与第一数据信息；根据所述目标存储单元的所述第一地址信息与所述第一数据信息确定所述目标存储单元对应的操作地址与操作数据。在本公开的一种示例性实施例中，还包括：确定所述待测存储器中每个存储单元对应的所述操作地址和所述操作数据。根据本公开的第五方面，提供一种存储器，包括如上第一方面所述的存储器地址测试电路。根据本公开的第六方面，提供一种存储器，包括如上第二方面所述的存储器地址测试电路。根据本公开的第七方面，提供一种电子设备，包括：如上第一方面或第二方面所述的存储器；以及耦合到所述存储器的处理器，所述处理器被配置为执行如上第三方面或第四方面所述的存储器地址测试方法。本公开实施例通过在存储器中设置与行地址锁存器和列地址锁存器并联的锁存器，并在输出读写控制信号(地址测试指令)后通过处理器读取该锁存器的读数，能够自动统计处理器逻辑地址与存储器物理地址之间的映射关系，进而自动确定逻辑操作与存储单元之间的对应关系，解决相关技术中难以确定软件系统的逻辑地址与存储单元的物理地址之间的映射关系的问题。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本公开实施例提供的一种存储器地址测试电路的逻辑框图。图2是本公开实施例中一种能够应用于图1所示电路的存储器地址测试方法的流程图。图3是本公开另一个实施例中存储器地址测试电路的逻辑框图。图4是本公开实施例中一种能够应用于图3所示电路的存储器地址测试方法的流程图。图5是本公开实施例提供的另一种存储器地址测试电路的逻辑框图。图6是本公开实施例中一种能够应用于图5所示电路的存储器地址测试方法的流程图。图7是本公开另一个实施例中存储器地址测试电路的逻辑框图。图8是本公开一个实施例中提供的存储器的示意图。图9是本公开一个实施例中提供的存储器的示意图。图10是本公开一个实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储器地址测试电路，其特征在于，设置在存储器中，包括：/n第一锁存器，输入端连接行地址锁存器的输入端，使能端连接行选通信号，输出端连接第一引脚组，所述第一引脚组用于连接处理器。/n

【技术特征摘要】
1.一种存储器地址测试电路，其特征在于，设置在存储器中，包括：
第一锁存器，输入端连接行地址锁存器的输入端，使能端连接行选通信号，输出端连接第一引脚组，所述第一引脚组用于连接处理器。


2.如权利要求2所述的存储器地址测试电路，其特征在于，还包括：
第二锁存器，输入端连接列地址锁存器的输入端，使能端连接列选通信号，输入端连接第二引脚组，所述第二引脚组用于连接处理器。


3.一种存储器地址测试电路，其特征在于，设置在存储器中，包括：
第三锁存器，输入端连接行译码器的输出端，使能端连接行选通信号，输出端连接第一引脚组，所述第一引脚组用于连接处理器。


4.如权利要求3所述的存储器地址测试电路，其特征在于，还包括：
第四锁存器，输入端连接列译码器的输出端，使能端连接列选通信号，输入端连接第二引脚组，所述第二引脚组用于连接处理器。


5.一种存储器地址测试方法，其特征在于，应用于存储器地址测试电路，所述存储器地址测试电路设置在待测存储器内，包括第一锁存器，所述第一锁存器的输入端连接所述待测存储器的行译码器的输入端，所述方法包括：
对待测存储器输入地址测试指令，所述地址测试指令用于对所述待测存储器的目标存储单元进行读或写操作，所述地址测试指令至少包括所述目标存储单元的逻辑地址的第一地址信息；
读取所述第一锁存器的输出端以得到第二地址信息；
根据所述第二地址信息以及所述待测存储器的行译码逻辑获取第三地址信息；
记录所述第一地址信息与所述第三地址信息的对应关系。


6.如权利要求5所述的存储器地址测试方法，其特征在于，所述存储器地址测试电路还包括第二锁存器，所述第二锁存器的输入端连接所述待测存储器的列译码器的输入端，在所述地址测试指令用于对所述目标存储单元进行写操作时，所述地址测试指令包括本次写入的第一数据信息，所述方法还包括：
读取所述第二锁存器的输出端以得到第二数据信息；
根据所述第二数据信息以及所述待测存储器的列译码逻辑获取第三数据信息；
记录所述第一数据信息与所述第三数据信息的对应关系。


7.如权利要求6所述的存储器地址测试方法，其特征在于，还包括：
确定目标存储单元对应的第一地址信息与第一数...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹洪坤，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34