平行测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种平行测试装置，包含输入/输出衬垫、多个输入缓冲器以及多个输出驱动器。输入/输出衬垫配置成执行平行测试装置中的输入/输出操作。输入缓冲器配置成启用写入数据。输出驱动器配置成启用读取数据且将读取数据输出到输入/输出衬垫。对应于来自外部装置的数据的测试信号在测试模式期间通过平行测试装置中的输入/输出衬垫传送到输出驱动器。

【技术实现步骤摘要】
平行测试装置
本专利技术涉及一种平行测试装置，且更确切地说，涉及用以在存储器装置中的测试模式期间激活未使用部件的存储器装置中的平行测试。
技术介绍
在DRAM存储器和NAND快闪存储器装置中，测试装置配置成验证存储器装置的特征和功能。为了测试大量存储器装置，需要使用通道分配测试来测试所有存储器装置。因此，采用充当自测装置的平行测试装置以确定存储器装置是否故障。然而，在测试期间，平行测试装置需要在数据压缩期间使用单个I/O线将相同数据写入到多个输入/输出(Input/Output；I/O)线中。由于使用单个I/O线，平行测试装置不可能确定存储器装置中的一或多个故障部件。在一些平行测试装置中，在平行测试装置中内部地采用测试控制器以使用单个I/O线来寻址写入到多个I/O线中的数据，但平行测试装置中的输出驱动器对数据有效窗口至关重要。由于数据设置/保持时间小于数据有效窗口，因此包含I/O缓冲器的未使用部件降低性能，即使存储器装置中只存在轻微故障。连同克服由于平行测试装置中的至关重要的数据有效窗口所致的存储器装置中的故障检测的需求，可能合乎需要的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种平行测试装置，包括：/n输入/输出衬垫，配置成执行所述平行测试装置中的输入/输出操作；/n多个输入缓冲器，配置成启用写入数据；以及/n多个输出驱动器，配置成启用读取数据且将所述读取数据输出到所述输入/输出衬垫；/n其中对应于来自外部装置的数据的测试信号在测试模式期间通过所述平行测试装置中的所述输入/输出衬垫传送到所述输出驱动器。/n

【技术特征摘要】
20191126 US 16/695,2031.一种平行测试装置，包括：
输入/输出衬垫，配置成执行所述平行测试装置中的输入/输出操作；
多个输入缓冲器，配置成启用写入数据；以及
多个输出驱动器，配置成启用读取数据且将所述读取数据输出到所述输入/输出衬垫；
其中对应于来自外部装置的数据的测试信号在测试模式期间通过所述平行测试装置中的所述输入/输出衬垫传送到所述输出驱动器。


2.根据权利要求1所述的平行测试装置，进一步包括：
压缩电路，配置成在数据压缩期间压缩来自所述平行测试装置的存储器单元阵列的数据以产生压缩数据。


3.根据权利要求2所述的平行测试装置，进一步包括：
输出缓冲器，配置成从所述压缩电路接收所述压缩数据。


4.根据权利要求2所述的平行测试装置，其中在所述数据压缩期间，相同数据通过写入数据寄存器写入到多个写入驱动器中。


5.根据权利要求2所述的平行测试装置，压缩电路进一步包括：
多个互斥NOR门；以及
AND门。


6.根据权利要求1所述的平行测试装置，其中对应于来自所述外部装置的所述数据的所述测试信号在所述测试模式期...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴灿石，
申请(专利权)人：华邦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71