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本公开提供一种存储器地址测试电路、方法、存储器与电子设备。存储器地址测试方法包括：对待测存储器输入地址测试指令，所述地址测试指令用于对所述待测存储器的目标存储单元进行读或写操作，所述地址测试指令至少包括所述目标存储单元的逻辑地址的第一地址信...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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