【技术实现步骤摘要】
一种X射线曝光装置
本专利技术涉及光学微细加工
,具体涉及一种X射线曝光装置。
技术介绍
光学微细加工,就是利用基本曝光手段,进行精细几何图形的产生、转印或修整,以完成各类电子器件的开发与工业生产的核心工业步骤。微机械图形尺寸的微细化,主要依赖于曝光技术的发展。因此,随着微机械设备的图形尺寸微细化及集成度的提高,套刻曝光技术的作用就越来越重要了。同步辐射X射线深度光刻是LIGA工艺的关键工序,同步辐射X射线的波长范围在0.15nm至0.95nm,与普通X射线相比具有较好的相干性、通亮高及高深宽比等优点,获得的图像能取得较佳的衬度,图像的实空间分辨率更高。对于X射线掩模版,要求用X射线容量大的材料作为吸收体,且要着重保护掩模版,而在现有的移动曝光过程中,为了避免X射线掩模版与PMMA的间距过近或产生菲涅尔衍射现象,因而调节间距尤为困难,会直接导致曝光后的分辨率,且会改变掩模版的温度,导致MASK膜变形,光刻胶图形精度下降。除此之外,基于LIGA工艺制造的X射线专用掩模版价格不菲,因而在X射线曝光装置中增加 ...
【技术保护点】
1.一种X射线曝光装置,其特征在于,包括套筒(1)和与套筒(1)连接的移动工作台(2),所述的套筒(1)内设置有掩模版(3)和光刻胶基板(4),套筒(1)上设有入光口(11),X射线通过入光口(11)进入套筒(1)内。/n
【技术特征摘要】
1.一种X射线曝光装置,其特征在于,包括套筒(1)和与套筒(1)连接的移动工作台(2),所述的套筒(1)内设置有掩模版(3)和光刻胶基板(4),套筒(1)上设有入光口(11),X射线通过入光口(11)进入套筒(1)内。
2.根据权利要求1所述的X射线曝光装置,其特征在于,所述的掩模版(3)和光刻胶基板(4)通过固定组件固定在套筒(1)内。
3.根据权利要求2所述的X射线曝光装置,其特征在于,所述的固定组件包括弹簧(5)、挡板(6)和垫片(7),在套筒(1)内依次设置有掩模版(3)、垫片(7)、光刻胶基板(4)、挡板(6)和弹簧(5),所述的弹簧(5)使挡板(6)紧贴光刻胶基板(4),进而将垫片(7)和掩模版(3)压紧固定在套筒(1)内。
4.根据权利要求1所述的X射线曝光装置,其特征在于,所述的掩模版(3)上设有透光区(31),在透光区(31)末端设置有图形区(32),所述的透光区(31)和入光口(11)位置相对应。
5.根据权利要求4所述的X射线曝光装置,其特征在于,所述的掩模版(3)以硅基板为掩模版主体(30),在掩模版主体(30)上开设四个透光区(31),相应...
【专利技术属性】
技术研发人员:李以贵,范若欣,赖丽燕,王欢,张成功,
申请(专利权)人:上海应用技术大学,
类型:发明
国别省市:上海;31
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