在非易失性存储器中存储插针校准数据、命令和其他数据的半导体测试系统技术方案

一种在非易失性存储器中存储插针校准数据、命令和其他数据的半导体测试系统，该系统接受来自多个供货商的插针卡，每个插针卡都包括一能存储特定校准数据的本地非易失性存储器。测试系统中的每个插针卡都能对被测元件执行不同类型的测试。插针卡上的非易失性存储器被用来存储插针卡校准数据，且与负载板和插座相关的校准数据也可被本地存储于每个插针卡的非易失性存储器中。与插针卡插槽相关的校准数据可被存储于测试系统底板上的非易失性存储器中并被用于校准插针卡的槽对槽偏斜。本地非易失性存储器还可被用于存储在模块、现场控制器和系统控制器中生成的或在其之间传送的命令、数据和错误信息，这样如果发生系统错误，将不必重新生成这些信息。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于测试例如IC等半导体元件的半导体测试系统，特别是涉及一种半导体测试系统，其中与影响每个插针单元测试精确度的各种参数相关的校准数据被存储在插针卡内的非易失性存储器中，并且与插针卡插槽相关的校准数据被存储在所述插针卡中或连接所述插针卡的底板中的非易失性存储器中，并且命令、数据或错误信息被存储在非易失性存储器中，从而在一旦发生诸如掉电等系统错误时将保留此信息。本申请主张2003年1月10日申请的、题为“在非易失性存储器中存储插针校准数据的半导体测试系统”的美国实用型中请案第10/340,349号的优先权，该申请案是2000年4月12日申请的、题为“在非易失性存储器中存储插针校准数据的基于事件的测试系统”的美国实用型申请案第09/547,752号的部分延续案(CIP)，并与以下申请案相关2003年11月26日申请的、题为“RF和混合信号/模拟测试用测试头模块”的美国临时中请案；2003年2月14日申请的、题为“开发半导体集成电路测试程序的方法与结构”的美国临时申请案第60/447,839号；和2003年2月24日申请的、题为“测试集成电路的方法和装置”的美国临时申本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在具有系统总线的通信系统中自系统错误有效恢复的方法，其特征在于该方法包括以下步骤：将待从发送装置发送或正由接收装置接收的命令或数据存储到所述发送或接收装置中的本地非易失性存储器中；以及在检测到系统错误时执行恢复序列，以便 在检测到系统错误时重新初始化所述系统总线而不需要重新生成或重新发送存储于本地非易失性存储器中的所述命令或数据。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】US 2003-1-10 10/340,3491.一种在具有系统总线的通信系统中自系统错误有效恢复的方法，其特征在于该方法包括以下步骤将待从发送装置发送或正由接收装置接收的命令或数据存储到所述发送或接收装置中的本地非易失性存储器中；以及在检测到系统错误时执行恢复序列，以便在检测到系统错误时重新初始化所述系统总线而不需要重新生成或重新发送存储于本地非易失性存储器中的所述命令或数据。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于该方法还包括以下步骤将在所述发送或接收装置中生成的错误信息存储到所述发送或接收装置的本地非易失性存储器中；和在检测到系统错误时执行所述恢复序列以便重新初始化所述系统总线而不需要首先从所述本地非易失性存储器中读出所述错误信息。3.一种在具有系统总线的通信系统中自系统错误有效恢复的方法，其特征在于该方法包括以下步骤将在发送装置或接收装置中生成的错误信息存储到所述发送或接收装置中的本地非易失性存储器中；和在检测到系统错误时执行恢复序列以便重新初始化所述系统总线而不需要首先自所述本地非易失性存储器中读出所述错误信息。4.一种具有系统总线并能够有效地自系统错误恢复的测试系统，其特征在于该系统包括一个第一本地非易失性存储器，其位于第一测试装置中，存储即将被发送或接收的命令或数据；和一个处理器，其被编程以在检测到系统错误时执行恢复序列，从而在发生系统错误时重新初始化所述系统总线而不需要重新生成或重新发送存储于所述第一本地非易失性存储器中的命令或数据。5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于其中所述的第一本地非易失性存储器还被用来存储在所述第一测试装置中生成的错误信息；和所述处理器还经编程以在检测到系统错误时执行所述恢复序列，从而重新初始化所述系统总线而不需要首先从所述第一本地非易失性存储器中读出所述错误信息。6.一种具有系统总线并能够有效地自系统错误恢复的测试系统，其特征在于该系统包括一个第一本地非易失性存储器，其位于第一测试装置中，存储在所...

【专利技术属性】
技术研发人员：若企特雷吉苏曼，罗伯萨乌尔，裕明矢元，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]