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一种在非易失性存储器中存储插针校准数据、命令和其他数据的半导体测试系统，该系统接受来自多个供货商的插针卡，每个插针卡都包括一能存储特定校准数据的本地非易失性存储器。测试系统中的每个插针卡都能对被测元件执行不同类型的测试。插针卡上的非易失性存...
该专利属于爱德万测试株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过爱德万测试株式会社授权不得商用。

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