【技术实现步骤摘要】
一种晶圆裸眼检视装置
本技术涉及半导体检视设备
,是用于一种晶圆裸眼检视装置。
技术介绍
晶圆是生产集成电路的载体,各种不同的电路原件结构形成有特定电性功能的半导体产品。在半导体测试之前,需要进行外观检验,以确保晶圆上半导体产品的可用性。无尘室环境检测下,照明灯的光线照射晶圆会产生反光现象,从而在晶圆表面形成光斑,从而使检验人员不易发现晶圆表面的异常(刮伤,脏污,破损等),无尘室中的微粒会掉落至晶圆表面,影响测试结果。
技术实现思路
本技术的目的在于,提供一种晶圆裸眼检视装置,解决现有晶圆检视方法存在的问题。一种晶圆裸眼检视装置,包括暗室和设置在暗室内的晶圆承载移动装置,所述暗室一侧上开有观察窗,所述暗室内顶端上设有一冷白色LED光源和多个防静电离子风扇,所述晶圆承载移动装置内设有放置晶圆的凹槽。在本技术的一个实施例中,所述暗室由前挡板、后挡板、两个侧挡板和顶盖组成,所述观察窗设置在其中一个侧挡板上,所述冷白色LED光源和多个防静电离子风扇均设置在顶盖上。在本技术的一个实 ...
【技术保护点】
1.一种晶圆裸眼检视装置,其特征在于,包括暗室和设置在暗室内的晶圆承载移动装置(6),所述暗室一侧上开有观察窗,所述暗室内顶端上设有一冷白色LED光源(2)和多个防静电离子风扇(3),所述晶圆承载移动装置(6)内设有放置晶圆的凹槽。/n
【技术特征摘要】
1.一种晶圆裸眼检视装置,其特征在于,包括暗室和设置在暗室内的晶圆承载移动装置(6),所述暗室一侧上开有观察窗,所述暗室内顶端上设有一冷白色LED光源(2)和多个防静电离子风扇(3),所述晶圆承载移动装置(6)内设有放置晶圆的凹槽。
2.根据权利要求1所述晶圆裸眼检视装置,其特征在于,所述暗室由前挡板(9)、后挡板(10)、两个侧挡板(4)和顶盖(1)组成,所述观察窗设置在其中一个侧挡板(4)上,所述冷白色LED光源(2)和多个防静电离子风扇(3)均设置在顶盖上。
3.根据权利要求2所述晶圆裸眼检视装置,其特征在于,所述前挡板(9)、后挡板(10)、两个侧...
【专利技术属性】
技术研发人员:苏广峰,周友,
申请(专利权)人:安测半导体技术江苏有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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