角度测量方法、反射镜系统及激光雷达技术方案

技术编号:28294074 阅读:28 留言:0更新日期:2021-04-30 16:16
本公开提供了一种角度测量方法,适于对微动镜进行角度测量,所述方法包括:通过光源,向所述微动镜发射光束;通过光敏元件,测量从所述微动镜反射回来的所述反射光束,产生第一输出;关闭所述光源,测量所述光敏元件的第二输出;利用所述第二输出校正所述第一输出,计算所述微动镜的角度。本公开还提供一种反射镜系统以及包括所述反射镜系统的激光雷达。

【技术实现步骤摘要】
角度测量方法、反射镜系统及激光雷达
本公开涉及光电
,尤其涉及一种可适于对微动镜进行角度测量的角度测量方法、一种反射镜系统以及一种激光雷达。
技术介绍
在激光雷达中,经常需要使用可以微动的反射镜系统来对光束进行反射,以实现对一定视场范围内的物体进行探测。为了实现对光束的精确控制,换言之,为了实现对物体的精确探测,就需要实时地精确测量反射镜的微动角度。但在现有的反射镜角度测量方法中,经常会受到光电器件暗电流和/或环境光的影响,进而造成角度测量结果存在较大误差。因此,如何提高角度测量的精确度,减小环境变化(比如高温、环境强光等)对测角精度的影响,是本领域中持续存在的改进需求。
技术介绍
部分的内容仅仅是专利技术人所知晓的技术,并不当然代表本领域的现有技术。
技术实现思路
有鉴于现有技术中的至少一个缺陷,本公开提供一种角度测量方法,适于对微动镜进行角度测量,所述方法包括:通过光源,向所述微动镜发射光束;通过光敏元件,测量从所述微动镜反射回来的所述反射光束,产生第一输出;关闭所述光源本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种角度测量方法,适于对微动镜进行角度测量,所述方法包括:/n通过光源,向所述微动镜发射光束;/n通过光敏元件,测量从所述微动镜反射回来的所述反射光束,产生第一输出;/n关闭所述光源,测量所述光敏元件的第二输出;/n利用所述第二输出校正所述第一输出,计算所述微动镜的角度。/n

【技术特征摘要】
1.一种角度测量方法,适于对微动镜进行角度测量,所述方法包括:
通过光源,向所述微动镜发射光束;
通过光敏元件,测量从所述微动镜反射回来的所述反射光束,产生第一输出;
关闭所述光源,测量所述光敏元件的第二输出;
利用所述第二输出校正所述第一输出,计算所述微动镜的角度。


2.根据权利要求1所述的角度测量方法,其中所述光源为激光器,所述光敏元件为PSD位置传感器,所述微动镜为振镜,所述第一输出和第二输出为电流值或电压值,
其中所述利用第二输出校正第一输出计算微动镜的角度包括:将第二输出从第一输出中减去,作为修正的第一输出,利用所述修正的第一输出,计算所述微动镜的角度。


3.根据权利要求1或2所述的角度测量方法,其中所述微动镜在一预设范围内来回摆动,所述关闭光源的步骤包括:在所述微动镜回摆时刻关闭所述光源。


4.根据权利要求3所述的角度测量方法,其中所述关闭光源、测量光敏元件的第二输出的步骤包括:多次关闭所述光源,测量所述光敏元件的多次输出、并计算平均值作为所述第二输出。


5.根据权利要求3所述的角度测量方法,还包括:测量所述微动镜和/或光敏元件的温度,其中所述光源关闭的时长取决于所述温度。


6.根据权利要求5所述的角度测量方法,其中所述温度越高,所述光源关闭的时长越长;
其中当所述温度高于预设值时,所述光源关闭的时长为第一时长;当所述温度低于预设值时,所述光源关闭的时长为第二时长,其中所述第一时长大于第二时长。


7.根据权利要求1或2所述的角度测量方法,其中所述关闭光源、测量光敏元件的第二输出的步骤包括:关闭所述光源后,经一延迟时间,测量所述光敏元件的第二输出。


8.根据权利要求1所述的角度测量方法,其中所述光敏元件为光电二极管或PIN型二极管,所述微动镜为激光雷达的振镜或摆镜。


9.一种反射镜系统,包括:
微动镜;
光源,所述光源可开启或关闭,开启时,所述光源可向所述微动镜发射光束,所述光束被所述微动镜反射产生反射光束;
光敏元件,所述光敏元件可从所述微动镜接收所述反射光束并产生第一输出,并在所述光源关闭的情况下产生第二输出;
角度计算单元,所述角度计算单元配置成可利用所述第二输出校正所述第一输出,计算所述微动镜的角度。


10.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:毛胜平向少卿
申请(专利权)人:上海禾赛科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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