通用集成电路老化板制造技术

本实用新型专利技术涉及一种通用集成电路老化板，包括：老化测试座、电源模块、老化控制模块、配置芯片模块、信号接口模块、状态指示模块和老化转接小板；电源模块、老化控制模块、配置芯片模块、信号接口模块、状态指示模块和老化转接小板均与老化测试座相连；老化测试座用于放置待老化器件，电源模块用于为集成电路老化板提供工作电压，配置芯片模块用于为待老化器件提供配置程序，老化控制模块用于发送老化控制信号和监控待老化器件的输出信号，信号接口模块用于传输集成电路老化板的信号至待老化器件，老化转接小板用于适配待老化器件的型号，节约了老化板的设计时间和成本，有效地提高了对集成电路板的老化效率。成电路板的老化效率。成电路板的老化效率。

【技术实现步骤摘要】
通用集成电路老化板


[0001]本技术涉及老化
，具体涉及一种通用集成电路老化板。

技术介绍

[0002]在现代电子行业中，FPGA凭借设计灵活等优点，应用领域越来越多，为了提高设计的可靠性，对FPGA进行二次筛选，进行可靠性测试就迫在眉睫。因为大部分FPGA是基于RAM结构的，即配置程序掉电消失，所以FPGA正常工作中需要外接存储程序的flash，且FPGA的供电系统一般比较复杂，所以设计FPGA的老化板需要的外围电路较多。
[0003]目前，大部分的FPGA老化板需要设计专用板，但是面对型号繁多的FPGA，设计许多的老化板，设计周期较长，浪费制作成本和时间。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种通用集成电路老化板，以节约对集成电路板的老化时间和成本。
[0005]为实现以上目的，本技术采用如下技术方案：
[0006]一种通用集成电路老化板，包括：老化测试座、电源模块、老化控制模块、配置芯片模块、信号接口模块、状态指示模块和老化转接小板；
[0007]所述电源模块、所述老化控制模块、所述配置芯片模块、所述信号接口模块、所述状态指示模块和所述老化转接小板均与所述老化测试座相连；
[0008]所述老化控制模块还通过所述配置芯片模块与所述老化转接小板连接，所述老化转接小板还与所述信号接口模块相连，所述信号接口模块还与所述电源模块相连；
[0009]所述老化测试座用于放置待老化器件，所述电源模块用于为集成电路老化板提供工作电压，所述配置芯片模块用于为所述待老化器件提供配置程序，所述老化控制模块用于发送老化控制信号和监控所述待老化器件的输出信号，所述信号接口模块用于传输所述集成电路老化板的信号至所述待老化器件，所述老化转接小板用于适配所述待老化器件的型号。
[0010]可选的，上述所述电源模块包括第一电源单元、第二电源单元、第三电源单元、第四电源单元和第五电源单元；
[0011]所述第一电源单元用于提供1.2V输入电压，所述第二电源单元用于提供1.5V输入电压，所述第三电源单元用于提供1.8V输入电压，所述第四电源单元用于提供2.5V输入电压，所述第五电源单元用于提供3.3V输入电压；
[0012]所述1.2V输入电压、所述1.5V输入电压、所述1.8V输入电压、所述2.5V输入电压和所述3.3V输入电压用于输入至所述信号接口模块中。
[0013]可选的，上述所述老化控制模块包括复杂可编程逻辑器件；
[0014]所述复杂可编程逻辑器件的IO接口分别与所述配置芯片模块和所述信号接口模块相连，所述复杂可编程逻辑器件的输入管脚还与所述信号接口模块相连。
[0015]可选的，上述所述配置芯片模块包括第一配置芯片单元、第二配置芯片单元和第三配置芯片单元；
[0016]所述第一配置芯片单元、所述第二配置芯片单元和所述第三配置芯片单元均与所述老化控制模块相连；
[0017]所述第一配置芯片单元、所述第二配置芯片单元和所述第三配置芯片单元分别用于为不同型号的待老化器件提供配置程序。
[0018]可选的，上述所述的通用集成电路老化板，还包括下载接口模块；
[0019]所述下载接口模块分别与所述老化测试座和所述配置芯片模块相连；
[0020]所述下载接口模块用于为所述戴老花器件和所述配置芯片模块下载调试程序。
[0021]可选的，上述所述下载接口模块包括第一下载单元、第二下载单元、第三下载单元和第四下载单元；
[0022]所述第一下载单元、所述第二下载单元、所述第三下载单元和所述第四下载单元分别与所述老化测试座和所述配置芯片模块相连；
[0023]所述第一下载单元、所述第二下载单元、所述第三下载单元和所述第四下载单元用于为不同型号的配置芯片下载调试程序。
[0024]可选的，上述所述的通用集成电路老化板，还包括老化板接口电路；
[0025]所述集成电路老化板通过所述老化板接口电路与老化台相连；
[0026]所述老化台通过所述老化板接口电路提供电源信号和控制信号。
[0027]可选的，上述所述状态指示模块包括限流电阻和LED灯；
[0028]所述LED灯的阳极与所述信号接口模块相连，所述LED灯的阴极通过所述限流电阻接地；
[0029]所述LED灯用于指示所述待老化器件的工作状态。
[0030]可选的，上述所述老化转接小板至少包括FPGA专用小板、CPLD专用小板、MCU专用小板和DSP专用小板，以分别实现对FPGA、CPLD、MCU和DSP的老化测试。
[0031]可选的，上述所述复杂可编程逻辑器件的型号为EPM570T100I5N。
[0032]本申请的有益效果为：
[0033]本申请提供的一种通用集成电路老化板，包括：老化测试座、电源模块、老化控制模块、配置芯片模块、信号接口模块、状态指示模块和老化转接小板；电源模块、老化控制模块、配置芯片模块、信号接口模块、状态指示模块和老化转接小板均与老化测试座相连；老化控制模块还通过配置芯片模块与老化转接小板连接，老化转接小板还与信号接口模块相连，信号接口模块还与电源模块相连；老化测试座用于放置待老化器件，电源模块用于为集成电路老化板提供工作电压，配置芯片模块用于为待老化器件提供配置程序，老化控制模块用于发送老化控制信号和监控待老化器件的输出信号，信号接口模块用于传输集成电路老化板的信号至待老化器件，老化转接小板用于适配待老化器件的型号。在一个集成电路板上设计了所有的集成电路板老化的所需资源，通过设计专用的老化转接小板即可快速的完成老化板的设计，节约了老化板的设计时间和成本，有效地提高了对集成电路老化测试的效率。
附图说明
[0034]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0035]图1是本技术实施例提供的通用集成电路老化板的整体的一种结构示意图；
[0036]图2是图1中的老化测试座的一种电路原理图；
[0037]图3是图1中的电源模块的一种电路原理图；
[0038]图4是图1中的老化控制模块的一种电路原理图；
[0039]图5是图1中的配置芯片模块的第一配置芯片单元的电路原理图；
[0040]图6是图1中的配置芯片模块的第二配置芯片单元的电路原理图；
[0041]图7是图1中的配置芯片模块的第三配置芯片单元的电路原理图；
[0042]图8是图1中的信号接口模块的第一部分的电路原理图；
[0043]图9是图1中的信号接口模块的第二部分的电路原理图；
[0044]图10是图1中的信号接口模块的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通用集成电路老化板，其特征在于，包括：老化测试座、电源模块、老化控制模块、配置芯片模块、信号接口模块、状态指示模块和老化转接小板；所述电源模块、所述老化控制模块、所述配置芯片模块、所述信号接口模块、所述状态指示模块和所述老化转接小板均与所述老化测试座相连；所述老化控制模块还通过所述配置芯片模块与所述老化转接小板连接，所述老化转接小板还与所述信号接口模块相连，所述信号接口模块还与所述电源模块相连；所述老化测试座用于放置待老化器件，所述电源模块用于为集成电路老化板提供工作电压，所述配置芯片模块用于为所述待老化器件提供配置程序，所述老化控制模块用于发送老化控制信号和监控所述待老化器件的输出信号，所述信号接口模块用于传输所述集成电路老化板的信号至所述待老化器件，所述老化转接小板用于适配所述待老化器件的型号。2.根据权利要求1所述的通用集成电路老化板，其特征在于，所述电源模块包括第一电源单元、第二电源单元、第三电源单元、第四电源单元和第五电源单元；所述第一电源单元用于提供1.2V输入电压，所述第二电源单元用于提供1.5V输入电压，所述第三电源单元用于提供1.8V输入电压，所述第四电源单元用于提供2.5V输入电压，所述第五电源单元用于提供3.3V输入电压；所述1.2V输入电压、所述1.5V输入电压、所述1.8V输入电压、所述2.5V输入电压和所述3.3V输入电压用于输入至所述信号接口模块中。3.根据权利要求1所述的通用集成电路老化板，其特征在于，所述老化控制模块包括复杂可编程逻辑器件；所述复杂可编程逻辑器件的IO接口分别与所述配置芯片模块和所述信号接口模块相连，所述复杂可编程逻辑器件的输入管脚还与所述信号接口模块相连。4.根据权利要求1所述的通用集成电路老化板，其特征在于，所述配置芯片模块包括第一配置芯片单元、第二配置芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：霍风祥，王臣，兰金国，魏新，
申请(专利权)人：北京京瀚禹电子工程技术有限公司，
类型：新型
国别省市：