一种集成电路自动测试机温控系统架构技术方案

本实用新型专利技术公开了一种集成电路自动测试机温控系统架构，包括芯片温度监控系统、环境温度监控系统和断电模块；芯片温度监控系统用于监控测试板上所有芯片的温度；环境温度监控系统包括安装在各测试板上的用于监控测试板温度的环境温度传感器和位于各插槽接口板上的反馈单元，测试板I上的环境温度传感器和与测试板I对应的插槽接口板上的反馈单元电信号连接，各插槽接口板上的反馈单元彼此相连；断电模块用于断开集成电路自动测试机的供电，断电模块与各反馈单元电信号连接。本实用新型专利技术，整体结构简单，成本低廉，能够显著提高自动测试机的安全性，极具应用前景。极具应用前景。极具应用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路自动测试机温控系统架构


[0001]本技术属于集成电路自动测试机
，涉及一种集成电路自动测试机温控系统架构。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件，由于集成电路是将所需的各种元件和布线互连封装在一个极小的空间内，因此对空间内温度就提出了相当严格的要求。当集成电路设备类出现温度过高的情况时，极易发生故障。特别是在进行集成电路测试时更是如此，为对集成电路进行充分测试，测试机往往将使得集成电路处于较高负荷状态下，此时集成电路发热严重，一旦集成电路过热，不仅会造成测试的集成电路损毁，还可能损伤集成电路自动测试机。
[0003]因此，开发一种能够有效监控温度的集成电路自动测试机温控系统架构极具现实意义。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于克服现有技术存在较大安全隐患的缺陷，提供一种能够有效监控温度的集成电路自动测试机温控系统架构，采用该架构能够保证集成电路自动测试机在进行集成电路测试时的运行安全。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]一种集成电路自动测试机温控系统架构，包括芯片温度监控系统、环境温度监控系统和断电模块；
[0007]所述芯片温度监控系统用于监控测试板上所有芯片(测试板为集成电路自动测试机上的功能模块，即对功能模块所有芯片进行温度监控)的温度；
[0008]所述环境温度监控系统包括安装在各测试板上的用于监控测试板温度的环境温度传感器和位于各插槽接口板上的反馈单元，测试板I上的环境温度传感器和与测试板I对应的插槽接口板上的反馈单元电信号连接，各插槽接口板上的反馈单元彼此相连；
[0009]所述断电模块用于断开集成电路自动测试机的供电，断电模块与各反馈单元电信号连接，当断电模块接收到环境温度传感器收集到的测试板温度超限，断电模块启动，断开集成电路自动测试机的供电。
[0010]在本技术中，芯片温度监控系统(设备开关单元)及环境温度监控系统(断电模块)是两个独立运作的系统，芯片温度监控系统检测到芯片温度超限，设备开关单元启动，设备停转；环境温度监控系统检测到环境温度超限，断电模块启动，设备断电。彼此独立的控制逻辑一定程度上为设备安全提供了双保险，当然本领域技术人员也可增设一个中央控制器以关联这两个系统，从而实现如只有在设备停转时，断电模块才可启动进行设备断电此类控制条件。
[0011]本技术的集成电路自动测试机温控系统架构，相比于现有技术(芯片温度监
控
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设备停转)，增加了环境温度监控系统和断电模块，通过环境温度监控系统获取测试板的温度，如环境温度超限则启动断电模块，以保证在过热严重时及时断电，一方面进一步减少设备的发热(设备停转时为设备通电仍会发出少量热量)，另一方面可以辅助芯片温度监控系统，提高容错率，保证设备安全运行，避免设备损坏，极具应用前景。
[0012]作为优选的技术方案：
[0013]如上所述的一种集成电路自动测试机温控系统架构，所述断电模块包括相连的电源控制板和电源分配单元(PDU)；
[0014]所述电源控制板与各反馈单元电信号连接，其接收并处理反馈单元中继传输过来的环境温度传感器的信号，得到控制方案，向电源分配单元发送控制信号，电源分配单元关闭集成电路自动测试机的电源或不动作。
[0015]如上所述的一种集成电路自动测试机温控系统架构，所述芯片温度监控系统包括安装在测试板的芯片上的芯片温度传感器。
[0016]如上所述的一种集成电路自动测试机温控系统架构，还包括外部监视系统；
[0017]所述外部监视系统包括处理单元及设备开关单元；
[0018]所述设备开关单元用于运转或停转集成电路自动测试机；
[0019]所述处理单元与芯片温度传感器电信号连接，其接收并处理芯片温度传感器发出的信号，得到控制方案并向设备开关单元发送控制信号，设备开关单元控制集成电路自动测试机运转或停转。
[0020]如上所述的一种集成电路自动测试机温控系统架构，所述外部监视系统还包括用于显示芯片温度信息的显示单元，操作人员通过显示单元可以直观地看到各芯片的温度，进而根据芯片温度选择测试内容；
[0021]所述显示单元与处理单元电信号连接。
[0022]有益效果：
[0023](1)本技术的集成电路自动测试机温控系统架构，相比于现有技术(芯片温度监控
→
设备停转)，增加了环境温度监控系统和断电模块，通过环境温度监控系统获取测试板的温度，如环境温度超限则启动断电模块，以保证在过热严重时及时断电，进一步减少设备的发热(设备停转时为设备通电仍会发出少量热量)；
[0024](2)本技术的集成电路自动测试机温控系统架构，可以辅助芯片温度监控系统，提高容错率，保证设备安全运行，避免设备损坏；
[0025](3)本技术的集成电路自动测试机温控系统架构，整体结构简单，成本低廉，安全性好，极具应用前景。
附图说明
[0026]图1为本技术的集成电路自动测试机温控系统架构的结构示意图。
具体实施方式
[0027]下面结合附图，对本技术的具体实施方式做进一步阐述。
[0028]一种集成电路自动测试机温控系统架构，如图1所示，包括芯片温度监控系统、外部监视系统、环境温度监控系统和断电模块；
[0029]芯片温度监控系统用于监控测试板上所有芯片的温度，其包括安装在测试板的芯片上的芯片温度传感器；
[0030]外部监视系统包括处理单元、设备开关单元及用于显示芯片温度信息的显示单元，设备开关单元用于运转或停转集成电路自动测试机；
[0031]处理单元分别与芯片温度传感器、显示单元电信号连接，其接收并处理芯片温度传感器发出的信号，得到控制方案并向设备开关单元发送控制信号，设备开关单元控制集成电路自动测试机运转或停转，同时向显示单元发送信号，显示单元显示芯片温度信息；
[0032]环境温度监控系统包括安装在各测试板上的用于监控测试板温度的环境温度传感器和位于各插槽接口板上的反馈单元，测试板I上的环境温度传感器和与测试板I对应的插槽接口板上的反馈单元电信号连接，各插槽接口板上的反馈单元彼此相连；
[0033]断电模块用于断开集成电路自动测试机的供电，其包括相连的电源控制板和电源分配单元，电源控制板与各反馈单元电信号连接，其接收并处理反馈单元中继传输过来的环境温度传感器的信号，得到控制方案，向电源分配单元发送控制信号，电源分配单元关闭集成电路自动测试机的电源或不动作(测试板温度超限，断电模块启动，断开集成电路自动测试机的供电)。
[0034]经验证，本技术的集成电路自动测试机温控系统架构，相比于现有技术(芯片温度监控
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设备停转)，增加了环境温度监控系统和断电模块，通过环境温度监控系统获取测试板的温度，如环境温度超限则启动断电模块，以保证在过本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路自动测试机温控系统架构，其特征在于，包括芯片温度监控系统、环境温度监控系统和断电模块；所述芯片温度监控系统用于监控测试板上所有芯片的温度；所述环境温度监控系统包括安装在各测试板上的用于监控测试板温度的环境温度传感器和位于各插槽接口板上的反馈单元，测试板I上的环境温度传感器和与测试板I对应的插槽接口板上的反馈单元电信号连接，各插槽接口板上的反馈单元彼此相连；所述断电模块用于断开集成电路自动测试机的供电，断电模块与各反馈单元电信号连接，当断电模块接收到环境温度传感器收集到的测试板温度超限，断电模块启动，断开集成电路自动测试机的供电。2.根据权利要求1所述的一种集成电路自动测试机温控系统架构，其特征在于，所述断电模块包括相连的电源控制板和电源分配单元；所述电源控制板与各反馈单元电信号连接，其接收并处理反馈单元中继传输过来的环境温度传感器的...

【专利技术属性】
技术研发人员：张经祥，魏津，徐润生，
申请(专利权)人：胜达克半导体科技上海有限公司，
类型：新型
国别省市：