雷达校验方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种雷达校验方法、装置、设备及计算机可读存储介质，所述雷达校验方法包括：获取待校验雷达采集的数据样本，其中，所述数据样本为所述待校验雷达对周围的圆形挡板进行采集得到的数据；对所述数据样本进行圆拟合，得到待校验数据；根据所述待校验数据校验所述待校验雷达是否合格。本发明专利技术无需复杂的检验流程，也无需特定的检验设备，从而提高雷达校验的便捷性。同时，对数据样本进行圆拟合，以使待校验数据更加准确，从而提高雷达校验的准确性。确性。确性。

【技术实现步骤摘要】
雷达校验方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及雷达
，尤其涉及一种雷达校验方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着传感器技术的迅速发展，测距雷达的应用范围越来越广泛，例如，在机器人上部署测距雷达以实现定位及建图功能。其中，属于测距雷达的激光雷达由于具备结构简单及成本低等优点，被广泛应用于移动机器人、智能工厂及智能驾驶等领域。
[0003]目前，测距雷达在安装到设备上之前需要对测距雷达进行校验，即对测距雷达的测距值进行校验，以保证测距雷达为合格品时再进行安装。然而，当前对测距雷达的校验流程十分复杂。此外，测距雷达通常由雷达生产厂商进行校验，雷达使用者或购买者无法进行校验，然而，在雷达生产厂商交货给机器人等设备厂商的过程中可能会受到外界因素的影响，导致雷达的结构参数发生变化，使得雷达测距不准确。因此，为了保证测距雷达可以正常使用，如何提高雷达校验的便捷性是目前亟需解决的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提供一种雷达校验方法、装置、设备及计算机可读存储介质，旨在提高雷达校验的便捷性。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供一种雷达校验方法，所述雷达校验方法包括：
[0006]获取待校验雷达采集的数据样本，其中，所述数据样本为所述待校验雷达对周围的圆形挡板进行采集得到的数据；
[0007]对所述数据样本进行圆拟合，得到待校验数据；
[0008]根据所述待校验数据校验所述待校验雷达是否合格。/>[0009]可选地，所述数据样本为二维坐标数据；
[0010]所述对所述数据样本进行圆拟合，得到待校验数据，包括：
[0011]计算所述数据样本的平均值，并确定所述数据样本的样本数；
[0012]基于预设拟合函数、所述平均值、所述样本数，对所述数据样本进行圆拟合得到拟合圆的圆心坐标及半径，并根据所述拟合圆的圆心坐标及所述拟合圆的半径得到拟合圆函数；
[0013]基于所述拟合圆函数，对所述数据样本进行筛选处理得到全角度的待校验数据。
[0014]可选地，所述根据所述待校验数据校验所述待校验雷达是否合格，包括：
[0015]基于所述待校验数据及平均误差函数，计算得到所述待检验雷达的平均误差值；
[0016]若所述平均误差值小于预设误差阈值，则所述待检验雷达合格；
[0017]若所述平均误差值大于或等于预设误差阈值，则所述待检验雷达不合格。
[0018]可选地，所述基于所述待校验数据及平均误差函数，计算得到所述待检验雷达的平均误差值之前，还包括：
[0019]获取所述圆形挡板的圆心坐标及半径；
[0020]基于所述圆形挡板的圆心坐标、所述圆形挡板的半径及圆方程，得到平均误差函数。
[0021]可选地，所述待校验雷达放置于所述圆形挡板的圆心位置，所述圆形挡板的半径小于或等于所述待校验雷达的最大扫描距离。
[0022]可选地，所述雷达校验方法还包括：
[0023]若所述待检验雷达的平均误差值小于预设标定阈值，则根据所述平均误差值及所述圆形挡板的半径确定标定参数；
[0024]通过所述标定参数对所述待检验雷达进行标定，以实现对所述待检验雷达的测距值进行标定。
[0025]可选地，所述所述若所述待检验雷达的平均误差值小于预设标定阈值，则根据所述平均误差值及所述圆形挡板的半径确定标定参数之后，还包括：
[0026]基于平均误差函数，构建优化误差函数，其中，所述优化误差函数用于对所述标定参数进行优化；
[0027]将所述标定参数作为所述优化误差函数的优化初值，并对所述优化误差函数进行优化，得到优化后的标定参数。
[0028]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种雷达校验装置，所述雷达校验装置包括：
[0029]数据获取模块，用于获取待校验雷达采集的数据样本，其中，所述数据样本为所述待校验雷达对周围的圆形挡板进行采集得到的数据；
[0030]数据拟合模块，用于对所述数据样本进行圆拟合，得到待校验数据；
[0031]雷达校验模块，用于根据所述待校验数据校验所述待校验雷达是否合格。
[0032]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种雷达校验设备，所述雷达校验设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的雷达校验程序，所述雷达校验程序被所述处理器执行时实现如上所述的雷达校验方法的步骤。
[0033]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有雷达校验程序，所述雷达校验程序被处理器执行时实现如上所述的雷达校验方法的步骤。
[0034]本专利技术提供一种雷达校验方法、装置、设备及计算机可读存储介质，该方法通过获取待校验雷达采集的数据样本，并对数据样本进行圆拟合后，根据圆拟合后的待校验数据校验待校验雷达是否合格，完成对雷达的校验，无需复杂的检验流程，也无需特定的检验设备，从而提高雷达校验的便捷性。同时，对数据样本进行圆拟合，以使待校验数据更加准确，从而提高雷达校验的准确性。
附图说明
[0035]图1为本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图；
[0036]图2为本专利技术雷达校验方法第一实施例的流程示意图；
[0037]图3为本专利技术实施例涉及的一种圆形挡板位置示意图；
[0038]图4为本专利技术雷达校验方法第二实施例的流程示意图；
[0039]图5为本专利技术雷达校验装置第一实施例的功能模块示意图。
[0040]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0041]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0042]参照图1，图1为本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图。
[0043]本专利技术实施例终端为雷达校验设备，该雷达校验设备可以为自动化设备、雷达、PC(personal computer，个人计算机)、微型计算机、笔记本电脑、服务器等具有处理功能的终端设备。
[0044]如图1所示，该终端可以包括：处理器1001，例如CPU(Central ProcessingUnit，中央处理器)，通信总线1002，用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口 1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI
‑
FI接口)。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non
‑
volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种雷达校验方法，其特征在于，所述雷达校验方法包括：获取待校验雷达采集的数据样本，其中，所述数据样本为所述待校验雷达对周围的圆形挡板进行采集得到的数据；对所述数据样本进行圆拟合，得到待校验数据；根据所述待校验数据校验所述待校验雷达是否合格。2.如权利要求1所述的雷达校验方法，其特征在于，所述数据样本为二维坐标数据；所述对所述数据样本进行圆拟合，得到待校验数据，包括：计算所述数据样本的平均值，并确定所述数据样本的样本数；基于预设拟合函数、所述平均值、所述样本数，对所述数据样本进行圆拟合得到拟合圆的圆心坐标及半径，并根据所述拟合圆的圆心坐标及所述拟合圆的半径得到拟合圆函数；基于所述拟合圆函数，对所述数据样本进行筛选处理得到全角度的待校验数据。3.如权利要求1所述的雷达校验方法，其特征在于，所述根据所述待校验数据校验所述待校验雷达是否合格，包括：基于所述待校验数据及平均误差函数，计算得到所述待检验雷达的平均误差值；若所述平均误差值小于预设误差阈值，则所述待检验雷达合格；若所述平均误差值大于或等于预设误差阈值，则所述待检验雷达不合格。4.如权利要求3所述的雷达校验方法，其特征在于，所述基于所述待校验数据及平均误差函数，计算得到所述待检验雷达的平均误差值之前，还包括：获取所述圆形挡板的圆心坐标及半径；基于所述圆形挡板的圆心坐标、所述圆形挡板的半径及圆方程，得到平均误差函数。5.如权利要求1所述的雷达校验方法，其特征在于，所述待校验雷达放置于所述圆形挡板的圆心位置，所述圆形挡板的半径小于或等于所述待校验雷达的最大扫描...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏舸，李超，
申请(专利权)人：深圳优地科技有限公司，
类型：发明
国别省市：