位置探测装置和使用该装置的时计指针位置探测装置制造方法及图纸

提供一种能够提高可运动体的位置探测确定度的位置探测装置，一种能提高指针的位置探测确定度的时计指针位置探测装置，以及具有这种指针位置探测装置的电子时计。电子时计指针位置探测装置包括，由包括导电碳纳米管的导电部分和包括非导电碳纳米管的非导电部分整体成型构成的可运动体，和用来探测可运动体的所述导电部分和非导电部分的哪一个是在探测区域的探针。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及位置探测装置，更具体而言，涉及适宜在时计或类似件的指针位置探测装置中使用的位置探测装置。
技术介绍
在各种模拟型(指针类型)时计内，很少需要将指针设定或定位到一参考位置，就是说，零位置或初始位置。例如，其相应的是当在开始计算时间之前强制地将秒表指针设置到零位，或者在通过探测包括时间信息的无线电波来调整时间的无线电波型时计的情况下，时计的指针位置通常被设置在基于无线电波的时间信息的基础上的时间信息的位置(例如12点0分0秒等)处。为了设置这类指针位置，按照这类时计，通常提供一用来快速强力进给指针的快速进给机构，和能够探测指针达到一特定旋转位置(例如零位置)的指针部分探测装置。更具体而言，按照这类传统时计，典型地是，例如，构建成这样的结构，其中由金属制成的片簧固定到秒轮上，该秒轮固定在附着有秒针的秒齿轴上，而片簧的延伸端部和电路板的表面形成压力接触，并且当片簧沿秒针旋转时且秒轮与形成在电路板表面上的垫或接触部分接触时，探测到该秒针到达初始位置。但是，按照这类传统指针位置探测机构，通常直径大约为3mm且厚度大约为0.2mm的齿轮(例如，秒轮)固定在片簧上，该片簧和齿轮分别形成，因此，在片簧和齿轮之间会引起自然的联系，片簧和齿轮之间的相对位置彼此错移，片簧和(例如)秒针之间的相对位置就会彼此错移，这样秒针的探测位置的确定性就遭到破坏。同时已经发现，碳纳米管的导电性会根据其直径或手性角(螺旋角)而改变，而且，由于其结构的原因，希望得到高机械强度(断裂强度或刚度)等，并且开始研究它的使用。根据上述的各种观点研究本专利技术，并且本专利技术目的是提供一种能提高探测可运动体的位置的确定性的位置探测装置。
技术实现思路
本专利技术的另一个目的是提供一种能提高探测指针位置的确定性的时计的指针位置探测装置，和具有这种指针位置探测装置的电子时计。为了达到上述的目的，按照本专利技术，提供了一种位置探测装置，它包括一可运动体和一探针。可运动体由包括导电碳纳米管的导电部分和包括非导电碳纳米管的非导电部分整体成型来构成，探针用来探测可运动体的导电部分和非导电部分中哪一个部分是在被探测的区域内。本专利技术的位置探测装置具有“用来探测可运动体的导电部分和非导电部分中哪一个部分是在被探测区域内的探针，该表达包括通过被探测的区域”，因此，能通过探针探测到可运动体的运动状态。另外，按照本专利技术的位置探测装置，“可运动件的导电部分包括导电碳纳米管，其非导电部分包括非导电碳纳米管”，因此，导电部分和非导电部分实际上能由相同或类似的宏观材料来构成。因此，“可运动体由导电部分和非导电部分整体成型”能被认作基本上在整体上包括相同的材料，因此，比较而言，例如，在将导电金属粉和类似物仅仅分散到导电部分的情况下，在整体成型中，导电部分和非导电部分能可靠地形成一整体或接合。而且，宏观而言，碳纳米管能采用例如精细粉末的模式，因此，当碳纳米管分散到树脂或类似物中时，碳纳米管可以均匀地分布，在每个导电部分和非导电部分，就能容易地实现基本上均匀和对等的组成。结果，在可运动体中，就能容易地实现导电部分和非导电部分的可靠的整体性。因此，很难引起在导电部分和非导电部分的相对位置间的错移的现象，并且导电部分和非导电部分的位置的探测就能在可运动体的位置探测中有高的确定性。而且，能尽可能地确保导电部分和非导电部分的稳定的整体性，当需要时，碳纳米管可以不均匀地分散在导电部分和非导电部分的至少某个部分中。另外，关于可运动体，“非导电部分”表示“比较导电部分而言其导电性低到可确认的程度”。因此，当导电部分提供金属性能或是导电程度时，非导电部分典型地就是包括所说的具有高的电绝缘性能的绝缘体，但是，在这种情况下，非导电部分可以是半导体(典型地，是指半导体的导电性能和导电程度)。此外，当非导电部分包括彼此相互远离的多个区域时，所有的区域可包括类似的结构，或是一个或多个区域可包括彼此不同的结构。同时，当非导电部分是半导体的设置时，非导电部分典型地可以包括绝缘体。而且，相对于导电性而言能确定导电程度彼此不同的两个部分即可，在这种情况下，两个部分可以是提供导电性的情况，通常是金属的导电性，或者可提供非导电性(绝缘性能)的情况，通常是电绝缘性能，或者两个部分是通常为具有半导体性能的情况。而且，当导电部分是由多个彼此远离的区域构成的情况时，所有的区域可以是结构基本上类似的情况，或者单一或多个区域可以是彼此结构不同的情况。尽管导电部分和非导电部分可以在可运动体内以任意方式分布，只要导电部分和非导电部分能由探针确定出来，但是，典型地，导电部分包括这样的表面部分，即构成能设置在探针的相对侧的可运动体的表面的一部分，而非导电部分包括这样的表面部分，即能构成设置在探针的相对侧的可运动体的表面的一部分。此外，按照本专利技术的位置探测装置，“可运动体的导电部分和非导电部分是整体设置的”，因此，探针可以是任意探测元件，只要探针能探测到可运动体的导电部分和非导电部分现在是否在探测区域内。即是说，只要能确认导电部分和非导电部分，位置探测装置可以是通过使得探针的前端或类似端与可运动体的表面形成接触而确认导电部分和非导电部分的类型(接触类型)，或者也可以是用探针的前端或类似端在可运动体的相对的区域(探测区域)，由探针用其间的间隙来确认导电部分和非导电部分的类型(非接触类型)，而且，关于探测的双向操作和规则可以是任意的电子的、光学的、电磁的或者磁的类型和系统。此外，对于探针，“探测可运动体的导电部分和非导电部分的某一个部分现在是否在被探测的区域内”的构成，是不限于探测“存在”或“存在与非存在”的结构的，即是说，在被探测区域中导电部分或非导电部分的“存在或不存在”还包括这样的结构，即探测导电部分和非导电部分是否通过被探测的区域。在后一种情况中，可以构造成这样的结构，即探测导电部分或非导电部分从被探测区域外进入被探测区域内，或者探测导电部分或非导电部分是正通过被探测的区域，或者探测导电部分或非导电部分从被探测区域内出来到被探测区域外，或者是探测导电部分或非导电部分从被探测区域外进入到被探测区域内然后出来到被探测区域的外侧。此外，尽管探针可以典型地是探测“导电部分”是否在被探测区域的类型，除了“导电部分”探针还可以探测“非导电部分”是否在被探测区域内的类型。此外，尽管包括在导电部分中的碳纳米管大多是典型地包括导电碳纳米管，只要导电部分的导电性足够高于非导电部分的导电性，包括在导电部分的碳纳米管的一部分或相应的部分就可以是相对的非导电部分。尽管相应部分的比率典型地是等于或小于，例如50％，在这种情况下，比率也可以是超过50％。此外，包括在导电部分里的基本上全部的碳纳米管可以是导电碳纳米管。此外，导电区域同时可以与碳纳米管外的物质相混或混合。类似地，尽管包括在非导电部分的碳纳米管的大部分典型地包括非导电碳纳米管，但是只要非导电部分的导电性足够低于导电部分的导电性，包括在非导电部分的碳纳米管的一部分或相应部分就可以是相对导电的。尽管相应部分的比率典型地是等于或小于大约50％，在这种情况下，比率可以超过50％。此外，包括在非导电部分里的基本上全部的碳纳米管可以是非导电碳纳米管。此外，非导电区域同时可以与碳纳米管外的物质相混或混合。关于碳纳米管，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种位置探测装置，包括：一由包括导电碳纳米管的导电部分和包括非导电碳纳米管的非导电部分整体成型来构成的可运动体；以及一用来探测可运动体的导电部分和非导电部分的任一部分的探针是在被探测的区域内。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：增田重行，长谷川贵则，
申请(专利权)人：精工电子有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]