用于液晶显示装置的基板和液晶显示装置的制造方法制造方法及图纸

一种用于液晶显示装置的具有阵列测试系统的基板。该基板包括多个阵列单元，每个阵列单元包含显示区，围绕显示区的非显示区，以及邻近非显示区的第一侧和第二侧设置的焊盘区。该基板还包括设置在多个阵列单元外侧的多个测试焊盘，以及分别把相应的一个阵列单元与相应的一个测试焊盘连接的多个测试线。这里，每个测试线部分地穿过与相应的一个阵列单元相邻的阵列单元的非显示区。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用在液晶显示装置中的阵列基板，更具体地，涉及具有多个单元的阵列基板以及嵌入其上的阵列测试系统。
技术介绍
液晶显示装置利用液晶分子的光学各向异性和极化特性来产生图像。由于液晶分子具有细长形状而具有确定的排列取向。排列取向可由施加的电场控制。因此，通过改变所施加的电场可以改变液晶分子的排列。由于液晶分子的光学各向异性，入射光的折射依赖于排列的液晶分子的取向。因此，通过控制施加到液晶分子上的电场，液晶显示装置可以产生图像。液晶显示(LCD)装置由于其轻薄的设计和低功耗的特性而广泛地用于办公自动化(OA)和视频设备中。在不同类型的LCD装置中，具有以矩阵形式布置的薄膜晶体管和像素电极的有源矩阵LCD(AM-LCD)提供了高分辨率和显示运动图像的优越性。典型的LCD板具有上基板、下基板和置于两者之间的液晶材料。通常称作滤色器基板的上基板包括公共电极和滤色器。通常称作阵列基板的下基板包括开关元件(例如薄膜晶体管(TFT))和像素电极。如上所述，LCD装置的工作的基本原理是，液晶分子的排列方向由施加在公共电极和像素电极之间的电场决定。因此，液晶分子作为一个具有根据所加电场的极性而变化的光学特性的光学调制元件。当制造液晶板时，预先制造第一基板(即，下基板或阵列基板)和第二基板(即，上基板或滤色器基板)，然后把二者相互对准并粘结在一起。随后，把液晶材料置于第一和第二基板之间。然后，粘合的基板被分为多个液晶单元。第一基板的制造工艺包括许多用来形成绝缘层、半导体层和导电层的薄膜淀积工艺，以及许多用来形成需要的层图形的蚀刻和/或构图工艺，从而形成多个薄膜晶体管、像素和其它层元件。在制造第一基板时，每个都包括多个薄膜晶体管和阵列元件的多个阵列单元形成在一个大基板上，以减少制造工艺步骤。以这种方式，每个对应于每个阵列单元的多个滤色器单元形成在一个用作液晶显示板的第二基板的大基板上。分别具有多个阵列单元和滤色器单元的这两个大基板被彼此粘结，之间插入液晶层，从而形成液晶显示板。随后，把粘结的液晶板切割并划分为多个液晶单元。在粘结两个大基板之前，第一大基板(阵列基板)由一个阵列测试系统进行测试，以分析该大阵列基板是否存在任何缺陷。第一大基板通常称作阵列测试基板，是因为该基板有许多具有多个测试焊盘和测试线的用于阵列测试的阵列单元。图1是根据相关技术的具有多个阵列单元的阵列测试基板的平面图。图2是图1的阵列单元及其相邻的阵列单元的放大的平面图。如上所述，用于阵列测试的阵列基板包括多个阵列单元10。每个阵列单元10具有划分的显示区20、非显示区30和焊盘区40。显示区20包括多个每个具有薄膜晶体管T的像素P，以显示图像。非显示区30布置在显示区20的周围。紧邻非显示区30的下侧和左侧布置焊盘区40。如图2所示，在显示区20中，多个选通线(gate line)22和多个数据线26分别按列和行方向布置在基板上。选通线22与数据线26垂直交叉，从而以矩阵的形式限定像素P。对应于每个像素P布置像素电极59，薄膜晶体管T布置在靠近选通线和数据线22和26的交叉点的像素P的角上。每个薄膜晶体管T包括从选通线22伸出的栅电极(未示出)、从数据线26伸出的源电极(未示出)以及连接像素电极59的漏电极(未示出)。非显示区30是放置密封图形以将滤色器基板粘结到阵列基板的区域。因为非显示区30不包括任何像素P，所以当阵列单元10用在液晶显示板中时非显示区30将不能显示图像。多个选通焊盘24和多个数据焊盘28设置在焊盘区40中。多个选通焊盘24分别与多个选通线22相连，并设置在焊盘区40的下部。以同样的方式，多个数据焊盘28分别与多个数据线26相连，并设置在焊盘区40的左侧。由此，焊盘区40分为放置选通焊盘24的选通焊盘区42和放置数据焊盘28的数据焊盘区44。选通焊盘24和数据焊盘28作为将选通线22和数据线26电连接到外部驱动电路的连接端。仍然参考图1和2，阵列基板包括多个阵列单元10和分别对应于每个阵列单元10的多个测试焊盘50。阵列基板还包括分别把测试焊盘50连接到相应阵列单元10的测试线60。测试焊盘50作为在阵列测试期间从阵列测试装置接收信号的输入端。在图1中，测试焊盘50通常设置在大阵列基板周围的上部外围和下部外围。测试线60将测试焊盘50连接到相应阵列单元10的选通焊盘24和数据焊盘28上，从而测试线60在测试焊盘50和阵列单元10之间具有一对一的连接。每个测试焊盘50包括至少一个与阵列单元10的选通焊盘24相连的选通测试焊盘52，以及至少一个与数据焊盘28相连的数据测试焊盘54。以这种方式，测试线60被分为将多个选通焊盘24连接到选通测试焊盘52的选通测试线62和将多个数据焊盘28连接到数据测试焊盘54的数据测试线64。这些测试焊盘50和测试线60可以在同一个工艺步骤中与选通线22和/或数据线26一起形成。阵列测试装置通过将第一和第二电压分别施加到选通测试焊盘52和数据测试焊盘54来检查上述阵列基板。由此，当像素电极59在像素P中产生电场并且电场被转换为光信号时，阵列测试装置感测并分析光信号，并确定每个像素P是否有缺陷以及选通线22和数据线26是否开路或断开。在用阵列测试装置测试阵列基板时，通过选通测试焊盘52施加到选通线22的第一电压成为使薄膜晶体管T导通或关断的ON/OFF电压。通过数据测试焊盘54施加到数据线26的第二电压成为决定液晶分子旋转度的标准电压。同时，在阵列测试之后，沿图2所示的切割线S-S’将阵列基板切割并分为阵列单元10。这时，通过沿着图2的线S-S’的切割还将测试焊盘50和测试线60去掉。实际上，测试焊盘50和测试线60只用于阵列测试，没有其它作用。因此，必须去掉这些测试焊盘50和测试线60。即，当划线工艺(scribing process)将大阵列基板切割为用来制造液晶显示板的各阵列单元10时，从阵列单元10切掉了测试焊盘50和测试线60。为了划线和切割阵列基板并划分为多个阵列单元10，多个阵列单元10彼此间隔开，并将相应的测试线60放在两个阵列单元10之间的空间。即，阵列单元10按上下和左右方向设置在大阵列基板上，测试线60设置在排成行的阵列单元10之间的空间L1中。空间L1可以称作用于放置测试线60的测试线区。此外，如图2所示，选通焊盘区42通常设置在每个阵列单元10的下部，数据焊盘区44设置在每个阵列单元10的左侧。图2示出了形成单个阵列单元10的划线工艺。这里，第一切割线S1-S1’对应于焊盘区40的左外侧线，第二切割线S2-S2’对应于非显示区30的右外侧线，第三切割线S3-S3’对应于非显示区30的上外侧线，第四切割线S4-S4’对应于焊盘区40的下外侧线。由此，因为沿线S-S’切割阵列基板，所以从阵列单元10中去掉了测试焊盘50和测试线60。但是，与图2的阵列基板类似的设计具有一些缺点。由于空间L1在水平布置的阵列单元10之间，并且在这些空间L1中放置仅用于阵列测试的测试线60，所以各个阵列单元10由空间L1间隔开。即，没有有效地组织在阵列基板上的阵列单元10。
技术实现思路
因此，本专利技术涉及用于LCD装置的阵列基本，其能够基本消除由于相关技术的限制或缺点所带来的一个或多个问题。本发本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于液晶显示装置的具有阵列测试系统的基板，包括：　　　　多个阵列单元，每个阵列单元包括显示区、围绕显示区的非显示区以及邻近非显示区的第一侧和第二侧设置的焊盘区；　　　　多个测试焊盘，设置在多个阵列单元的外侧；以及　　　　多个测试线，分别把相应的一个阵列单元与相应的一个测试焊盘连接，每个测试线部分地穿过与对应的一个阵列单元相邻的阵列单元的非显示区。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：李树雄，李昌勋，
申请(专利权)人：LG飞利浦LCD有限公司，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]