带监测器的可调式光衰减器制造技术

本实用新型专利技术是关于光通讯器件，尤其涉及带监测器的可调式光衰减器，该带监测器的可调式光衰减器包括准直器和光可调衰减器芯片，还包括一光电探测器，接收从光可调衰减器芯片出射的小部分光束进行监测。采用上述方案后，由于本实用新型专利技术利用光电探测器接受监测该器件的衰减变化，从而达到实时监测，反馈的功效，进一步确保其衰减性能。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

带监测器的可调式光衰减器
本技术涉及一种光纤通讯光器件，特别涉及一种带有监测器 的可调式光衰减器。
技术介绍
在MEMS制成的衰减器，其中两种常用方案常被波长相关损耗 值较大所罔扰。第一种方案为它包括两准直器，MEMS推动的遮光 片，由于不同波长模场直径不一样，这样遮光式衰减器容易产生波长 相关损耗值较大特点。第二种方案为双光纤头、透镜，可转动的 MEMS的反射镜；从双光纤头出射光通过透镜准值成平行光，反射镜 转动方向，使光的插损变化，这里同样的问题亦是波长相关损耗较大。通常第二种方案如图l所示主要有光纤插头101包括光纤1011、 1012,透镜103和反射镜104组成；通过转动反射镜104,而改变反 射进入光纤1012的光束损耗。然而上述方案仅仅实现VOA的衰减功能，但是对于其衰减的性 能并不能进行监测，这样使其性能可靠性不能保证。
技术实现思路
本技术的目的在提供一种利用监测器探测到可调式光衰减 器的衰减变化，达到实时监测、反馈的可调光衰减器。为了实现上述目的，本技术带监测器的可调式光衰减器，包 括准直器和光可调衰减器芯片，还包括一光电探测器，接收从光可调 衰减器芯片出射的小部分光束进行监测。所述准直器包括光纤插针和透镜。所述的光纤插针为两个单光纤插针。 所述的光纤插针为一个双光纤插针。 所述光电探测器可为光电二极管。采用上述方案后，由于本技术利用光电探测器接受监测该器 件的衰减变化，从而达到实时监测，反馈的功效，进一步确保其衰减性能。以下结合附图和实施例对本技术进 一 步说明。 图l是现有技术光可调衰减器的结构原理图。图2是本技术的第一实施例的结构示意图。 图3是本技术的第二实施例的结构示意图。 图4是本技术的第三实施例的结构示意图。 图5是本技术的第四实施例的结构示意图。 图6是本技术的第五实施例的结构示意图。具体实施方式本技术的
技术实现思路
、特征与达成效果，配合以下参考图与对 应的较佳实施例详细说明，将可被清楚显现。图2是本技术的第一实施例的结构示意图。本技术带监 测器的可调式光衰减器，包含准直器ll，其中所述准直器ll包括透 镜111以及光纤插针112、 一光可调衰减器芯片12介于所述透镜111 与光纤插针112之间，所述透镜lll的前端包括一光滤光片13，用于 分光，部分光束借由上述光滤光片13投射，由光电探测器14接受。其光路为从光纤插针112的第一光纤1121入射的光束通过光可调衰减器芯片12对入射的光束进行衰减，后借由透镜lll聚焦于光滤光片13,大部分光束通过上述光滤光片13反射经过准直器11 出射光经由光纤插针112的第二光纤1122出射；上述小部分光束通过上述光滤光片13透射到光电探测器14上，这样，当光可调衰减器 芯片12工作时，光电探测器14能探测到光可调衰减器的衰减变化， 达到实时监测、反馈。上述所述光电4笨测器14可为光电二极管。本技术的第二个实施例。如图3所示包含准直器21,其 中所述准直器21包括透镜211以及第一光纤插针212、以及第二光 纤插针213， 一光可调衰减器芯片22介于所述透镜211与第一光纤 插针212、第二光纤插针213之间，所述透镜211的前端包括一光滤 光片23,用于分光，部分光束借由上述光滤光片23投射，由光电探 测器24接受。其光路为从第一光纤插针212的第一光纤2121入射的光束通 过光可调衰减器芯片22对入射的光束进行衰减，后借由透镜2U聚 焦于光滤光片23，大部分光束通过上述光滤光片23反射经过准直器 21出射光经由第二光纤插针213的第二光纤2131出射；上述小部分 光束通过上述光滤光片23透射到光电探测器24上，这样，当光可调 衰减器芯片22工作时，光电探测器24能探测到光可调衰减器的衰减 变化，达到实时监测、反馈。上述所述光电探测器24可为光电二极管。本技术的第三个实施例，如图4所示包含准直器11,其 中所述准直器11包括透镜111以及光纤插针112、所述透镜111的前 端包括一光滤光片13, —光可调衰减器芯片12介于所述透镜111与 光滤光片13之间，所述光滤光片13用于分光，部分光束借由上述光 滤光片13投射，由光电探测器14接受。其光路为从光纤插针112的第一光纤1121入射的光束通过透 镜111后，借由光可调衰减器芯片12对入射的光束进行衰减，后聚 焦于光滤光片13,大部分光束通过上述光滤光片13反射经过准直器 11出射光经由光纤插针112的第二光纤1122出射；上述小部分光束 通过上述光滤光片13透射到光电探测器14上，这样，当光可调衰减 器芯片12工作时，光电探测器14能探测到光可调衰减器的衰减变化， 达到实时监测、反馈。上述所述光电探测器14可为光电二极管。本技术的第四个实施例，如图5所示包含准直器11,其 中所述准直器11包括透镜111以及光纤插针112、所述透镜111的前 端包括一可旋转的光滤光片13,所述光滤光片13用于分光，部分光 束借由上述光滤光片13投射，由光电探测器14接受。其光路为从光纤插针112的第一光纤1121入射的光束通过透 镜lll后，通过旋转光滤光片13对反射光束进行衰减，大部分光束 通过上述光滤光片13反射经过准直器11出射光经由光纤插针112的 第二光纤1122出射；上述小部分光束通过上述光滤光片13透射到光 电探测器14上，这样，光电探测器14能探测到通过旋转滤光片13 的衰减变化，达到实时监测、反馈。上述所述光电探测器14可为光电二极管。图6是本技术的第五实施例的结构示意图。如图6所示本 技术带监测器的可调式光衰减器，包含准直器11,其中所述准 直器11包括透镜111以及光纤插针112、 一光可调衰减器芯片12位 于透镜lll之后，用于分光，部分光束借由上述光可调衰减器芯片12 透射，由光电探测器14接受。其光路为从光纤插针112的第一光纤1121入射的光束通过透 镜lll聚焦，后经过光可调衰减器芯片12对入射的光束进行衰减，大部分光束通过上述光可调衰减器芯片12反射经过准直器11出射光 经由光纤插针112的第二光纤1122出射；上述小部分光束通过上述 光可调衰减器芯片12透射到光电探测器14上，这样，当光可调衰减器芯片12工作时，光电探测器14能探测到光可调衰减器的衰减变化， 达到实时监测、反馈。上述所述光电探测器14可为光电二极管。由此可见，采用上述方案后，由于本技术借由光电探测器接 受监测该器件的衰减变化，从而达到实时监测，反馈的功效，进一步 确保其衰减性能。以上所述者，仅为本技术最佳实施例而已，并非用于限制本 技术的范围，凡依本技术申请专利范围所作的等效变化或修 饰，皆为本技术所涵盖。权利要求1.带监测器的可调式光衰减器，包括准直器和光可调衰减器芯片，其特征在于还包括一光电探测器，接收从光可调衰减器芯片出射的小部分光束进行监测。2. 如权利要求1所述带监测器的可调式光衰减器，其特征在于所述 准直器包括光纤插针和透镜。3. 如权利要求2所述带监测器的可调式光衰减器，其特征在于所述 的光纤插针为两个单光纤插针。4. 如权利要求2所述带监测器的可调式光衰减器，其特征在于本文档来自技高网...

【技术保护点】
带监测器的可调式光衰减器，包括准直器和光可调衰减器芯片，其特征在于：还包括一光电探测器，接收从光可调衰减器芯片出射的小部分光束进行监测。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王则钦，谢红，
申请(专利权)人：昂纳信息技术深圳有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]