【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光电子学中光子晶体材料的制造工艺,进一步说是以SiO2、TiO2薄膜交替生长制备一维紫外到可见光波段光子晶体材料的制备方法。应用背景一维光子晶体是介质只在一个方向上呈周期性排列的结构,其光子禁带的表现形式就是对位于禁带内的入射电磁波,无论是偏振状态还是入射角度都可以实现全部反射(J.D.Joannopoulos,R.D.Meade,and J.N.Winn,Photonic CrystalsMolding the Flow of Light(Princeton Univ.Press,NJ),1995)。根据一维光子晶体理论可以设计出许多器件如全角度反射镜(J.N.Winn,Y.Fink,S.Fan,″Omnidirectional reflection from a one-dimensional photonic crystal″,Opt.Lett.,vol.23,p.1573,1998)。光子禁带位于紫外到可见光波段的一维光子晶体在许多领域,例如微电子光刻工艺、紫外到可见光波段振荡器、紫外波长激光器(目前激光器研究热点之一)、眼睛激光防护器 ...
【技术保护点】
一种一维紫外到可见光波段光子晶体材料的,其特征在于在一石英片上交替生长SiO↓[2]、TiO↓[2]薄膜,形成TiO↓[2]/SiO↓[2]/TiO↓[2]/SiO↓[2]……TiO↓[2]/SiO↓[2]/石英衬底结构的一维光子晶体,其中TiO↓[2]和SiO↓[2]薄膜层数各为5-10层,厚度为10nm-96nm,光子带隙位于7.9nm-758.4nm。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:宋志棠,汪扬,林成鲁,封松林,
申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所,
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。