【技术实现步骤摘要】
一种可控制焊接材料厚度的芯片封装结构
本技术涉及半导体焊接封装
,尤其涉及一种可控制焊接材料厚度的芯片封装结构。
技术介绍
引线框架是集成电路的芯片载体。在半导体芯片封装结构中,芯片一般通过焊接结合材料焊接(粘贴)于引线框架,芯片焊接于引线框架的方法包括金属合金焊接法(或称低熔点焊接法)和树脂粘贴法。现有的芯片封装结构中,如图1所示,在芯片20焊接于引线框架10的过程中,焊接材料30在固化之前具有流动性,容易导致固化后的焊接材料30厚度不均,从而导致芯片20倾斜角度过大;另外,还容易导致焊接材料的厚度无法达到预设厚度,从而导致芯片与引线框架之间的间距不达标,如此,会影响后续的金属线焊线及芯片封装。
技术实现思路
本技术实施例的目的在于:提供一种可控制焊接材料厚度的芯片封装结构,其可避免芯片倾斜,可保证焊接结合材层厚度达标。为达上述目的,本技术采用以下技术方案:一种可控制焊接材料厚度的芯片封装结构,包括引线框架、芯片和焊接材料;还包括支撑围挡,所述支撑围挡为首尾相接的框形围挡;所述 ...
【技术保护点】
1.一种可控制焊接材料厚度的芯片封装结构,包括引线框架(10)、芯片(20)和焊接材料(30),其特征在于,/n还包括支撑围挡(40),所述支撑围挡(40)为首尾相接的框形围挡;所述支撑围挡(40)的两侧分别抵接所述芯片(20)和所述引线框架(10);所述焊接材料(30)填充于所述芯片(20)与所述引线框架(10)之间,以用于将所述芯片(20)粘结于所述引线框架(10)。/n
【技术特征摘要】
1.一种可控制焊接材料厚度的芯片封装结构,包括引线框架(10)、芯片(20)和焊接材料(30),其特征在于,
还包括支撑围挡(40),所述支撑围挡(40)为首尾相接的框形围挡;所述支撑围挡(40)的两侧分别抵接所述芯片(20)和所述引线框架(10);所述焊接材料(30)填充于所述芯片(20)与所述引线框架(10)之间,以用于将所述芯片(20)粘结于所述引线框架(10)。
2.根据权利要求1所述的可控制焊接材料厚度的芯片封装结构,其特征在于,所述支撑围挡(40)为等厚度的围挡;所述芯片(20)的底面与所述引线框架(10)的顶面平行。
3.根据权利要求1所述的可控制焊接材料厚度的芯片封装结构,其特征在于,在所述芯片封装结构的厚度方向上,所述支撑围挡的投影位于所述芯片的投影内。
4.根据权利要求3所述的可控制焊接材料厚度的芯片封装结构,其特征在于,所述支撑围挡(40)的外侧边围合形成的区域的面积为围挡面积,所述围挡面积小于所述芯片(20)的面积。
5.根据权利要求4所述的可控制焊接材料厚度的芯...
【专利技术属性】
技术研发人员:唐名峰,官名浩,
申请(专利权)人:杰群电子科技东莞有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
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