X射线检测器及X射线检测器的制造方法技术

在具有设置在单位像素上的将Ｘ射线变换成光的闪烁层３８、将在闪烁层３８上变换成的光作为电荷贮存的贮存用电容器１５、及将相邻单位像素的闪烁层３８间分割的隔壁层３９的Ｘ射线检测器中，闪烁层３８含荧光材料Ｉ，隔壁层含光学特性和荧光材料ＩＰ１不同的第二种荧光体Ｐ２，而且第二种荧光体Ｐ２发出的荧光波长具有和荧光材料ＩＰ１发出的最短的荧光波长相等或比其长的成分。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及X射线检测用的X射线检测器及其制造方法。
技术介绍
近些年，作为新一代诊断用X射线检测器，人们都将注意力集中到采用有源矩阵的平面型X射线检测器。平面型X射线检测器的构成是将X射线摄得的X射线图像或实时的X射线透视图像作为数字信号输出。由于平面型X射线检测器为固体检测器，所以，在提高图像质量和稳定性上人们均寄予厚望。平面型X射线检测器已经开发并商品化的有以较大的辐射剂量采集静止图像的一般摄影用或胸透摄影用的检测器。另外，因还能根据透视剂量检测每秒30幅画面以上的实时X射线动态画面，故可以估计在不远的将来，也将作为商品应用于循环系统及消化器官等诊断领域。对于这种动态画面用的X射线检测器的付诸实用，还要进一步改进S/N、或微小信号的实时处理技术。平面型X射线检测器大致可分成直接方式和间接方式两种。直接方式是一种采用a-Se等光电导膜将X射线直接变换成电荷、并变换后的电荷贮存在电荷贮存用电容器中的方式。这种方式中，图像分辨率特性基本上由象素间距而定。而间接方式是一种在闪烁层将X射线变换成可见光并用a-Si光电二极管或CCD等光电变换元件将变换后的可见光变换成电荷、贮存在电荷本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种Ｘ射线检测器，包括单位像素的光电变换单元、在所述光电变换单元的各像素上形成的闪烁像素、及所述闪烁像素间的隔壁，其特征在于，所述隔壁含有光学特性与所述闪烁像素内含的荧光材料Ⅰ不同、而且具有与所述荧光材料Ⅰ的最短荧光波长相等或比其长的最长荧光波长的荧光材料Ⅱ。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：本间克久，会田博之，伊藤健一，藤泽晶子，鬼桥浩志，
申请(专利权)人：株式会社东芝，
类型：发明
国别省市：JP[日本]