CT中的多阵列检测系统技术方案

一种辐射检测系统，包括：多个光电检测器阵列（１１０），每个光电检测器阵列均包括多个基本共面的光电检测器元件（１０８）；闪烁器（１０２），该闪烁器的至少一部分与每个光电检测器元件关联；以及连接每个光电检测器元件和与其关联的闪烁器的部分的光导（１０６）；其中与在每个光电检测器阵列中的光电检测器元件关联的闪烁器的部分的表面包括基本共面的表面，其平面与所述光电检测器元件的平面不平行。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于成像应用的固态检测系统领域，所述成像应用包括其中使用了多个阵列检测器的X射线计算机断层成像和其它的成像模态。
技术介绍
在计算机断层成像(CT)中典型的固态检测系统由通常以二维方式覆盖在扫描对象下的大面积的多个检测元件组成。每个元件是例如使用光耦合粘合剂安装在硅光电二极管段上的闪烁器晶体。检测元件将瞬时衰减的X射线束转换为一组相应的电输出，使用该电输出来重构扫描对象的衰减图像。在多阵列检测系统中，闪烁器和光电二极管的有效区被划分为在物理上彼此对准并且在尺寸和有效面积上类似的多个小段。每个光电二极管段通过导线连接到信号处理电路。在扩展检测区并同时保持分段尺寸时，这种检测元件的数量就会增加。在当前的二极管衬底设计中，这产生了“不动产”问题。对可用于嵌入导线而不损害X射线效用的自由(非有效的)区域存在限制。例如，如果导线宽度加上在每个检测器元件的导线间的最小间隔是0.025mm，并且在每线16个元件的16线检测器阵列中的所有元件的导线形成了16层，每层由16根导线形成，这些导线穿过通道到达阵列的一侧，那么该通道必须至少是0.4mm宽。对于具有亚毫米分辨率的阵列，通道表本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种辐射检测系统，包括：多个光电检测器阵列，每个光电检测器阵列均包括多个基本共面的光电检测器元件；闪烁器，该闪烁器的至少一部分与每个光电检测器元件关联；以及光导，连接每个光电检测器元件和与其关联的闪烁器的部分；　 　其中，与在每个光电检测器阵列中的光电检测器元件关联的闪烁器的部分的表面包括基本共面的表面，其平面与所述光电检测器元件的平面不平行。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：O扎哈维，S勒维内，E达夫恩，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]